一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法技术方案

一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。一种继电器触点寿命检测系统检测方法,具有10个步骤。该检测方法能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测该检测方法还能实时监测被测触点K0状态，当监测到被测触点K0状态异常时自动停止检测。

【技术实现步骤摘要】
一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法
本专利技术涉及继电器检验领域，特别涉及一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法。
技术介绍
继电器为一种电控制器件，具体是当输入激励量的变化达到预定值时，输出触点的状态发生阶跃变化的一种电器，输出触点通常用于自动化的控制电路中。根据《GB/T14598.2-2011量度继电器和保护装置第1部分：通用要求》要求，需要对继电器的触点进行机械寿命和电寿命两种检测。机械寿命检测要求触点在空载条件下接通、断开10000次数。电寿命检测要求触点在带载条件下接通、断开1000次，触点的接通容量不小于1000W,断开容量不小于30W,负载回路直流电压不大于242V，负载为时间常数L/R＝40ms的直流有感负荷。现有技术主要使用两种方法对继电器的触点进行机械寿命和电寿命检测，具体如下：第一、通过时间继电器、中间继电器、接触器实现被测继电器触点的分合控制和负载的投切。将两台时间继电器的时间定值分别整定为被测触点K0的分合时间，通过将两台时间继电器的辅助触点串入彼此线圈励磁回路从而实现对被测触点K0分合的循环控制。缺点如下：(1)无法设定和记录被测触点K0的检测次数，仅能通过时间继电器设定的动作周期与检测总时长进行除法运算计算得出检测次数；(2)仅能投切同一套负载，无法实现不同负载的切换，不能满足现有标准的要求；(3)仅能对单稳态继电器进行检测，无法对双稳态继电器进行检测；(4)电寿命检测过程中仅能依靠人工读取电压表示数判定被测触点K0的分合状态是否正常，当被测触点K0损坏后无法自动断开负载并停止检测。第二、通过工控机配合数字量I/O卡和DAS卡、接触器实现被测继电器触点的分合控制和负载的投切。DAS卡作为A/D采样板，实现被测触点K0两端的电压和流经触点的电流采样。I/O卡用于控制电流检测回路的选择和被测触点K0的打开与闭合。工控机运行控制软件对采集到的电信号分析处理后发出控制命令。第二种方法的缺点是：(1)控制成本高；(2)体积庞大；(3)仅能对单稳态继电器进行检测，无法对双稳态继电器进行检测。因此，针对现有技术不足，提供一种继电器触点寿命检测系统以解决现有技术不足甚为必要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种继电器触点寿命检测系统。该继电器触点寿命检测系统能同时兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测。本专利技术的上述目的通过以下技术措施实现：提供一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制。I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制。接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切。负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量。被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。本专利技术的继电器触点寿命检测系统,还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6。第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接。优选的，上述被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。优选的，上述监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2。微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。优选的，上述I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接。优选的，上述第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接。优选的，上述第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。优选的，上述接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1。所述负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2。接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。本专利技术的继电器触点寿命检测系统,还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接。本专利技术的继电器触点寿命检测系统,还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接。当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点。优选的，上述微处理器U1的型号意法半导体公司的STM32F系列的32位ARM微控制器。优选的，上述微处理器U1的内核为Cortex-M3。电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。本专利技术的一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。本专利技术的另一目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种继电器触点寿命检测系统检测方法。该继电器触点寿命检测系统检测方法能同时兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测。本专利技术的上述目的通过以下技术措施实现：提供一种继电器触点寿命本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种继电器触点寿命检测系统,其特征在于：设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件，/n监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制；/nI/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制；/n接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切；/n负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量；/n被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。/n

【技术特征摘要】
1.一种继电器触点寿命检测系统,其特征在于：设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件，
监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制；
I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制；
接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切；
负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量；
被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。


2.根据权利要求1所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6，
第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接。


3.根据权利要求2所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。


4.根据权利要求3所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2，
微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。


5.根据权利要求4所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接；
所述第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接；
所述第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。


6.根据权利要求5所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1,
所述负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2，
接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。


7.根据权利要求6所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接；
还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接；
当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点；
所述微处理器U1的型号意法半导体公司的STM32F系列的32位ARM微控制器；
所述微处理器U1的内核为Cortex-M3；
电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。


8.一种继电器触点寿命检测系统检测方法,采用权利要求1至7任意一项所述的继电器触点寿命检测系统,其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李亚萍，陈新美，李嘉，杨大林，张又珺，李卫东，刘园伟，原晓磊，李梁，王俊辉，侯明义，孙迅雷，
申请(专利权)人：许昌开普检测研究院股份有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41