静电容量检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种不降低检测精度而能够缩短检测所需的时间的静电容量检测装置。其具备：电容器阵列，具有容量彼此不同的多个并联连接的电容器，合成容量会发生变化；检测电容器，串联连接于电容器阵列；开关控制部；检测部，检测根据合成容量和检测电容器的容量而得到的电源的容量分压的电位即中间电位；获取部，获取中间电位与参照电位的大小关系反转的附近的合成容量中的任一个作为第一合成容量和第二合成容量；运算部，基于合成容量分别为第一合成容量和第二合成容量时的中间电位即第一中间电位和第二中间电位运算电容器阵列的推定合成容量；导出部，基于推定合成容量导出检测电容器的容量作为检测容量。

【技术实现步骤摘要】
静电容量检测装置
本专利技术涉及静电容量检测装置。
技术介绍
以往，作为静电容量检测装置，例如已知有专利文献1所记载的结构。该静电容量检测装置具备：基准容量；与该基准容量连接的检测容量(被测定容量)；将基准容量初始化的第一开关；配置于基准容量与检测容量之间的第二开关；将检测容量初始化的第三开关；以及控制电路。控制电路在基于第一开关的操作对基准容量初始化后，进行多次由第二开关的操作和第三开关的操作构成的开关操作，并且获取基准容量与检测容量之间的电位即中间电位，进而导出与中间电位低于参照电位时的开关操作的操作次数对应的检测次数。以下将该检测次数称为计数值。该计数值与检测容量的容量相关，通过计数值的导出对检测容量的容量进行检测。专利文献1：日本专利第4356003号公报专利技术所要解决的课题然而，在专利文献1中，通过计数值的导出对检测容量的容量进行检测。因此，由于与1计数量相当的容量为检测分辨率，所以为了提高检测精度，需要增加开关操作的操作次数。例如开关操作的操作次数为数万次的命令。由此，静电容量检测所需的时间增加。另本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种静电容量检测装置，具备：/n可变容量电容器；/n电极，该电极构成静电容量的检测对象；以及/n控制电路，/n所述控制电路执行操作处理和检测处理，/n所述操作处理为，在经由所述可变容量电容器对所述电极施加电压施加装置的电压时，对所述可变容量电容器的静电容量进行操作以将中间电位控制为参照电位，所述中间电位为所述可变容量电容器与所述电极的连接点的电位，/n所述检测处理为，基于控制为所述参照电位时的所述可变容量电容器的静电容量来检测所述检测对象的静电容量。/n

【技术特征摘要】
20190313 JP 2019-046087;20190730 JP 2019-1393521.一种静电容量检测装置，具备：
可变容量电容器；
电极，该电极构成静电容量的检测对象；以及
控制电路，
所述控制电路执行操作处理和检测处理，
所述操作处理为，在经由所述可变容量电容器对所述电极施加电压施加装置的电压时，对所述可变容量电容器的静电容量进行操作以将中间电位控制为参照电位，所述中间电位为所述可变容量电容器与所述电极的连接点的电位，
所述检测处理为，基于控制为所述参照电位时的所述可变容量电容器的静电容量来检测所述检测对象的静电容量。


2.根据权利要求1所述的静电容量检测装置，其中，
具备差动放大电路，该差动放大电路被输入所述中间电位和所述参照电位，且该差动放大电路输出所述中间电位与所述参照电位的差分所对应的电压信号，
所述检测处理是如下的处理：除了基于控制为所述参照电位时的所述可变容量电容器的静电容量，还基于控制为所述参照电位时的所述差动放大电路的输出值来检测所述检测对象的静电容量。


3.根据权利要求1或2所述的静电容量检测装置，其中，
所述检测处理是如下的处理：基于所述中间电位是隔着所述参照电位的一对值且一对所述中间电位与所述参照电位之差分别为最小时的所述可变容量电容器的静电容量的两个值来检测所述检测对象的静电容量。


4.根据权利要求2所述的静电容量检测装置，其中，
所述检测处理是如下的处理：通过基于所述差动放大电路的输出值来校正上位容量值，从而检测所述检测对象的静电容量，所述上位容量值是根据控制为所述参照电位时的所述可变容量电容器的静电容量和所述参照电位而把握的所述检测对象的静电容量，并且，所述检测处理是如下的处理：即使所述差动放大电路的输出值相同，控制为所述参照电位时的所述可变容量电容器的静电容量较大的情况与较小的情况相比也增大基于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：仓知秀哉，高桥昭，
申请(专利权)人：爱信精机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP