一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统，包括：对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；基于频域反射对故障点通道的检测节点定位发生反射信号的位置，即故障点位置。实现多通道的快速检测与故障诊断定位，根据开关矩阵所构建通道的真实物理连接状态的有效检测，解决间接等效方法产生误报的不确定性问题。

【技术实现步骤摘要】
一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统
本专利技术涉及微波测试
，特别是涉及一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。随着微波半导体器件(集成电路)及其技术的快速发展，微波半导体器件(集成电路)的集成功能与技术特性获得不断提升，表征其相应功能及技术特性的测试参数越来越多，测试规模也越来越大，相应地，为适应这种需求的开关矩阵类产品在微波半导体器件测试中的应用也越来越广泛。应用传统方法，开关矩阵(类)产品构建通道时的内部各开关状态检测以及通道故障判定主要依赖于内部各开关需配置的开关状态选件，通常为指示灯或表示状态的高/低电平，以及基于相应通道散射参数测试的人工判断与拆装调测，存在缺少有效技术手段、调测操作过程繁杂且效率低下等问题，不能适应开关矩阵(类)产品的维护保障以及微波半导体器件(集成电路)多参数、高效率测试的相关应用需求和技术要求，需要创新提出或形成与应用需求相适应的快速检测方法与技术。基于传统方法，开关矩阵(类)产品构建通道时的内部各本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，包括：/n对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；/n对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；/n将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；/n基于频域反射对故障点通道的检测节点定位发生反射信号的位置，即故障点位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，包括：
对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；
对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；
将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；
基于频域反射对故障点通道的检测节点定位发生反射信号的位置，即故障点位置。


2.如权利要求1所述的一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，所述开关矩阵的每个通道包含多个不连续点，即检测节点，待测开关所在通道以及每个通道所包含的检测节点构建为所述测试通道。


3.如权利要求1所述的一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，对检测节点的检测信号根据测试通道矩阵的通道数量进行多路功分。


4.如权利要求3所述的一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，对测试通道的端口进行校准测试，修正检测节点存在反射信号对信号多路功分的影响。


5.如权利要求1所述的一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，在开关矩阵处连接负载，所述负载用于对开关矩阵通道提供无反射或低反射的匹配状态。


6.如权利要求1所述的一种开关矩阵通道故障诊断方法，其特征在于，将测试通道检测节点矩阵与...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭敏，王亚海，朱学波，丁志钊，周辉，王尊峰，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37