【技术实现步骤摘要】
一种料仓料位中心断面解析系统及方法
本专利技术涉及工业计算机实时控制
,具体涉及一种料仓料位中心断面解析系统及方法。
技术介绍
工业生产中,经常采用料仓对固体物料进行储存和中转,以保证生产的连续性。对料仓料位的准确测量是实现料仓上料及下料自动控制的前提条件。目前,对料仓料位的测量通常采用的仪表有雷达料位计、超声波料位计、重锤料位计和称重式料位计等。雷达料位计、超声波料位计、重锤料位计只能进行点式测量,由于料仓通常具有较大的横截面积并且料仓内物料的上表面并非平面,所以点式测量无法完全反映料仓料位的状态,另外,雷达料位计和超声波料位计在料仓上料过程中易受到物料流的干扰,重锤料位计虽然不易受到上料过程中物料流的干扰,但其为间断测量,不具备连续性。称重式料位计不易受到上料过程中物料流的干扰,但其检测值为料仓内物料的重量,与自动控制要求的料仓料位有所不同,也无法完全反映料仓料位的状态。专利技术专利CN108534860A,提供一种基于图像分析的重锤料位检测系统和检测方法,包括控制模块、摄像头、信息采集模块、无线通信模块、用户、重锤和缆线滚轮组件;所述重锤置于所述料仓内、并通过电机与控制模块相连,所述摄像头置于料仓壁的上方,用于拍摄料仓内重锤移动的图像,图像经由信息采集模块发送给控制模块,所述控制模块对接收到的图像帧进行计算处理,得到料位值后通过无线通信模块传输给用户。该专利技术具有集成度高、控制部件少、成本低、工作可靠、易于使用和维护等优点,克服了传统的重锤料位测量装置维护成本高的缺点,避免了超声波料位测量装置对 ...
【技术保护点】
1.一种料仓料位中心断面解析系统,包括料仓、称重式料位计和和料仓料位检测系统,所述的料仓上部为中空圆柱,下部顺接倒立中空圆台,所述的称重式料位计设置在料仓下部外壁上;其特征在于,所述的料仓料位检测系统为料仓料位中心断面解析系统,包括接触式料位开关Ⅰ、接触式料位开关Ⅱ、逻辑控制器和计算机软件系统;所述的接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ设置在料仓边壁处,接触式料位开关Ⅱ安装位置高于接触式料位开关Ⅰ,所述的逻辑控制器与称重式料位计、接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ电性相连,所述的计算机软件系统与逻辑控制器电性相连。/n
【技术特征摘要】
1.一种料仓料位中心断面解析系统,包括料仓、称重式料位计和和料仓料位检测系统,所述的料仓上部为中空圆柱,下部顺接倒立中空圆台,所述的称重式料位计设置在料仓下部外壁上;其特征在于,所述的料仓料位检测系统为料仓料位中心断面解析系统,包括接触式料位开关Ⅰ、接触式料位开关Ⅱ、逻辑控制器和计算机软件系统;所述的接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ设置在料仓边壁处,接触式料位开关Ⅱ安装位置高于接触式料位开关Ⅰ,所述的逻辑控制器与称重式料位计、接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ电性相连,所述的计算机软件系统与逻辑控制器电性相连。
2.一种料仓料位中心断面解析方法,采用如权利要求1所述的料仓料位中心断面解析系统,其特征在于所述的解析方法包括以下步骤:
步骤1、计算得出仓内物料重量特征值;
设料仓内物料刚刚覆盖中空圆台小半径平面时的重量为特征值WA(t),WA由公式(1)确定:
设料仓内物料刚刚覆盖中空圆台大半径平面时的重量为特征值WB(t),WB由公式(2)确定:
其中ρ为物料堆密度(t/m3),θ为物料安息角(°);R为中空圆台大半径(m);r为中空圆台小半径(m);h为中空圆台高度(m);A1、A2为修正系数;
步骤2、计算得出料仓料位最小值;
设料仓内物料最低点距离料仓底部的高度为料仓料位最小值HMIN(m),HMIN由公式(3)确定:
其中W为称重式料位计2检测值即料仓内物料重量(t);B1、B2、B3为修正系数;
步骤3、计算得出料仓料位最大值;
设料仓内物料最高点距离料仓底部的高度为料仓料位最大值HMAX(m),HMAX由公式(4)确定:
其中C1、C2、C3、C4为修正系数;
步骤4、偏差大于阈值时予以报警;
分别判定料仓料位最小值与接触式料位开关Ⅰ检测值、接触式料位开关Ⅱ检测值的偏差,当公式(5)成立时予以报警:
其中HL为接触式料位开关Ⅰ对应料仓低料位值(m);HH为接触式料位开关Ⅱ对应料仓高料位值(m);HA为接触式料位开关Ⅰ检测值(0、1),HB为接触式料位开关Ⅱ检测值(0、1),HD为料仓料位报警偏差阈值(m);
HL和HH数值的确定,根据接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ的安装位置,分为三种情况:
1)当接触式料位开关Ⅰ和接触式料位开关Ⅱ...
【专利技术属性】
技术研发人员:张巍,吕庆,
申请(专利权)人:中冶北方大连工程技术有限公司,
类型:发明
国别省市:辽宁;21
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