一种地膜残留调查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，所述调查装置包括：第一长条形块；第二长条形块；第三长条形块；第四长条形块；所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构，在进行土壤采样时，采样框架结构会压在样方边缘的部分土壤上，此时可沿着采样框架结构外向下挖沟，形成比样方略大的土壤框体，再逐渐向土壤框体削去样方多余的土壤，进而得到准确的样方土壤框体，从而可以提高采样的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种地膜残留调查装置
本技术涉及一种地膜残留调查装置，属于大田地膜残留调查

技术介绍
为了研究降解地膜的降解情况，常需要进行大田覆膜土壤的地膜残留取样试验。目前进行大田覆膜降解测试试验的过程为，在覆盖地膜的地块，待作物种植收获后，选取666.7m2作为一个调查点，采样方法可以采用梅花点法或对角线法，划线采集5个规格为100cm×100cm正方形样方，测定0～30cm土层的地膜残留量。当然，也可根据测试需要选取其它面积的样方，以及测量深度。然而，现有划线采集地膜残留样方的方法存在样方内土壤在挖取时易塌陷，从而造成无法准确测量样方地膜残留量的问题。
技术实现思路
基于上述，本技术提供一种地膜残留调查装置，以解决现有划线采集地膜残留样方的方法存在的样方内土壤在挖取时易塌陷，从而造成无法准确测量样方地膜残留量的问题。本技术的技术方案是：一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，所述调查装置包括：第一长条形块；第二长条形块；第三长条形块；第四长条形块；所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构。可选的，在所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块的两端搭接处均设有固定孔，在所述固定孔内安装有固定插件，将所述固定插件穿过所述固定孔插入到大田土壤中，以将所述采样框架结构固定在大田采样样方的边缘。可选的，在所述第一长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第二长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第三长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第四长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔。可选的，若干个所述固定孔间隔均匀布置在所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块或第四长条形块上。可选的，所述固定插件包括尖形杆体和抽拉环，所述尖形杆体连接在所述抽拉环的底部。可选的，在所述尖形杆体上沿其长度方向设有刻度尺寸。可选的，所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块的宽度均为8～12cm。本技术的有益效果是：由于第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构，因此在进行土壤采样时，采样框架结构会压在样方边缘的部分土壤上，此时可沿着采样框架结构外向下挖沟，形成比样方略大的土壤框体，逐渐向土壤框体削去样方多余的土壤，进而得到准确的样方土壤框体，从而可以提高采样的准确性。附图说明图1为本技术实施例地膜残留调查装置的结构示意图；图2为固定插件的示意图；图3为铲子的结构示意图；附图中，1第一长条形块，2第二长条形块，3第三长条形块，4第四长条形块，5固定孔，6固定插件，7抽拉环，8尖形杆体，9铲子，10操作杆，11铲头，12握把。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施的限制。目前进行大田覆膜残留测试试验的过程为，在覆盖地膜的地块，待作物种植收获后，选取666.7m2作为一个调查点，采样方法可以采用梅花点法或对角线法，划线采集5个规格为100cm×100cm正方形样方，测定0～30cm土层的地膜残留量。当然，也可根据测试需要选取其它面积的样方，以及测量深度。然而，现有划线采集地膜残留样方的方法存在样方内土壤挖取时易塌陷，无法准确测量样方地膜残留量的问题。基于上述，本技术实施例提供一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，以解决样方内土壤易塌陷，从而造成地膜残留量测量不准确的问题。请参阅图1至图3，本技术实施例调查装置包括第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3和第四长条形块4，并且第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3和第四长条形块4依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构。由于第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3和第四长条形块4依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构，因此在进行土壤采样时，采样框架结构会压在样方边缘的部分土壤上，此时可沿着采样框架结构外向下挖沟，形成比样方略大的土壤框体，用铲子9逐渐向土壤框体削去样方多余的土壤，得到准确的样方土壤框体，进而可以提高采样的准确性和效率。在得到设定深度的样方土壤框体后，可将土壤样品放在帆布上，分别用筛子筛去土壤，将肉眼可见的残膜捡出，放入自封袋，在样方中的残留地膜全部收集完后，将土壤回填，恢复烟田原貌。在一个示例中，第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3和第四长条形块4的宽度均为8～12cm，经申请人试验，该种尺寸可以兼顾采样的效率与准确性。在一个示例中，铲子9包括操作杆10、铲头11和握把12，其中，铲头11为三角形，其底部呈尖状，操作杆10与铲头11相连，握把12设置在操作杆10上，优选的，握把12为两个，设置在操作杆10上的不同位置处，以便于左右手握住操作。作为本技术实施例的优选方案，在第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3和第四长条形块4的首尾搭接处均设有固定孔5，在固定孔5内安装有固定插件6，将固定插件6穿过固定孔5插入到大田土壤中，以将采样框架结构固定在大田采样样方的边缘。该种结构可以提高采样框架结构的稳定性，并且使得操作也更为方便。优选的，在第一长条形块1上沿其长度方向设有若干个固定孔5，在第二长条形块2上沿其长度方向设有若干个固定孔5，在第三长条形块3上沿其长度方向设有若干个固定孔5，在第四长条形块4上沿其长度方向设有若干个固定孔5。如此可以根据需要选择不同的固定孔5来进行搭接，进而可以得到不同尺寸的采用框架结构，匹配不同的采样需要。更优选的是，若干个固定孔5间隔均匀布置在第一长条形块1、第二长条形块2、第三长条形块3或第四长条形块4上。作为本技术实施例的优选方案，固定插件6包括尖形杆体8和抽拉环7，尖形杆体8连接在抽拉环7的底部，尖形杆体8可穿过固定孔5插入到大田土壤中，而抽拉环7位于固定孔5的上方，以便在采样完成后快速取出。优选的，在尖形杆体8上沿其长度方向设有刻度尺寸，以测量采样时的挖沟深度。以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，其特征在于，所述调查装置包括：/n第一长条形块(1)；/n第二长条形块(2)；/n第三长条形块(3)；/n第四长条形块(4)；/n所述第一长条形块(1)、第二长条形块(2)、第三长条形块(3)和第四长条形块(4)依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构。/n

【技术特征摘要】
1.一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，其特征在于，所述调查装置包括：
第一长条形块(1)；
第二长条形块(2)；
第三长条形块(3)；
第四长条形块(4)；
所述第一长条形块(1)、第二长条形块(2)、第三长条形块(3)和第四长条形块(4)依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构。


2.根据权利要求1所述的地膜残留调查装置，其特征在于，在所述第一长条形块(1)、第二长条形块(2)、第三长条形块(3)和第四长条形块(4)的两端搭接处均设有固定孔(5)，在所述固定孔(5)内安装有固定插件(6)，将所述固定插件(6)穿过所述固定孔(5)插入到大田土壤中，以将所述采样框架结构固定在大田采样样方的边缘。


3.根据权利要求2所述的地膜残留调查装置，其特征在于，在所述第一长条形块(1)上沿其长度方向设有若干个固定孔(5)，在所述第二长条形块(2)上...

【专利技术属性】
技术研发人员：高维常，曾陨涛，蔡凯，李光雷，陈伟，
申请(专利权)人：贵州省烟草科学研究院，
类型：新型
国别省市：贵州;52