带有集成寿命检测能力的结构制造技术

技术编号:2564807 阅读:164 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种经受能够导致结构性故障的压力的结构(10,50)。这种结构(10,50)包括第一和第二传导层(16,18,56,58)以及由绝缘、半导体或电阻(resistive)材料制成的在它们之间的中间层(20,60),以使得该第一、第二层和中间层(16,18,20,56,58,60)组合形成电元件,即,电容性或电阻性元件。该电元件被布置在该结构(10,50)中,以使得该电元件物理响应由外在和内在源造成的该结构(10,50)暂时性和永久性的变形。该结构(10,50)进一步包括施加电压到第一和第二传导层(16,18,56,58)的至少一个,以从该电元件产生电信号,感测该电元件物理响应该暂时性和永久性的变形而产生的电信号的变化,以及将电信号的这种变化传送到远离该结构(10,50)的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】带有^S^翻幼的结构相关申请的交叉参考本申请要求申请日为2005年6月22日的美国临时申请No.60/595318的权 益,并且是申请日为2006年3月2日的共同的悬而未决的美国专利申请 No.ll/276500的部分继续申请,其要求申请日为2005年3月4日的美国临时申 请No.60/658932的雌。鹏在前申请的内容^M被参考结合。狱领域本专利技术通常涉及经受倉辦导1^构性故障的压力的结构,例如接触^纳 静ih^l动液体的结构,这种结构的例雅括轮胎、翼型、以及在移动的机器、 车辆、宇宙空间、带J3^1k和加工體中鹏鄉的管。本专利技术尤^^及装配有 在依据结构的磨损、疲劳柳^他结构性损坏方面感知寿命的^g和用于将该 感测装置的输出进行传送以检测即将发生的结构性故障的装置。背景"、、 、、、i 、 、,、 、. iNeto的美国专利No.5634497, Chevalier等人的美国专利No.6386237和Phelan 等人的美国专利No.64诉991公开了3ia:检测歸嗽管壁中的一个或更多的丝 的电P且系数来对用旧的软管的检测。这些专利集中于检测^A的丝的中断,例 如,当与检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有集成寿命感测能力的结构(10,50),所述结构(10,50)包括:第一和第二传导层(16,18,56,58)以及在它们之间的中间层(20,60),采用从包括介电体、半导体以及电阻材料的组中选择的材料制作所述中间层(20,60),以使得所述第一、第二和中间层(16,18,20,56,58,69)组合形成从包括电容性和电阻性元件的组中选择出的电元件,所述电元件被布置在所述结构(10,50)中,以使得所述电元件物理响应由外在和内在源产生的所述结构(10,50)的暂时性和永久性变形;用于施加电压到所述第一和第二传导层(16,18,56,58)中的至少一个,以从所述电元件产生电信号的装置(22,...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:加里威廉克鲁兹基思哈迈耶迈克尔A霍兰
申请(专利权)人:普渡研究基金会
类型:发明
国别省市:US[美国]

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