投影机亮度测量装置制造方法及图纸

技术编号:2565352 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种投影机亮度测量装置。投影机亮度测量装置包括一光信道器具、一承载器具及一测光器。光通道器具是以数个遮光材相互隔开以形成数个光通道。各光通道具有一第一开口及一第二开口。承载器具设置在光通道器具的一第一侧外,用以承载数个投影机。各投影机对应于各第一开口。各投影机具有一投影光线,各投影光线由对应的第一开口进入对应的光通道,并由对应的第二开口射出至外界。测光器以可移动的方式设置在光信道器具的一第二侧,用以在各第二开口处测量各投影光线的亮度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种投影机亮度测量装置,且特别是有关于一种可以自 动测量数个投影机的亮度的亮度测量装置。
技术介绍
影像显示装置的发展迅速,其中投影机可提供一大尺寸的影像。且投影 机具有携带方便、寿命长、高象素及高色彩饱和度等优点,越来越多的企业 采用投影机进行简报及教育训练,许多的家庭亦采用投影机享受视听娱乐的 效果。投影机是以 一灯泡投射出 一投影光线,投影光线经过一影像屏后投射于 一成像屏幕上。投影光线的亮度大大地影响投影机成像的质量,因此在投影 机制造过程中,亮度测试为质量管理的重要项目之一。质量优良的投影机必 须在使用时具有一定范围内的亮度,且随着使用时间增加,亮度衰减仍须维 持在一定范围内。至于作业人员如何测量投影机的亮度衰减情况的过程在此 简单说明如下。在传统的测量投影机的亮度的过程中,作业人员必须将多台投影机逐一拿至符合国际标准的大间暗房中,以测量投影机所射出的投影光线的9点亮 度。并且,作业人员一次只能测量一台投影机。每隔一段时间,作业人员即 重复所有投影机拿至暗房再测量一次的动作。直到每台投影机运作一预设时 间(如2000小时)后,作业人员可以汇整每台投影机所有的亮度值而知道 每台投影机的亮度衰减情况。然而,当作业人员轮流测量数台投影机时,其数台投影机总测量时间为 每一投影机个别测量时间的总和,相当耗费测量时间。此外,作业人员也无 法在晚上睡觉时间做固定间隔时间的测量,除非作业人员轮班测量,但这样 将会相当浪费人工。另外,作业人员必须在暗房内测量投影机的亮度,因此 暗房将会占据空间,相当不符合经济效益。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的就是在提供一种投影机亮度测量装置。其利用 光通道器具与承栽器具的搭配设计,并提供一可自动移动的测光器。使用者 可在一小空间中以自动控制的方式同时测量数台投影机。不仅节省测量亮度 所需要的空间,且大幅减少测量数台投影机所需要的总测量时间,更省去操 作仪器所需的人力成本。根据本专利技术的目的,提出一种投影机亮度测量装置,包括一光信道器具、 一承载器具及一测光器。光通道器具是以数个遮光材相互隔开以形成数个光 通道。各光通道具有一第一开口及一第二开口。承载器具设置在光通道器具 的一第一侧外,用以承栽数个投影机。各投影机对应于各第一开口。各投影 机具有一投影光线,各投影光线由对应的第一开口进入对应的光通道,并由 对应的第二开口射出至外界。测光器以可移动的方式设置在光信道器具的一 第二侧,用以在各第二开口处测量各投影光线的亮度。为让本专利技术的上述目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举一优选实施例,并配合附图,作详细i兌明如下 附图说明图1所示为依照本专利技术的优选实施例的投影机亮度测量装置的侧枧图。图2示出图1中的光通道器具、测光器及移动机构的左侧视图。图3示出依照本专利技术的优选实施例的测光器及数据处理单元的方块图。图4所示为依照本专利技术的优选实施例的投影机亮度测量方法的流程图。主要组件符号说明100:投影机亮度测量装置10:承栽器具20:光通道器具20a:第一侧20b:第二侧21:遮光材22:光通道22a:第一开口22b:第二开口23:分隔支架30:移动机构30a:垂直轴30b:水平轴40:测光器50:数据处理单元60:投影机70:屏幕L:投影光线L60:投影光线的中心轴具体实施例方式请同时参照图1及图2,图1所示为依照本专利技术的优选实施例的投影机 亮度测量装置的側视图。图2示出图1的光通道器具、测光器及移动机构的 左侧视图。投影机亮度测量装置100包括一光信道器具20、 一承载器具10 及一测光器40。光通道器具20是以数个遮光材21相互隔开以形成数个光通 道22。