一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统，该方法步骤包括：步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序；步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照；步骤S3：根据供电电流是否超过电流指定值，对被测微处理器进行终点电测试，以判定是否发生瞬时剂量率闩锁效应。该测试系统用来实施上述测试方法。本发明专利技术具有原理简单、易实现、能够提高测试准确度等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统
本专利技术主要涉及到微处理器的检测
，特指一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统。
技术介绍
现代微处理器凭借其集成度高、功能复杂等特点，在航空、航天领域得到了越来越广泛的应用。然而，应用于航空、航天等恶劣辐射环境的现代微处理器有可能遭遇瞬时高剂量率射线辐照，发生瞬时剂量率闩锁效应，引发微处理器瞬间产生大的电流，使器件功能错误甚至烧毁，造成不可估量的损失。因此，准确评估微处理器对瞬时剂量率闩锁效应的敏感程度尤为重要。中华人民共和国国家军用标准《GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序》中的方法1020.1“剂量率感应锁定试验程序”规定“应根据DUT电源电流、在规定时间范围内输出信号电压的恢复以及辐射后的现场功能测试这几方面的情况综合确定”是否发生了瞬时剂量率闩锁效应。传统的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法是电流监测结合功能测试。当瞬时高剂量率射线辐照后的电源电流超过规定值则判定发生瞬时剂量率闩锁效应。电流规定值一般优选为集成电路正常工作电流的1.5倍至2倍。如果电源电流未超过规定值，则进一步进行功能测试，如果功能测试不通过，则仍判定发生瞬时剂量率闩锁效应，以防止部分内部电路闩锁但电流未超过规定值的情况漏报。然而，随着微电子工艺水平的进步，现代微处理器集成度高、功耗大，功耗管理复杂，按照传统瞬时剂量率闩锁效应的测试方法对微处理器进行进行瞬时剂量率闩锁效应测试可能会发生误报。现代微处理器的内部模块众多，正常工作时内部各模块通常并非全部开启，而是通过微处理器内部的电源管理单元选择性地开启，以节省功耗。当进行该类微处理器的瞬时剂量率闩锁试验时，其内部电源管理单元可能会在瞬时高剂量率射线辐照下因瞬时剂量率翻转效应而错误开启正常工作时未开启的内部模块，使微处理器的电源电流超过规定值，但此时并未发生瞬时剂量率闩锁效应，从而发生误报。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本专利技术提供一种原理简单、易实现、能够提高测试准确度的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统。为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其步骤包括：步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序；步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照；步骤S3：根据供电电流是否超过电流指定值，对被测微处理器进行终点电测试，以判定是否发生瞬时剂量率闩锁效应。作为本专利技术测试方法的进一步改进：在所述步骤S3中，若发现供电电流超过电流指定值，不断电复位被测微处理器并重新运行微处理器测试程序；复位之后，若供电电流未超过电流指定值且微处理器测试程序运行状态正常，则对被测微处理器进行终点电测试；否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应。作为本专利技术测试方法的进一步改进：在所述步骤S3中，若发现供电电流未超过电流指定值，则判断微处理器测试程序运行状态异常；如若发生异常，不断电复位被测微处理器并重新运行微处理器测试程序；复位之后，若供电电流未超过电流指定值且微处理器测试程序运行状态正常，则对被测微处理器进行终点电测试；否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应；如若未发生异常，则直接对被测微处理器进行终点电测试。作为本专利技术测试方法的进一步改进：在对被测微处理器进行终点电测试时，若测试合格，则判断未发生瞬时剂量率闩锁效应，否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应。终点电测试应符合被测微处理器详细规范的规定。作为本专利技术测试方法的进一步改进：所述电流指定值为被测微处理器运行微处理器测试程序时正常工作电流的1.5倍至2倍。一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试系统，其包括控制器和电源；所述控制器连接被测微处理器和所述电源，与被测微处理器双向通信，控制被测微处理器运行微处理器测试程序并测试其运行状态是否正常，读取电源的供电电流并控制其供电或断电；所述电源连接被测微处理器和控制器，用来为被测微处理器供电并监控供电电流。作为本专利技术测试系统的进一步改进：所述测试程序的运行状态用来反映被测微处理器的运行状态是否正常。作为本专利技术测试系统的进一步改进：所述电源向所述控制器报告供电电流，并根据控制器要求供电或断电。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：1、本专利技术的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统，原理简单、易实现，能够准确判断微处理器瞬时剂量率闩锁效应的发生，提高微处理器瞬时剂量率闩锁效应评估的准确度。2、本专利技术的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统，在微处理器发生供电电流增大或功能异常时对微处理器进行不断电复位重启，通过判断功能和供电电流是否恢复正常来判断是否发生瞬时剂量率闩锁效应，消除了瞬时剂量率闩锁效应误报的可能。附图说明图1是本专利技术测试方法在具体应用实施例中的流程示意图。图2是本专利技术测试系统在具体应用实施例中的结构原理示意图。具体实施方式以下将结合说明书附图和具体实施例对本专利技术做进一步详细说明。如图1所示，本专利技术的一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其步骤为：步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序。步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照。步骤S3：若发现供电电流超过电流指定值，则转步骤S5，否则转步骤S4。在具体应用实例中，优选电流指定值为被测微处理器运行微处理器测试程序时正常工作电流的1.5倍至2倍。步骤S4：若发现微处理器测试程序运行状态异常，则转步骤S5，否则转步骤S6。步骤S5：不断电复位被测微处理器并重新运行微处理器测试程序，若供电电流未超过电流指定值且微处理器测试程序运行状态正常，则转步骤S6，否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应。步骤S6：对被测微处理器进行终点电测试，若测试合格，则判断未发生瞬时剂量率闩锁效应，否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应。终点电测试应符合被测微处理器详细规范的规定。如图2所示，本专利技术进一步提供一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试系统，包括控制器和电源。被测微处理器连接控制器和电源，与控制器双向通信，运行微处理器测试程序，该测试程序的运行状态能够反映被测微处理器的运行状态是否正常；控制器连接被测微处理器和电源，与被测微处理器双向通信，控制被测微处理器运行微处理器测试程序并监控其运行状态是否正常，读取电源的供电电流并控制其供电或断电；电源连接被测微处理器和控制器，为被测微处理器供电并监控供电电流，向控制器报告供电电流，并根据控制器要求供电或断电。结合图1，上述瞬时剂量率闩锁测试系统的工作流程为：步骤S1：瞬时剂量率闩锁测试系统的电源为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序。步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照。步骤S3：若瞬时剂量率闩锁本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其特征在于，其步骤包括：/n步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序；/n步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照；/n步骤S3：根据供电电流是否超过电流指定值，对被测微处理器进行终点电测试，以判定是否发生瞬时剂量率闩锁效应。/n

