【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】异物的检查方法、检查装置、薄膜辊以及薄膜辊的制造方法
本专利技术涉及对卷绕有薄膜的薄膜辊中混入的异物进行检查的方法和装置、薄膜辊及其制造方法。
技术介绍
各种聚合物薄膜等薄膜通常作为薄膜原材料在卷绕于辊的状态下被提供给使用该薄膜的制造商。特别是，在使用宽度比薄膜原材料小的薄膜的情况下，从宽度宽的原材料辊卷出薄膜并进行形成期望的薄膜宽度的分条加工，将分条加工后的薄膜卷绕于辊而形成薄膜辊。在使用分条加工后的薄膜时，从薄膜辊重新卷出薄膜来使用。另外，在使用进行了各种表面处理的薄膜的情况下，从未处理薄膜的原材料卷出薄膜并进行表面处理，并将处理后的薄膜卷绕而形成薄膜辊。在需要进行了表面处理且进行了分条加工的薄膜时，通常将表面处理后的薄膜卷绕成薄膜辊，然后，从该薄膜辊卷出薄膜并进行分条加工，并再次卷绕成薄膜辊。在从经过这样的过程而得到的薄膜辊卷出薄膜来使用的情况下，有时混入到薄膜辊中的微小的异物成为问题。因此，要求对混入到薄膜辊中的异物进行检测。例如，在将从薄膜辊卷出的薄膜用作插入于锂离子二次电池的正极与负极之间的电池分隔薄膜的...
【技术保护点】
1.一种异物的检查方法，该异物混入于薄膜辊中，其中，/n该异物的检查方法包含如下的工序：/n第1异物检测工序，针对卷绕于所述薄膜辊之前的输送中的薄膜，使用光学拍摄部检测所述薄膜上的异物，取得至少包含该异物在所述薄膜上的位置信息A(平面坐标)在内的异物信息；/n在所述第1异物检测工序之后将所述薄膜卷绕于芯上而作为薄膜辊的工序；/n转换工序，将所述位置信息A(平面坐标)中的所述异物的位置转换为卷绕后的所述薄膜辊上的位置信息B(空间坐标)中的位置信息；以及/n第2异物检测工序，针对所述薄膜辊使用放射线拍摄部，根据该异物的位置信息B(空间坐标)进行放射线拍摄部的对焦，以使拍摄焦点对...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180315 JP 2018-0479221.一种异物的检查方法，该异物混入于薄膜辊中，其中，
该异物的检查方法包含如下的工序：
第1异物检测工序，针对卷绕于所述薄膜辊之前的输送中的薄膜，使用光学拍摄部检测所述薄膜上的异物，取得至少包含该异物在所述薄膜上的位置信息A(平面坐标)在内的异物信息；
在所述第1异物检测工序之后将所述薄膜卷绕于芯上而作为薄膜辊的工序；
转换工序，将所述位置信息A(平面坐标)中的所述异物的位置转换为卷绕后的所述薄膜辊上的位置信息B(空间坐标)中的位置信息；以及
第2异物检测工序，针对所述薄膜辊使用放射线拍摄部，根据该异物的位置信息B(空间坐标)进行放射线拍摄部的对焦，以使拍摄焦点对准作为检测/评价对象的异物，并且通过所述放射线拍摄部照射放射线，与作为对象的异物的检测一起进行该异物的评价(鉴定)。
2.根据权利要求1所述的异物的检查方法，其中，
当在所述第1异物检测工序中检测到多个异物的情况下，在所述第2异物检测工序中，使拍摄焦点依次对准所述多个异物的各位置信息B(空间坐标)，检测并评价各异物。
3.根据权利要求1或2所述的异物的检查方法，其中，
所述光学拍摄部是直接透过光学系统，
仅与在所述第1异物检测工序中检测为暗缺陷的异物对应地实施所述第2异物检测工序。
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的异物的检查方法，其中，
所述异物信息包含与检测到的所述异物的大小相关的信息，
仅与为预先设定的阈值以上的异物对应地实施所述第2异物检测工序。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的异物的检查方法，其中，
该异物的检查方法包含如下的检查结果映射工序：在所述第2异物检测工序之后，将所述第2异物检测工序中的评价结果与所述异物的所述位置信息A(平面坐标)中的位置对应起来而作为检查结果进行保存。
6.根据权利要求5所述的异物的检查方法，其中，
输出在所述检查结果映射工序中建立了对应的所述检查结果。
7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的异物的检查方法，其中，
所述薄膜是电池分隔薄膜。
8.根据权利要求1至7中的任意一项所述的异物的检查方法，其中，
在所述转换工序之前，进行如下的工序中的至少三个工序：
对卷绕于薄膜辊的薄膜的总卷...
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