测量光学透镜中心厚度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测量光学透镜中心厚度的装置，包括底座，底座上装立杆，立杆上装可上下移动的表座，表座上装千分表，千分表下方设置与底座固定连接的测量立柱，且千分表的测量头和测量立柱的尖头对齐在同一中心线上，测量立柱上套装弹簧，测量立柱上部套装放置被测镜片的冶具。本实用新型专利技术结构合理，检测准确，精度高，检测速度快，有效防止镜片的划伤。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量光学透镜中心厚度的装置，其特征是：包括底座，底座上装立杆，立杆上装可上下移动的表座，表座上装千分表，千分表下方设置与底座固定连接的测量立柱，且千分表的测量头和测量立柱的尖头对齐在同一中心线上，测量立柱上套装弹簧，测量立柱上部套装放置被测镜片的冶具。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐媛，李艳，吴宪正，孟陈燕，
申请(专利权)人：南通新宇光学电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]