一种基于测试数据的覆盖评估方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于测试数据的覆盖评估方法，该方法包括：获取被测系统包括的多个测试子模块；获取各测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并计算各测试子模块的子测试覆盖度值；根据各子测试覆盖度值，计算被测系统的总测试覆盖度值；根据各子测试覆盖度值和总测试覆盖度值，对被测系统的测试过程进行评估。本发明专利技术通过比较各子测试覆盖度值和总测试覆盖度值对被测系统的测试过程进行评估，便于测试人员进行测试工作的调整，从而有效解决了现有技术中根据测试管理人员的经验来判定测试的覆盖程度而导致的测试效率不高且无法科学有效地实时调整测试规划的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于测试数据的覆盖评估方法及装置
本专利技术涉及计算机测试
，具体涉及一种基于测试数据的覆盖评估方法及装置。
技术介绍
软件的测试是软件开发过程中不可或缺的流程，主要涉及测试规划，包括人员、环境、测试周期等因素。测试工作一旦开始执行，测试管理人员就无法根据被测系统的执行情况来实时调整测试规划。一般情况下，在测试规划全部执行完成后，才能简单分析测试的覆盖程度，即根据测试管理人员的经验来判定测试情况，这种方式使得测试效率不高，且无法科学有效地实时调整测试规划。因此，急需要一种可以科学客观地评估测试的覆盖程度的方法，便于实时进行测试工作的调整。需要注意的是，本部分旨在为权利要求书中陈述的本公开的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种基于测试数据的覆盖评估方法及装置，以解决现有技术中根据测试管理人员的经验来判定测试的覆盖程度，从而导致的测试效率不高且无法科学有效地实时调整测试规划的问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种基于测试数据的覆盖评估方法，该方法包括：获取被测系统包括的多个测试子模块；获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；根据各所述子测试覆盖度值和所述总测试覆盖度值，对所述被测系统的测试过程进行评估。作为本专利技术第一方面的优选方式，所述获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值包括：获取各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值；根据覆盖评估计算公式，通过各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值，计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；所述覆盖评估计算公式如下：coverage(Mi)＝(第一种测试过程数据的实际测试值/第一种测试过程数据的预期测试值+第二种测试过程数据的实际测试值/第二种测试过程数据的预期测试值+……+第K种测试过程数据的实际测试值/第K种测试过程数据的预期测试值)/K×100％，其中，Mi为被测系统M中包括的第i个测试子模块，i＝1、2、3……N，N为测试子模块的数量，K为测试子模块中选取的测试过程数据的数量，coverage(Mi)为测试子模块Mi的子测试覆盖度值。作为本专利技术第一方面的优选方式，所述测试过程数据至少包括测试缺陷数据、测试时间数据、测试日志异常记录数据和测试用例数据。作为本专利技术第一方面的优选方式，所述根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值包括：根据总体覆盖评估公式，通过各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；所述总体覆盖评估计算公式如下：coverage(M)＝(∑Ni＝1coverage(Mi))/N，其中，coverage(M)为被测系统M的总测试覆盖度值。第二方面，本专利技术实施例提供一种基于测试数据的覆盖评估装置，该装置包括：模块获取单元，用于获取被测系统包括的多个测试子模块；第一计算单元，用于获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；第二计算单元，用于根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；测试评估单元，用于根据各所述子测试覆盖度值和所述总测试覆盖度值，对所述被测系统的测试过程进行评估。作为本专利技术第二方面的优选方式，所述第一计算单元具体用于：获取各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值；根据覆盖评估计算公式，通过各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值，计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；所述覆盖评估计算公式如下：coverage(Mi)＝(第一种测试过程数据的实际测试值/第一种测试过程数据的预期测试值+第二种测试过程数据的实际测试值/第二种测试过程数据的预期测试值+……+第K种测试过程数据的实际测试值/第K种测试过程数据的预期测试值)/K×100％，其中，Mi为被测系统M中包括的第i个测试子模块，i＝1、2、3……N，N为测试子模块的数量，K为测试子模块中选取的测试过程数据的数量，coverage(Mi)为测试子模块Mi的子测试覆盖度值。作为本专利技术第二方面的优选方式，所述测试过程数据至少包括测试缺陷数据、测试时间数据、测试日志异常记录数据和测试用例数据。作为本专利技术第二方面的优选方式，所述第二计算单元具体用于：根据总体覆盖评估公式，通过各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；所述总体覆盖评估计算公式如下：coverage(M)＝(∑Ni＝1coverage(Mi))/N，其中，coverage(M)为被测系统M的总测试覆盖度值。第三方面，本专利技术实施例提供一种计算设备，包括处理器和存储器，其中所述存储器内存储有执行指令，所述处理器读取所述存储器内的执行指令用于执行如上述基于测试数据的覆盖评估方法所述的步骤。第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，包含计算机执行指令，所述计算机执行指令被用于执行如上述基于测试数据的覆盖评估方法所述的步骤。本专利技术实施例提供的基于测试数据的覆盖评估方法及装置，通过被测系统在测试过程中获取到的各测试子模块的实际测试数据和对应的预期测试数据，然后计算出各测试子模块的子测试覆盖度值，再进一步计算出被测系统的总测试覆盖度值，最后通过比较各子测试覆盖度值和总测试覆盖度值对被测系统的测试过程进行评估，便于测试人员进行测试工作的调整，从而有效解决了现有技术中根据测试管理人员的经验来判定测试的覆盖程度而导致的测试效率不高且无法科学有效地实时调整测试规划的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种基于测试数据的覆盖评估方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种基于测试数据的覆盖评估装置的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种计算设备的结构示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于测试数据的覆盖评估方法，其特征在于，该方法包括：/n获取被测系统包括的多个测试子模块；/n获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；/n根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；/n根据各所述子测试覆盖度值和所述总测试覆盖度值，对所述被测系统的测试过程进行评估。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于测试数据的覆盖评估方法，其特征在于，该方法包括：
获取被测系统包括的多个测试子模块；
获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；
根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；
根据各所述子测试覆盖度值和所述总测试覆盖度值，对所述被测系统的测试过程进行评估。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取各所述测试子模块的测试过程数据的实际测试值和预期测试值，并根据所述测试过程数据的实际测试值和预期测试值计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值包括：
获取各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值；
根据覆盖评估计算公式，通过各所述测试子模块的多种测试过程数据的实际测试值和预期测试值，计算各所述测试子模块的子测试覆盖度值；所述覆盖评估计算公式如下：
coverage(Mi)＝(第一种测试过程数据的实际测试值/第一种测试过程数据的预期测试值+第二种测试过程数据的实际测试值/第二种测试过程数据的预期测试值+……+第K种测试过程数据的实际测试值/第K种测试过程数据的预期测试值)/K×100％，
其中，Mi为被测系统M中包括的第i个测试子模块，i＝1、2、3……N，N为测试子模块的数量，K为测试子模块中选取的测试过程数据的数量，coverage(Mi)为测试子模块Mi的子测试覆盖度值。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试过程数据至少包括测试缺陷数据、测试时间数据、测试日志异常记录数据和测试用例数据。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值包括：
根据总体覆盖评估公式，通过各所述子测试覆盖度值，计算所述被测系统的总测试覆盖度值；所述总体覆盖评估计算公式如下：
coverage(M)＝(∑Ni＝1coverage(Mi))/N，
其中，coverage(M)为被测系统M的总测试覆盖度值。


5.一种基于测试数据的覆盖评估装置，其特征在于，该装置包括：
模块获取单元，用于获取被测系统包括的多个测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫义，朱玲芳，
申请(专利权)人：电信科学技术第十研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61