一种半导体测试设备探针台用调节支架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试设备探针台用调节支架，涉及探针台调节装置技术领域，包括底座，底座的顶部开设有滑槽，滑槽的内壁滑动连接有滑块，滑槽的内壁一侧固定连接有轴承，底座的一侧开设有螺孔，螺孔的一侧设置有第一转柄，第一转柄的一侧转动连接有螺杆，螺杆的一端贯穿螺孔和滑块延伸至轴承的一侧，且与轴承的一侧转动连接，滑块的顶部固定连接有支撑台，支撑台的顶部开设有圆孔，圆孔的一侧设置有转盘，转盘的底部转动连接有转轴。本实用新型专利技术通过螺杆和滑块的配合使用，实现了对探测针的位置进行移动的目的，操作简单，提高了移动的便捷性，且通过手动调节，比较容易控制，提高了检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试设备探针台用调节支架
本技术涉及探针台调节装置
，特别涉及一种半导体测试设备探针台用调节支架。
技术介绍
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试，广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本，由于对半导体进行测试是在较小的空间内来进行操作的，探针需要对半导体定位接触，如果直接手动对探针进行调节，则会导致误差过大，而且容易对半导体造成损伤，从而影响测试的结果。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体测试设备探针台用调节支架，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试设备探针台用调节支架，包括底座，所述底座的顶部开设有滑槽，所述滑槽的内壁滑动连接有滑块，所述滑槽的内壁一侧固定连接有轴承，所述底座的一侧开设有螺孔，所述螺孔的一侧设置有第一转柄，所述第一转柄的一侧转动连接有螺杆，所述螺杆的一端贯穿螺孔和滑块延伸至轴承的一侧，且与轴承的一侧转动连接，所述滑块的顶部固定连接有支撑台。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体测试设备探针台用调节支架，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有滑槽(2)，所述滑槽(2)的内壁滑动连接有滑块(3)，所述滑槽(2)的内壁一侧固定连接有轴承，所述底座(1)的一侧开设有螺孔，所述螺孔的一侧设置有第一转柄(4)，所述第一转柄(4)的一侧转动连接有螺杆(5)，所述螺杆(5)的一端贯穿螺孔和滑块(3)延伸至轴承的一侧，且与轴承的一侧转动连接，所述滑块(3)的顶部固定连接有支撑台(6)。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试设备探针台用调节支架，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有滑槽(2)，所述滑槽(2)的内壁滑动连接有滑块(3)，所述滑槽(2)的内壁一侧固定连接有轴承，所述底座(1)的一侧开设有螺孔，所述螺孔的一侧设置有第一转柄(4)，所述第一转柄(4)的一侧转动连接有螺杆(5)，所述螺杆(5)的一端贯穿螺孔和滑块(3)延伸至轴承的一侧，且与轴承的一侧转动连接，所述滑块(3)的顶部固定连接有支撑台(6)。


2.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备探针台用调节支架，其特征在于：所述支撑台(6)的顶部开设有圆孔，所述圆孔的一侧设置有转盘(7)，所述转盘(7)的底部转动连接有转轴(8)，所述转轴(8)的一端贯穿圆孔且通过连接块与支撑台(6)的内壁底部转动连接，所述转轴(8)的外壁底部套接有第一齿轮(9)，所述第一齿轮(9)啮合连接有第二齿轮(10)，所述第二齿轮(10)的一侧转动连接有转杆(11)，所述转杆(11)的一端贯穿支撑台(6)的一侧且转动连接有第二转柄(12)，所述转盘(7)的顶部固定连接有承载板(13)。


3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱松，
申请(专利权)人：苏州三像智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32