挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备制造技术

技术编号:25575320 阅读:36 留言:0更新日期:2020-09-08 20:10
本实用新型专利技术提供的一种挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备,所述挡片测温组件包括支架以及温度传感器,所述支架构造为具有开口的部分封闭结构,所述温度传感器用于检测所述挡片的温度,所述温度传感器通过所述开口容置于所述支架内并被所述支架部分围设,该方案相对于现有技术,温度传感器对置于支架内的挡片进行测温时,支架可以隔绝周围发热体热辐射的影响,减少外部环境对温度传感器测温的影响,提高了挡片温度测量的准确。

【技术实现步骤摘要】
挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备
本技术涉及测温
,特别是涉及一种挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备。
技术介绍
测温设备种类繁多,例如热成像测温设备等。其中,测温设备通过测温镜头观测被测物体,测温仪机芯捕捉被测物体的热辐射获得对应的图像,并依据热辐射情况测算获得物体表面温度。但是,测温仪机芯在长时间使用后测温结果会发生偏差,需要对热成像测温设备进行重新标定,以消除测量误差。现有的一种对热成像测温设备进行校准的方式为通过热成像方式和温度传感器分别测量挡片的温度,以温度传感器测得的温度对热成像方式测得温度进行校正。但是,在温度传感器检测挡片的温度时,热成像测温设备的镜头座前盖的导热和周围其他发热体的均对温度传感器的检测结果造成影响,进而影响了对热成像温度传感器测量设备校正的准确性和精度。
技术实现思路
基于此,有必要针对上述问题,提供一种挡片测温组件、挡片测温机构以及热成像测温设备。为了解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案:一种挡片测温组件,用于测量挡片的温度,所述挡本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种挡片测温组件,用于测量挡片的温度,其特征在于,所述挡片测温组件包括支架以及温度传感器,所述支架构造为具有开口的部分封闭结构,所述温度传感器用于检测所述挡片的温度,所述温度传感器通过所述开口容置于所述支架内并被所述支架部分围设。/n

【技术特征摘要】
1.一种挡片测温组件,用于测量挡片的温度,其特征在于,所述挡片测温组件包括支架以及温度传感器,所述支架构造为具有开口的部分封闭结构,所述温度传感器用于检测所述挡片的温度,所述温度传感器通过所述开口容置于所述支架内并被所述支架部分围设。


2.根据权利要求1所述的挡片测温组件,其特征在于,所述温度传感器的数量为两个,两个所述温度传感器间隔设置,两个所述温度传感器能够分别检测所述挡片两相背侧的温度。


3.根据权利要求2所述的挡片测温组件,其特征在于,所述支架的横截面呈U形;或者,
所述支架呈两相邻侧合围的盒状。


4.根据权利要求3所述的挡片测温组件,其特征在于,两个所述温度传感器分别位于支架内部的顶面和底面。


5.根据权利要求1所述的挡片测温组件,其特征在于,还...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄恒敏温跃明
申请(专利权)人:浙江大华技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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