本发明专利技术的目的在于提供检测每个反应容器的空白值、且能够谋求缩短分析所消耗的时间的自动分析装置。本发明专利技术是自动分析装置具备：容纳试样及试剂的反应容器、清洗上述反应容器的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于，具有将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较的比较功能。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动分析装置，尤其涉及进行反应容器的清洗和4企测反应容器 的空白值的自动分析装置。
技术介绍
以往，在自动分析装置中，在自动分析装置从待机状态开始进行分析时， 通常在开始分析之前利用水、清洗剂等清洗用于分析的反应容器，并且在清洗 后向容器中分注水等溶液后检测该反应容器的吸光度，并将该吸光度用作反应 容器的空白值，由此来修正利用该反应容器检测的检测值。但是由于上述自动分析装置在开始检测之前必须进行反应容器的清洗和 反应容器的空白值的检测，因此从装置开始动作到实际开始分析为止产生时间 差，因此在检测紧急被检体等使用者迅速需要检测结果时，不能够及时得到检测结果。因此，在公报第2537572号中，通过修正空白值来使用，以缩短紧急 检查时的至分析开始为止的时间。专利文献1特开第2537572号专利公报但是在以往的技术中，将某个特定的反应容器的空白值的变化程度适用于 其他所有的反应容器。因此例如在发生自动分析装置在分析的过程中停止、一 部分反应容器没有清洗等情况时，反应容器中会残留污迹，空白值的变化程度 有可能与作为基准的反应容器不同。因此，在缩短分析所消耗的时间时，还需考虑求出每个用于分析的反应容 器的空白值。
技术实现思路
本专利技术是针对上述课题而实施的，其目的在于提供检测每个反应容器的空 白值、且能够谋求缩短分析所消耗的时间的自动分析装置。本专利技术是自动分析装置，具备容纳试样及试剂的反应容器、进行上述反 应容器的清洗的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于，具有比较功能，该比较功能将初次进行的初次装置调 试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置 调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值 进行比较。根据本专利技术，通过将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光才企 查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中 在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较，可以检测每个容器的 空白值，并且可以谋求分析所消耗的时间的缩短。 附图说明图l是关于本专利技术实施例的、自动分析装置的示意图。图2是关于本专利技术实施例的、包括反应盘的相关部分的放大图。图3是关于本专利技术实施例的、表示初次装置调试运行的流程图。 图4是关于本专利技术实施例的、表示工作试运行的流程图。 图5是关于本专利技术实施例的其他实施例的流程图。 符号说明101反应容器 102清洗机构103、 111搅拌机构104、 105试剂吸移机构 106、 107试剂盘108电解质才佥测部109托运机构110电解质用吸移^L构112标准液用试剂容器113稀释液用试剂容器114比较电极液用试剂容器115试样盘116试样吸移机构117多波长光度计 118接口119控制部120输入部121信息存储部122显示部123分析部124控制部125反应盘301试样分注位置303搅拌位置 具体实施例方式下面利用附图说明本专利技术的实施例。图1和图2表示适用了本专利技术的自动分析装置的实施例。首先，自动分析装置的整体由分析部123和控制机构部124构成。分析部123具有保持多个试样容器并移动、以使各试样容器处于试样吸 引位置的作为试样移动装置的试样盘115，保持对应于分析项目的多个试剂容 器并移动、以使各试剂容器处于试剂吸引位置的作为试剂移动装置的试剂盘 106、 107,以及用于使试样与试剂发生反应的反应容器101。此外，分析部123具有多个反应容器101配置成环状、起反应线作用的 反应盘125，具备用于向反应容器101分注试样的试样分注头的试样吸移机构 116，用于将试剂分注到反应容器101中的试剂吸移4M勾104、 105，对分注的 试样和试剂进行搅拌混合的搅拌机构103。此外，分析部123具有电解质检测部108,托运机构109，电解质用吸 移机构110，标准液用试剂容器112,稀释液用试剂容器113,比较电极液用 试剂容器114。此外，分析部123具有检测反应容器101中的反应液的吸光度的多波长 光度计117,用于清洗反应容器101的、沿着反应盘125设置的清洗机构102。对上述各机构系统的动作进行控制并对图象显示进行控制的控制机构部 119具有接口 118,控制部119,输入部120，信息存储部121,显示部122。反应盘125被控制机构部119控制，使得在每一个周期，反应容器列以规 定的反应容器数重复进行旋转、停止的动作。多波长光度计117在应检测的波 长位置具有多个检测器，在反应盘125处于旋转状态时检测透过反应容器内装 物的光。通过该透过光的检测来进行在反应容器内反应的试样的测光检查和空 白值的检测等。下面说明 一般的自动分析装置中的比色分析检测时的试样分析动作。若按下位于接口 118的分析操作开始用的开始开关，就通过反应容器清洗 机构102开始清洗反应容器101，进而注入空白水，进行空白值的检测。此水 空白检测值成为以后用反应容器101进行检测的吸光度的基准。若已清洗的反应容器通过反应盘125的一个周期的动作即移动一定距离 后暂时停止的动作的重复，到达试样分注位置301,则试样容器就移动到试样 分注位置。同时，两个试剂盘106、 107进行移动，使对应的分析项目的试剂 位于试剂吸入位置。接着，试样吸移机构116动作，从试样容器吸引试样，之后，将规定量的 样品吐到反应容器IOI中。另一方面，试剂吸移机构104开始动作，吸引设置 在试剂盘106上的试剂。接着，该试剂吸移机构104移动至反应盘125上的相应的反应容器101, 吐出吸引并保持的规定量的试剂后，用清洗机构(未图示)清洗试剂吸移机构 104，用于下一次试剂分注。在利用试剂吸移机构104进行试剂分注之后用多 波长光度计开始进4于;险测。测光检查是在反应盘125的旋转中反应容器101横切光束时进行的。添加 试剂后，反应容器101移动至搅拌位置303，搅拌机构103动作，搅拌试样和 试剂。接着，利用试剂吸移机构105将试剂添加到反应容器101中，之后利用搅 拌机构111搅拌混合液。通过反应盘125的旋转动作，反应容器101不断地横 切光束，每次横切光束时，检测每个反应液的吸光度。检测结束的反应容器 101被反应容器清洗机构102清洗，用于下一次样品的检测。通过测光检查的吸光度换算出浓度或酵素活性值，并利用显示部122显示 分析结果。6此外，控制机构部124由控制部119、输入信息的输入部120、存储信息 的信息存储部121、和显示检测数据的显示部122构成，并通过接口118对比 色的分析部和电解质分析部进行控制。下面基于图3、图4所示的本专利技术的实施例的流程图进行说明。首先从图3所示的初次装置调试运行开始说明。在步骤301中，装置电源被接通，成为待机状态(步骤302)。若通过接 口 118按下分析操作开始用的开始开关，则指示开始(步骤303 )，进行复位 动作(步骤304)，从而进行反应容器的清洗(步骤305 )。在反应容器的清洗中，先后进行清洗水的吐出(注水)和清洗水的吸引(排水)。清洗反应容器之后进行空白值1的检测(步骤306 ),通过吸引空白水(步 骤307)来使反应容器内无空白水。将空白值1的检测(步骤本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动分析装置，具备：容纳试样及试剂的反应容器、进行上述反应容器的清洗的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于， 具有比较功能，该比较功能将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：相马邦彦，三村智宪，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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