各光通道22具有一第一开口 22a及一第二开口 22b。承载器具10设 置在光通道器具10的一第一侧20a外,用以承载数个投影机60。各投影机 60对应于各第一开口 22a。各投影机60具有一投影光线L,各投影光线L 由对应的第一开口 22a进入对应的光通道22,并由对应的第二开口 22b射出 至外界。测光器40以可移动的方式设置在光信道器具20的一第二侧20b, 用以在各第二开口 22b处测量备投影光线L的亮度。如图l所示,投影机60承载于承载器具10上。承栽器具10区隔成数 层容纳空间,每一个容纳空间用以容纳数台投影机60。数台投影机60的投 影镜头朝同一方向(如Y方向)射出投影光线L。承载器具10设置在光通 道器具20的第 一侧20a外,使得M影机60投射出的投影光线L自第 一开 口22a进入光通道22,并由第二开口 22b射出至外界。如图2所示,光通道器具20包括一分隔支架23,分隔支架23具有数 个高低相间、左右相隔的容置拒。每一个容置拒的内壁可以粘贴遮光材料21 , 如黑布或魔鬼沾(Velcro),使粘贴遮光材料21后的容置根形成数个光通道 22。各光通道22之间借由遮光材料21的遮蔽,使得各投影机60的投影光线L不会互相干扰而影响测量的准确性。如图1及图2所示出,投影机亮度测量装置100还包括一移动机构30, 移动机构30设置在光通道器具20的第二侧20b外,用以移动测光器40至 各笫二开口 22b处。在本实施例中,移动4几构30包括一垂直轴30a及一水 平轴30b。垂直轴30a是以可滑动式耦接于水平轴30b。测光器40可滑动式 与垂直轴30a耦接。测光器40可沿着垂直轴30a(如Z方向)垂直来回滑动, 并且垂直轴30a的底端可沿着水平轴30b (如X方向)水平来回滑动。借由 垂直轴30a及水平轴30b,使得测光器40可移动至预定的第二开口 22b处, 如图1所示。但本实施例的移动机构30并不局限于上述垂直轴30a及水平 轴30b之间的耦接及作动关系,只要是任何可以平面移动测光器40的移动 机构30均可以应用在本实施例的投影机亮度测量装置100。测光器40可以为一光电耦合组件(Charge-Coupled Device, CCD)或 互才卜式金属氧4b4勿半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)传感器。投影机60持续运作的过程中,投影机60持续投射一投影 光线L穿越光通道22,并投射至屏幕70上。每隔一预定间隔时间,测光器 40借由移动机构30移动至投影光线L的中心轴L60上,用以测量中心轴 L60的亮度。另外,请参照图3,其示出依照本专利技术的优选实施例的测光器及数据处 理单元的方块图。投影机亮度测量装置100还包括一数据处理单元50,数据 处理单元50电性连接于测光器40。数据处理单元50用以储存并分析测光器 40所测量的数据。数据处理单元50可根据所测量的数据以数学模型仿真绘 出亮度衰减趋势图,并预测长时间后亮度衰减情况。例如是根据1000或2000 小时的测量资料,来预测未来亮度衰减至原始值的50%的时间点。请参照图4,其所示为依照本专利技术的优选实施例的投影机亮度测量方法 的流程图。首先,在步骤401中,以数个遮光材料21相互隔开以形成并排 列数个光信道22,各光信道22具有一第一开口 22a及一第二开口 22b。接着,进入步骤402,承载数个投影机60,各个投影机60对应于一光 通道22的第一开口 22a。每一投影机60本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种投影机亮度测量装置,包括:一光通道器具,是以多个遮光材相互隔开以形成多个光信道,各该光信道具有一第一开口及一第二开口;一承载器具,设置在该光通道器具的一第一侧外,用以承载多个投影机,各该投影机对应于各该第一开口,各该投影机具有一投影光线,各该投影光线由对应的该第一开口进入对应的该光通道,并由对应的该第二开口射出至外界;以及一测光器,以可移动的方式设置在该光信道器具的一第二侧,用以于各该第二开口处测量各该投影光线的亮度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林政儒
申请(专利权)人:明基电通股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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