一种显示面板不良的解析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明专利技术实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明专利技术实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板不良的解析方法及装置
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种显示面板不良的解析方法及装置。
技术介绍
随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(FlatPanelDisplay，FPD)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已成为市场的主流。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其主要包括液晶显示面板和背光源。液晶显示面板包括具有彩色滤光片基板(ColorFilter，CF)、薄膜晶体管阵列基板以及设置在两个基板之间的液晶层。通常，在彩色滤光片基板上会涂布有黑色矩阵、RGB彩色滤光片和导电氧化物电极(通常为氧化铟锡(IndiumTinOxide，ITO))，在薄膜晶体管阵列基板上会形成提供扫描信号的扫描线、提供数据信号的数据线以及像素电极。液晶显示器通过对导电氧化物电极和像素电极施加电压而在液晶层中产生电场，通过产生的电场确定液晶层的液晶分子的取向，并且控制入射光的偏振以显示图像。在现有的生产制备中，在彩色滤光片基板上形成彩色滤光片的CF制程以及液晶成盒的cell制程期间会有一些金属等的异物掉落。当异物掉落到液晶显示器的显示区中时，会导致彩色滤光片基板与薄膜晶体管基板的电路或像素短路，从而会造成显示不良的线和点。针对此不良需要进行分析确认，目前对于不良的解析只能通过万用表量测显示面板电压/阻值，无法准确找到异常点，为找到异常点只能在显示面板上从头到尾(显示面板末端)逐次排查，一是浪费时间，效率低下，二是无法准确确认异常位置。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种显示面板不良的解析方法及装置，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。进一步的，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。在本申请一些实施方案中，所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。在本申请一些实施方案中，所述第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。在本申请一些实施方案中，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。在本申请一些实施方案中，所述第一测试点包括两个测试点，所述在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点包括：分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；所述在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别选择与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，包括：分别在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点。在本申请一些实施方案中，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：分别测量第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点中两个测试点之间的阻值，在阻值存在异常时，确定两个测试点之间阻值最小的两个测试点对应的目标COF模块；确定所述显示面板的第一不良区域在所述目标COF模块与所述目标COF模块之上的COF模块之间。在本申请一些实施方案中，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：检查所述目标COF模块内是否有短路；若没有短路，从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至所述目标COF模块上两个测试点之间的阻值正常为止，标示目标信号电压恢复后的第三位置和上一次镭射的第四位置；确定所述显示面板的第二不良区域为所述第三位置和所述第四位置之间的区域。在本申请一些实施方案中，所述方法还包括：在显微镜下观察之后对所述第二不良区域进行切片处理，进一步确定所述显示面板的不良区域。另外，本申请中还提供一种显示面板不良的解析装置，所述装置包括：异常检测模块，用于确定显示面板存在异常；第一确定模块，用于选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；第二确定模块，用于从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。在本申请一些实施方案中，所述异常检测模块具体用于：点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。在本申请一些实施方案中，所述第一确定模块具体用于：在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；在与所述显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述方法包括：/n确定显示面板存在异常；/n选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；/n从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述方法包括：
确定显示面板存在异常；
选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。


2.根据权利要求1所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：
点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。


3.根据权利要求1所述的的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：
在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；
在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；
根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。


4.根据权利要求3所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：
测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压及阻值；
若测量第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三COF测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二COF测试点和第三COF测试点之间。


5.根据权利要求4所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：
从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；
确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张巧飞，蔡荣茂，庄益壮，张小新，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44