高温高压氦检漏方法及其检漏装置制造方法及图纸

技术编号:2565366 阅读:320 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了在高温高压条件下,对工件进行氦检漏的高温高压氦检漏方法及其检漏装置。本发明专利技术的方法包括:a)对检漏装置的真空室抽真空,使其真空度达到1×10↑[-3]Pa;b)对真空室加热待其温度升至380℃时进行恒温控制;c)对真空检测系统标定;d)对被测工件预抽真空,使之达到1~10Pa;e)对被测工件充0.1~1.5MPa的氦气;f)对被测工件再次抽真空,使真空度降至10Pa以下;g)真空室温度降至室温,取出被测工件。本发明专利技术的装置由真空检漏装置、真空室加热及温控装置、工件预抽真空及充氦进排气装置和氦质谱检漏仪组合而成。本发明专利技术优点是检测方法简单,检测结果可靠,检测灵敏度高达0.5×10↑[-11]Pa.m↑[3]/s,既能满足常温、常压又能满足高温高压条件下对被测工件的氦检漏。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测工件密封性能的检测方法及其检测装置,具体涉及 氦气检漏方法及所用检漏装置。技术背景为了检测工件的密封性能,必须进行氦质谱检漏。关于真空氦检漏的设 备和方法很多,目前的真空检漏系统, 一般为常温、常压真空氦检漏系统。如中国专利CN200420115241.2所公开的检漏设备,采用真空室法氦检漏技 术,检测装置可以对被检测工件充压,装置包括带上盖的容器,上盖与容器 之间的固体密封材料,带检漏仪吸管的检漏仪,置于容器外的检漏气源,和 与被检产品连接的密封夹具,容器的下部为液腔,液腔与上盖之间为集气腔, 上盖设有一端与集气腔相通、另一端与检漏仪吸管相通的检漏孔,被检产品 置于液腔内并通过检漏气源通入检漏气体。由于该系统采用液腔液体加热, 检测温度较低,而不能用于高温高压环境下的工件的氦检漏。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种在高温高压条件下,对工件密封性能进行 检测的高温高压氦检漏方法,并提供应用这种方法对工件进行检测所用的检 漏装置。本专利技术的目的是通过实施下述技术方案实现的 一种被测工件髙温高压氦检漏方法,包括以下步骤第一步,对检漏装置的真空室抽本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种被测工件的高温高压氦检漏方法,包括以下步骤:第一步,对检漏装置的真空室抽真空,使真空室的真空度达到1×10↑[-3]Pa;第二步,当真空室的真空度达到1×10↑[-3]Pa时,对真空室进行加热,待其温度升至380℃时,对 真空室进行恒温控制;第三步,对真空检测系统进行标定;第四步,将待测工件装入真空室,对该工件预抽真空,使工件的预抽真空度达到1~10Pa,第五步,对测试工件充0.1~1.5MPa的氦气;第六步,对测试工件再次抽 真空,使其真空度降至10Pa以下,从真空度数即可判断工件的密封性能;第七...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:侯晔冯英群宋吉荣
申请(专利权)人:中国核动力研究设计院
类型:发明
国别省市:90[中国|成都]

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