一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法技术

本发明专利技术公开了一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法，包括如下几个步骤：步骤一：STDF文件的读取：对同一批lot的测试数据实时解析过程中是循环对同一个STDF文件多次读取；步骤二：文件指针的保存：每次解析结束后保存一下当前的文件指针位置，下一次直接跳到当前位置继续往后解析，把每次保存的文件指针放在在一个完整记录的结尾和下一个记录开始的地方，下次直接从下一个记录头开始解析，若最后一个记录不完整就把指针保存在最后一个完整记录的末尾。本发明专利技术中，解析过程中根据STDF的PRR记录中的测试时间的信息自适应调整解析周期并实时把解析过程调整到上下料的时间间隙，避免了解析过程对测试时间的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法
本专利技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法。
技术介绍
当前测试设备实时监控系统一般有三种主流的数据采集方式，GPIB硬件实现，SECS-GEM协议实现，还有实时解析测试数据的方法，前两种方法投资大、实现复杂，而实时测试数据解析方法基本不需要额外投资，本专利技术也属于一种实时测试数据解析方法，所以这里我们仅对比不同的实时测试数据解析方法的优缺点。1.通过解析临时文本格式的数据文件，文本格式的数据文件非标准数据格式，不同测试机文本数据格式都不同，另外即使是同样的测试平台，测试程序不同也会导致数据格式有变化，所以解析方法也不通用,需要不断更新解析器来做到兼容。而且开启测试机的文本格式的测试数据也会额外占用测试机电脑的CPU,内存和硬盘资源。2.也有通过实时上传STDF文件，或者拆分STDF实时上传的方式实现的(拆分STDF时进行了一次粗略的解析，传到后台后还需要合并且再做一次完整解析；而且拆分上传过程中把原始数据块完整上传包括非必要的冗余数据，无法根据需求精简数据传输，不够灵活，数据传输效率也不够高。3.现有的数据解析方法一般都是固定频率访问测试数据文件，不能适应各种各样的测试程序生成的数据，不同测试程序的测试时间不一样正常情况测试时间可以从十几毫秒到几十秒的长度，如果访问数据太频繁肯定会影响测试机的效率，导致测试机卡顿，测试时间边长，测试时间越长成本越高。为了解决上述存在的问题，我们提出一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法。
技术实现思路
为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法，包括如下几个步骤:步骤一：STDF文件的读取：对同一批lot的测试数据实时解析过程中是循环对同一个STDF文件多次读取；步骤二：文件指针的保存：每次解析结束后保存一下当前的文件指针位置，下一次直接跳到当前位置继续往后解析，把每次保存的文件指针放在一个完整记录的结尾和下一个记录开始的地方，下次直接从下一个记录头开始解析，若最后一个记录不完整就把指针保存在最后一个完整记录的末尾；步骤四：STDF文件的解析，每次保存的文件指针的位置是在一对(或者一组)完整PIR/PRR对的最后一个PRR末尾，若当前解析的最后一组数据不完整(没有或者缺少PRR或者最后一个PRR记录不完整)则忽略最后一组数据，而保存的文件指针指向上一对(或者一组)完整的PIR/PRR对的末尾，当前这组不完整的数据留待下次解析；步骤五：根据需求简化需要网络传输的数据：把解析出来的数据通过网络传输到服务器上并存储到数据库中，使得web服务器就可以把数据库中的实时数据展示到网页前台，简化传输数据可以减少对网络资源的占用同时提高系统更新及时性；步骤六：自适应调整解析周期：在实时解析STDF的时候，测试机同时也在向STDF末尾添加新的测试数据，所以需要按照一个频率重复解析同一个STDF数据文件(只解析增量部分)，不停获取新增的信息来实现的实时监控系统的数据更新，一般情况都是设置一个固定的解析周期，为了保证系统刷新的及时，一般设置在1s～2s左右；步骤七：解析测试时间：在解析了前面数颗芯片的测试数据后，就可以从数据中取出了相对准确的测试时间，若测试时间相对于“期望刷新时间”比较长，就可以用解析出来的测试时间作为新的解析周期，这样就实现了解析频率的自适应调整，且适用于不同测试平台，不同测试时间的测试程序生成的STDF数据；步骤八：通过上下料的时间间隙来解析STDF，包括如下两个步骤：第一步：获取上下料时间：解析一定量的芯片数据，然后计算出上下料时间的平均值，为了计算出上下料时间，需要在解析程序中开启计时器，在解析了一定数量的芯片数据后，结合计时器的时间和测试时间来算出上下料时间得出计算公式：i＝(L-∑t)/n，其中,i表示上下料时间，n表示测试的芯片数量，t表示测试时间，L表示定时器时常；第二步，对获取上下料时间的调整：通过多组数据计算多次上下料时间，然后取其中的最小值更加接近实际上下料的时间。步骤九：解析周期：知道了测试时间和上下料时间后，将解析时间点移至上下料的时间间隙，然后就用测试时间加上下料时间作为默认解析周期来让每次解析时间点都在上下料的时间间隙。步骤十：自动调整解析点到上下料时间间隙：当遇到解析点不在上下料时间间隙时，后面的每次解析点我们都让它提前一些(Δt＝i/2)，Δt为测试时间变化量，在经过一次或者多次(在测试稳定的时候，调整次数最多为：2t/i)调整后，解析点就可以回到上下料的时间间隙，然后我们再恢复默认解析时间间隔。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：第一，基于STDF通用测试数据，通用性非常强，投资非常小。第二，增量读取的方式不会因为STDF文件变大而影响解析时间，能确保每次实时解析的快速，减少对测试机电脑的资源占用。第三，解析是在测试机端进行的，可根据需求自由选择需要传输的数据，提高传输效率。