【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】LED灯故障检测电路和方法
本专利技术整体涉及用于检测LED灯中的故障的电子电路,并且更具体地,涉及用于车辆应用的LED灯故障检测电路。
技术介绍
如果在使用时存在故障模式条件,则许多灯应用都需要某种自动响应。然而,在没有添加高度集成的监测子电路的情况下,在正常操作条件下无法检测到某些故障模式条件。LED(发光二极管)灯通常被配置为使得多个LED与电流调节器(有源或无源)串联连接。在这种灯拓扑结构内,一个或多个LED可能会发生短路。在这种情况下,与正常运行的灯相比,灯将在相同的标称操作电压下继续消耗相同的标称电流。用于检测这些故障模式的当前状态的技术方法是嵌入监测电路,该监测电路测量整个串联LED串上的电压。这些灯通常具有多串LED,在这种情况下,监测电路要么需要分别监测每串LED,要么具有多个彼此通信的监测电路。这些电路会迅速变得复杂和昂贵。此外,由于这些电路的监测轨迹很长,它们可能对EMC高度敏感,并且当在EMC条件下发生错误检测时,锁定响应条件可能是严重的错误。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面,提供了一种用于检测至少一个LED中的故障的LED故障检测电路,所述电路包含:测试电压生成器,用于向所述至少一个LED施加至少一个测试电压电平,其中所述至少一个测试电压电平小于标称操作电压范围;电流测量电路,用于在所述至少一个测试电压电平上测量所述至少一个LED的至少一个电流消耗;以及处理电路,耦接至所述测试电压生成器,用于促使所述至少一个测试电压电平施加到所述至少一个LED,所述处理电 ...
【技术保护点】
1.一种用于检测至少一个LED中的故障的LED故障检测电路,所述电路包含:/n测试电压生成器,用于向所述至少一个LED施加至少一个测试电压电平,其中所述至少一个测试电压电平小于标称操作电压范围;/n电流测量电路,用于在所述至少一个测试电压电平上测量所述至少一个LED的至少一个电流消耗;以及/n处理电路,耦接至所述测试电压生成器,用于促使所述至少一个测试电压电平施加到所述至少一个LED,所述处理电路耦接至所述电流测量电路,用于当所述至少一个测量的电流消耗具有的分布图与预期的电流消耗分布图不对应时,检测所述至少一个LED中的故障。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171102 US 62/580,7871.一种用于检测至少一个LED中的故障的LED故障检测电路,所述电路包含:
测试电压生成器,用于向所述至少一个LED施加至少一个测试电压电平,其中所述至少一个测试电压电平小于标称操作电压范围;
电流测量电路,用于在所述至少一个测试电压电平上测量所述至少一个LED的至少一个电流消耗;以及
处理电路,耦接至所述测试电压生成器,用于促使所述至少一个测试电压电平施加到所述至少一个LED,所述处理电路耦接至所述电流测量电路,用于当所述至少一个测量的电流消耗具有的分布图与预期的电流消耗分布图不对应时,检测所述至少一个LED中的故障。
2.根据权利要求1所述的LED故障检测电路,其中当所述至少一个测试电压电平中的其中一个的所述测量的电流消耗与所述至少一个测试电压电平中的其中一个的预期的电流消耗相差的量超过阈值时,所述处理电路检测到所述至少一个测量的电流消耗具有的分布图与所述预期的电流淌耗分布图不对应。
3.根据权利要求1所述的LED故障检测电路,其中所述测试电压生成器向所述至少一个LED施加多个不同的测试电压电平,其中所述多个不同的测试电压电平小于所述标称操作电压范围,并且其中所述电流测量电路在每个的所述多个不同的测试电压电平测量所述至少一个LED的电流消耗。
4.根据权利要求3所述的LED故障检测电路,其中当所述多个不同的测试电压电平中任何一个的所述测量的电流消耗与所述多个不同的测试电压电平中的所述一个的预期的电流消耗相差的量超过阈值时,所述处理电路检测到所述至少一个测量的电流消耗具有的分布图与所述预期的电流消耗分布图不对应。
5.根据权利要求3至4中任一项所述的LED故障检测电路,其中当在与所述多个不同的测试电压电平对应的测试电压范围上的所述测量的电流消耗的斜率与所述测试电压范围的预期的电流消耗的斜率相差的量超过阈值时,所述处理电路检测到所述至少一个测量的电流消耗具有的分布图与所述预期的电流消耗分布图不对应。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的LED故障检测电路,其中当在首次测量到电流消耗的开启电压与预期的开启电压相差的量超过阈值时,所述处理电路检测到所述至少一个测量的电流消耗的分布图具有与所述预期的电流消耗分布图不对应。
7.根据权利要求3至6中任一项所述的LED故障检测电路,其中所述测试电压生成器包含充电电容器,所述充电电容器在由所述处理电路启用时被充电,并且在所述充电电容器充电时施加充电电压作为所述多个不同的测试电压电平。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的LED故障检测电路,其中所述至少一个LED包含多个LED。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的LED故障检测电路,其中所述至少一个LED包含多串LED。
10.一种检测至少一个LED中的故障的方法,所述方法包含:
向所述至少一个LED施加至少一个测试电压电平,其中所述至少一个测试电压电平小于标称操作电压范围;
在每个的所述至少一个测试电压电平测量所述至少一个LED的电流消耗;以及
当所述测量的电流消耗具有的分布图与预期的电流消耗分布图不对应时,检测所述至少一个LED中的故障。
11.根据权利要求10所述的方法,其中当所述至少一个测试电压电平中的其中一个的所述测量到的电流消耗与...
【专利技术属性】
技术研发人员:T·J·温斯特拉,I·R·巴赫勒,
申请(专利权)人:英诺泰克公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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