用于测量透明制品的光学特性的方法技术

确定透明制品(250)的透射率的方法包括以下步骤：利用强度测量设备(400)获得由参考表面(80)反射或发射的电磁辐射的第一强度的测量结果；将透明制品(250)定位在参考表面(80)上方；利用强度测量设备(400)获得透射通过透明制品(250)的由被透明制品(250)覆盖的参考表面(80)的区域(110)反射或发射的电磁辐射的第二强度的测量结果；以及使用第一强度和第二强度的测量结果计算透射率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测量透明制品的光学特性的方法
本专利技术涉及用于在现实世界和/或实验室条件下确定透明制品的光学特性的方法和测量系统，透明制品诸如是光学元件，例如，光致变色(photochromic)眼科(ophthalmic)设备。
技术介绍
吸收电磁频谱的可见光区域中的电磁辐射的光学元件被用于各种制品(诸如用于眼镜和太阳镜以及用于隐形眼镜的眼科镜片(ophthalmiclens))中。吸收电磁辐射的眼科镜片改善了佩戴者的观看舒适度，并增强了佩戴者在明亮条件下视物的能力。吸收电磁辐射的眼科镜片的示例包括固定色调(fixedtint)眼科镜片和光致变色眼科镜片。光致变色镜片响应于特定波长的电磁辐射而改变色调。当暴露在亮光条件下时，光致变色镜片为佩戴者提供了改善的视力和舒适度，但是在弱光条件下返回到不吸收或吸收较少的状态。光致变色镜片在一系列照明条件下提供舒适度和观看便利性，并消除了在室内/弱光位置与室外/亮光位置之间移动时在各副眼镜之间进行切换的需要。用于测试或量化由眼科镜片(诸如，光致变色眼科镜片)透射的光量的已知方法在实验室条件下使用常规本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于确定电磁辐射通过透明制品(250)的透射率的方法，包括：/n利用强度测量设备(400)测量由参考表面(80)的至少一部分反射或发射的辐射的第一强度；/n将透明制品(250)定位在参考表面(80)的至少一部分上方；/n利用强度测量设备(400)测量透射通过透明制品(250)的由被透明制品(250)叠加的参考表面(80)的至少一个区域(110)反射或发射的辐射的第二强度；以及/n使用第一强度和第二强度的测量结果，计算电磁辐射通过透明制品(250)的透射率。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于确定电磁辐射通过透明制品(250)的透射率的方法，包括：
利用强度测量设备(400)测量由参考表面(80)的至少一部分反射或发射的辐射的第一强度；
将透明制品(250)定位在参考表面(80)的至少一部分上方；
利用强度测量设备(400)测量透射通过透明制品(250)的由被透明制品(250)叠加的参考表面(80)的至少一个区域(110)反射或发射的辐射的第二强度；以及
使用第一强度和第二强度的测量结果，计算电磁辐射通过透明制品(250)的透射率。


2.根据权利要求1所述的方法，其中辐射的第二强度是由参考表面(80)的区域(110)反射的，所述方法还包括：
确定强度测量设备(400)上归因于暗电流的强度值；以及
根据以下公式，计算电磁辐射通过透明制品(250)的透射率：



其中：
TCorr是电磁辐射通过透明制品(250)的透射率；
IO是第一强度的测量结果；
IT是第二强度的测量结果；以及
d是强度测量设备(400)上归因于暗电流的强度值。


3.根据权利要求1所述的方法，其中辐射的第二强度是由参考表面(80)发射的，所述方法还包括：
确定强度测量设备(400)上归因于暗电流的强度值；以及
根据以下公式，计算电磁辐射通过透明制品(250)的透射率：



其中：
TMeas是电磁辐射通过透明制品(250)的透射率；
IO是第一强度的测量结果；
IT是第二强度的测量结果；以及
d是强度测量设备(400)上归因于暗电流的强度值。


4.根据权利要求1所述的方法，还包括：
与测量第一强度同时地，测量从辅助位置(150)反射或发射的辐射的第三强度，其中所述至少一个区域(110)不同于辅助位置(150)；
与测量第二强度同时地，测量从辅助位置(150)反射或发射的辐射的第四强度；
比较第三强度和第四强度，以确定在第一强度和第三强度的测量时间与第二强度和第四强度的测量时间之间的辐射强度的变化；以及
使用第三强度和第四强度之间的比较，补偿在计算电磁辐射通过透明制品(250)的透射率时在第一强度和第三强度的测量时间与第二强度和第四强度的测量时间之间的辐射强度的变化。


5.根据权利要求1至4中的任一项所述的方法，其中强度测量设备(400)被配置为测量在包括1nm至1,000nm，优选地380-780nm的波长范围的电磁辐射频谱内的电磁辐射的强度。


6.根据权利要求1至5中的任一项所述的方法，其中强度测量设备(400)被配置为测量在包括460±20nm的波长范围的电磁辐射频谱内的电磁辐射的强度。


7.根据权利要求1至6中的任一项所述的方法，其中强度测量设备(400)被配置为测量在包括555±20nm的波长范围的电磁辐射频谱内的电磁辐射的强度。


8.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法，其中强度测量设备(400)被配置为测量在包括635±20nm的波长范围的电磁辐射频谱内的电磁辐射的强度。


9.根据权利要求1至8中的任一项所述的方法，其中第一强度和第二强度的测量结果来自选自包括460±20nm、555±20nm和635±20nm的组的波长范围。


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【专利技术属性】
技术研发人员：F·R·布莱克伯恩，J·黑兹尔，
申请(专利权)人：光学转变有限公司，
类型：发明
国别省市：爱尔兰;IE