第四，解析过程中根据STDF的PRR记录中的测试时间的信息自适应调整解析周期并实时把解析过程调整到上下料的时间间隙，避免了解析过程对测试时间的影响；第五，通过增量解析的方法实现了STDF数据文件的实时快速解析，使用了增量解析后每次解析耗时可以降到测试时间的1％以下，同时也大幅度降低了对测试时间的影响，其中的关键点是保存的文件指针的指向位置，为了保证下次解析的成功和方便，本专利技术把每次保存的文件指针指向最后一个组完整的PRR记录末尾。第六，通过实时自适应调整解析周期和解析时间点的算法来把解析过程调整到上下料时间间隙内完成，这样完全排除了实时解析对测试时间的影响。第七，由于实现了测试机端的STDF实时解析，就可以对需要传输数据进行精简来提高数据传输效率和系统更新的及时性。附图说明图1为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法的传统的半导体设备实时监控和报警系统框图；图2为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中STDF数据文件的增量解析的流程图；图3为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中增量读取STDF时多次解析过程中文件指针保存位置的示意图；图4为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中自动把解析过程调整到上下料时间间隙的示意图。图5为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中长测试时间过程中的多次解析示意图；图6为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中增量解析的效率分析图表；图7为为本专利技术提出的一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法中解析时间和上下料时间对比图表；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法，其特征在于，包括如下几个步骤:/n步骤一：STDF文件的读取：对同一批lot的测试数据实时解析，即循环对同一个STDF文件多次读取；/n步骤二：文件指针的保存：每次解析结束后保存一下当前的文件指针位置，下一次直接跳到当前位置继续往后解析，把每次保存的文件指针放在一个完整记录的结尾和下一个记录开始的地方，下次直接从下一个记录头开始解析，若最后一个记录不完整就把指针保存在最后一个完整记录的末尾；/n步骤四：STDF文件的解析:每次保存的文件指针的位置是在一对完整PIR/PRR对的最后一个PRR末尾，若当前解析的最后一组数据不完整，则忽略最后一组数据，而保存的文件指针指向上一对完整的PIR/PRR对的末尾，当前这组不完整的数据留待下次解析；/n步骤五：根据需求简化需要网络传输的数据：把解析出来的数据通过网络传输到服务器上并存储到数据库中，使得web服务器可以把数据库中的实时数据展示到网页前台；/n步骤六：自适应调整解析周期：在实时解析STDF的时候，测试机同时也在向STDF末尾添加新的测试数据，所以需要按照一个频率重复解析同一个STDF数据文件，只解析增量部分，不停获取新增的信息来实现的实时监控系统的数据更新，一般情况都是设置一个固定的解析周期，为了保证系统刷新的及时，一般设置在1s～2s左右；/n步骤七：解析测试时间：在解析了前面数颗芯片的测试数据后，就可以从数据中取出了相对准确的测试时间，若测试时间相对于“期望刷新时间”比较长，就可以用解析出来的测试时间作为新的解析周期；/n步骤八：通过上下料的时间间隙来解析STDF，包括如下两个步骤：/n第一步：获取上下料时间：解析一定量的芯片数据，然后计算出上下料时间的平均值，为了计算出上下料时间，需要在解析程序中开启计时器，在解析了一定数量的芯片数据后，结合计时器的时间和测试时间来算出上下料时间得出计算公式：i＝(L-∑t)/n，其中,i表示上下料时间，n表示测试的芯片数量，t表示测试时间，L表示定时器时长；/n第二步，对获取上下料时间的调整：通过多组数据计算多次上下料时间，取其中的最小值。/n步骤九：解析周期：知道了测试时间和上下料时间后，将解析时间点移至上下料的时间间隙，然后用测试时间加上下料时间作为默认解析周期来让每次解析时间点都在上下料的时间间隙。/n步骤十：自动调整解析点到上下料时间间隙：当遇到解析点不在上下料时间间隙时，后面的每次解析点我们都让它提前一些，在测试稳定的时候，调整次数最多为：2t/i，调整后，解析点就可以回到上下料的时间间隙，然后再恢复默认解析时间间隔。/n...

【技术特征摘要】
1.一种可以调整解析周期与解析点的STDF快速增量解析方法，其特征在于，包括如下几个步骤:
步骤一：STDF文件的读取：对同一批lot的测试数据实时解析，即循环对同一个STDF文件多次读取；
步骤二：文件指针的保存：每次解析结束后保存一下当前的文件指针位置，下一次直接跳到当前位置继续往后解析，把每次保存的文件指针放在一个完整记录的结尾和下一个记录开始的地方，下次直接从下一个记录头开始解析，若最后一个记录不完整就把指针保存在最后一个完整记录的末尾；
步骤四：STDF文件的解析:每次保存的文件指针的位置是在一对完整PIR/PRR对的最后一个PRR末尾，若当前解析的最后一组数据不完整，则忽略最后一组数据，而保存的文件指针指向上一对完整的PIR/PRR对的末尾，当前这组不完整的数据留待下次解析；
步骤五：根据需求简化需要网络传输的数据：把解析出来的数据通过网络传输到服务器上并存储到数据库中，使得web服务器可以把数据库中的实时数据展示到网页前台；
步骤六：自适应调整解析周期：在实时解析STDF的时候，测试机同时也在向STDF末尾添加新的测试数据，所以需要按照一个频率重复解析同一个STDF数据文件，只解析增量部分，不停获取新增的信息来实现的实时监控系统的数据更新，一般情况都是设置一个固定的解...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵银波，
申请(专利权)人：赵银波，
类型：发明
国别省市：江苏;32