【技术特征摘要】
1.一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其特征在于，其步骤包括：
步骤S1：为被测微处理器供电并监控供电电流，被测微处理器运行微处理器测试程序；
步骤S2：对被测微处理器进行瞬时高剂量率射线辐照；
步骤S3：根据供电电流是否超过电流指定值，对被测微处理器进行终点电测试，以判定是否发生瞬时剂量率闩锁效应。


2.根据权利要求1所述的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其特征在于，在所述步骤S3中，若发现供电电流超过电流指定值，不断电复位被测微处理器并重新运行微处理器测试程序；复位之后，若供电电流未超过电流指定值且微处理器测试程序运行状态正常，则对被测微处理器进行终点电测试；否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应。


3.根据权利要求1所述的微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法，其特征在于，在所述步骤S3中，若发现供电电流未超过电流指定值，则判断微处理器测试程序运行状态异常；如若发生异常，不断电复位被测微处理器并重新运行微处理器测试程序；复位之后，若供电电流未超过电流指定值且微处理器测试程序运行状态正常，则对被测微处理器进行终点电测试；否则判断发生瞬时剂量率闩锁效应；如若未发生异常，则直接对被测微处理器进行终点电测试。...

【专利技术属性】
技术研发人员：池雅庆，梁斌，陈建军，郭阳，袁珩洲，刘必慰，宋睿强，吴振宇，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43