一种降低杂散光的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种降低杂散光的方法及装置，方法包括如下步骤：S1，将测量范围分段；S2，根据测量范围的分段，选取一组相应工作范围的滤光片，所述的滤光片具有截止范围，用于过滤其他测量范围的光谱能量；S3，光线通过各滤光片的过滤传输至传感器，传感器依次测量每段测量范围，计算得到测量范围的反射率；装置包括光源、滤光片、传感器，根据测量范围的分段，配合设置有一组相应工作范围的滤光片，所述的滤光片具有截止范围，用于过滤其他测量范围的光谱能量，滤光片设置在光源和传感器之间。

【技术实现步骤摘要】
一种降低杂散光的方法及装置
本专利技术涉及光学颜色测量
，尤其是涉及了一种降低杂散光的方法及装置。
技术介绍
在光学测量过程中会产生杂散光，杂散光的产生原因主要有三种：成像光路产生的杂散光，非成像光路产生的杂散光和仪器本身产生的杂散光。不同光谱传感器的杂散光程度是不同的，导致每台测量的颜色数据也有差别，称为台间差，需要对每台传感器杂散光情况进行测量和修正。同一光谱传感器从被测样品表面测得的颜色值和被测样品表面真实颜色值之间也存在差别，称为示值误差，而影响示值误差的关键因素就是分光光路中的杂散光，杂散光具体表现为一个特定波长的光并没有聚焦在该特定波长正常成像时所聚焦在阵列传感器的位置，进而影响了对该特定波长能量的检测精度，也影响了其它波长处能量的检测精度。
技术实现思路
为解决现有技术的不足，实现减少杂散光、提高检测精度的目的，本专利技术采用如下的技术方案：一种降低杂散光的方法，包括如下步骤：S1，将测量范围分段；S2，根据测量范围的分段，选取一组相应工作范围的滤光片，所述的滤光片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低杂散光的方法，其特征在于包括如下步骤：/nS1，将测量范围分段；/nS2，根据测量范围的分段，选取一组相应工作范围的滤光片（1），所述的滤光片（1）具有截止范围，用于过滤其他测量范围的光谱能量；/nS3，光线通过各滤光片（1）的过滤传输至传感器（6），传感器（6）依次测量每段测量范围，计算得到测量范围的反射率。/n

【技术特征摘要】
1.一种降低杂散光的方法，其特征在于包括如下步骤：
S1，将测量范围分段；
S2，根据测量范围的分段，选取一组相应工作范围的滤光片（1），所述的滤光片（1）具有截止范围，用于过滤其他测量范围的光谱能量；
S3，光线通过各滤光片（1）的过滤传输至传感器（6），传感器（6）依次测量每段测量范围，计算得到测量范围的反射率。


2.如权利要求1所述的一种降低杂散光的方法，其特征在于根据测量范围的分段，选取一组相应工作范围的分段光源（2），在分段光源（2）与被测物体之间分别设置与分段光源（2）工作范围匹配的滤光片（1），依次点亮分段光源（2），分段光源（2）的光线经相应工作范围的滤光片（1），通过被测物体的反射进入传感器（6），传感器（6）依次测量每段测量范围的反射信号，组合反射信号并计算测量范围的反射率。


3.如权利要求1所述的一种降低杂散光的方法，其特征在于所述的光源是测量范围内的全光谱光源（7），在全光谱光源（7）与传感器（6）之间设置一组所述的滤光片（1），全光谱光源（7）的光线经依次切换的滤光片（1）进入传感器（6），传感器（6）依次测量，计算每段测量范围的反射率并组合得到测量范围的反射率。


4.如权利要求1所述的一种降低杂散光的方法，其特征在于各相邻分段测量范围的边缘相互重叠。


5.一种降低杂散光的装置，包括光源、滤光片（1）、传感器（6），其特征在于根据测量范围的分段，配合设置有一组相应工作范围的滤光片（1），所述的滤光片（1）具有截止范围，用于过滤其他测量范围的光谱能量，滤光片（1）设...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁琨，贡双虎，王坚，陈涛，曾亚澜，方欣宇，张宇梁，章晓寅，龚晓煜，闫卓，
申请(专利权)人：中国计量大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33