【技术实现步骤摘要】
一种消除激光测振仪基点振动影响的测振系统
本专利技术属于激光测振
，具体是一种消除激光测振仪基点振动影响的测振系统。
技术介绍
振动和噪声往往给人们生活带来很多困扰，机械行业或建筑行业中，过大的振动甚至会带来安全隐患，所以振动的测量和分析对于物体振动的研究显得尤为重要。传统接触式测量方式是在被测物体上布置若干传感器，通过传感器和被测物体紧密接触，将被测物体的振动信号采集起来并进行分析。然而接触式的测量方式也有一些缺陷，比如安装要求高，必须将传感器牢固的固定在被测物体上，有时所需测的位置难以安装，并且接触式传感器测量方式量程往往有限制要求；特别是在高温、高压和强磁场等特殊条件下，采用电信号建立的固定式传感器基本不能使用。激光测振仪是基于激光干涉原理，是一种非接触式的测量方法，可以应用在许多其他测振方式无法测量特殊工况下。激光测振仪频率和相位响应都较快，具有高精度，测量速度快的特点。但激光测振仪是布置在场地中的，通过测量场地上的被测物体与激光测振仪之间的相对运动来描述物体振动，当布置激光测振仪的基点有一定的场地振动...
【技术保护点】
1.一种消除激光测振仪基点振动影响的测振系统，其特征在于，包括三角支撑架、激光测振仪、对称反光盒、信号放大器、数据采集器和处理器，所述激光测振仪安装在三角支撑架上，用于检测被测物体的振动信号；所述对称反光盒安装在被测物体的待测点位置；所述激光测振仪包括第一激光测振仪和第二激光测振仪，所述第一激光测振仪发出的激光束经对称反光盒内刚性反光板正面反射后，回到第一激光测振仪内，用于探测被测物体的正向振动信号；所述第二激光测振仪发出的激光束经对称反光盒内刚性反光板背面反射后，回到第二激光测振仪内，用于探测被测物体的反向振动信号；所述第一激光测振仪、第二激光测振仪分别与信号放大器连接，...
【技术特征摘要】
1.一种消除激光测振仪基点振动影响的测振系统，其特征在于，包括三角支撑架、激光测振仪、对称反光盒、信号放大器、数据采集器和处理器，所述激光测振仪安装在三角支撑架上，用于检测被测物体的振动信号；所述对称反光盒安装在被测物体的待测点位置；所述激光测振仪包括第一激光测振仪和第二激光测振仪，所述第一激光测振仪发出的激光束经对称反光盒内刚性反光板正面反射后，回到第一激光测振仪内，用于探测被测物体的正向振动信号；所述第二激光测振仪发出的激光束经对称反光盒内刚性反光板背面反射后，回到第二激光测振仪内，用于探测被测物体的反向振动信号；所述第一激光测振仪、第二激光测振仪分别与信号放大器连接，所述信号放大器与处理器通过数据采集器连接，所述处理器根据第一激光测振仪、第二激光测振仪分别测得的正向振动信号、反向振动信号得到被测物体的绝对振动信号。
2.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙立国，肖浩东，叶飞翔，赵伟明，索博雅，张兴龙，
申请(专利权)人：河海大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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