一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，包括传送装置，所述传送装置的上部固定设有遮光暗箱，所述暗箱的位于传送方向上游一侧为透光侧，所述透光侧的上游侧设有聚光罩，聚光罩的入射口处设有光源设备；暗箱的上表面开有透光口，所述透光口处对接有相机。本实用新型专利技术结构紧凑、合理，操作方便，具有快速、高效、精准检测平板膜支撑体表面大孔、大洞、微裂纹、凹坑、斑点等缺陷、自动化程序高。本实用新型专利技术体积小，占地面积小，适用于单个或多个平板陶瓷膜支撑体的连续检测，适应于工业化大规模生产。

【技术实现步骤摘要】
一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置
本技术涉及表面缺陷检测装置
，尤其是一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置。
技术介绍
平板陶瓷膜具有热稳定性好，耐酸、耐碱、耐有机溶剂，PH值适用范围宽，机械强度大，易清洗、易再生，能耗低等特点。目前针对陶瓷平板膜支撑体表面缺陷的检测方法，主要是通过目测和泡点法观察，泡点法是将平板陶瓷支撑体放入支离子水中，通入氮气，慢慢加压，在较低的压力下，看到有气泡出现，观察到大孔、大洞、裂纹等缺陷，但这种方法需要浸泡到水中，测试完成后，放到烘箱中烘干，烘干后才能喷膜，检测过程造成支撑体的污染，烘干过程又增加了能耗，过程繁锁，工作量大效率低，不适用大规模生产。
技术实现思路
本申请人针对上述现有生产技术中的缺点，提供一种结构合理的高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，可以快速、高效、精准检测平板膜支撑体表面大孔、大洞、微裂纹、凹坑、斑点等缺陷，自动化程度高，适应于工业化大规模生产。本技术所采用的技术方案如下：一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，包括传送装置，所述传送装置的上部固定设有遮光暗箱，所述暗箱的位于传送方向上游一侧为透光侧，所述透光侧的上游侧设有聚光罩，聚光罩的入射口处设有光源设备；暗箱的上表面开有透光口，所述透光口处对接有相机。作为上述技术方案的进一步改进：所述聚光罩呈喇叭口形，且其靠近透光侧的一侧为小径端，聚光罩与所述透光侧之间留有间隙。传送装置的上表面沿传送方向放有待检测的平板陶瓷膜支撑体，其内部设有贯通的通道，通道延伸方向与传送装置的传送方向一致。暗箱采用遮光布固定在框架上形成箱体结构。位于传送方向上、下游两侧面的所述遮光布，设置成门帘形式。相机与计算机电连接，相机采用像素在38万以上的黑白摄像机、彩色摄像机或线阵列摄像机。光源设备采用LED、白炽灯、钨灯管或卤素灯。所述传送装置采用同步带装置。本技术的有益效果如下：本技术结构紧凑、合理，操作方便，具有快速、高效、精准检测平板膜支撑体表面大孔、大洞、微裂纹、凹坑、斑点等缺陷、自动化程序高。本技术体积小，占地面积小，适用于单个或多个平板陶瓷膜支撑体的连续检测，适应于工业化大规模生产。附图说明图1为本实用的结构示意图。图2为本技术暗箱和聚光罩的安装结构示意图。图3为本技术平板陶瓷膜支撑体位于传送装置上表面的结构示意图。其中：1、相机；2、计算机；3、平板陶瓷膜支撑体；4、通道；5、光源设备；6、传送装置；7、聚光罩；8、暗箱；9、透光口。具体实施方式下面结合附图，说明本技术的具体实施方式。如图1-图3所示，本实施例的高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，包括传送装置6，传送装置6的上部固定设有遮光暗箱8，暗箱8的位于传送方向上游一侧为透光侧，透光侧的上游侧设有聚光罩7，聚光罩7的入射口处设有光源设备5；暗箱8的上表面开有透光口9，透光口9处对接有相机1。聚光罩7呈喇叭口形，且其靠近透光侧的一侧为小径端，聚光罩7与透光侧之间留有间隙。传送装置6的上表面沿传送方向放有待检测的平板陶瓷膜支撑体3，其内部设有贯通的通道4，通道4延伸方向与传送装置6的传送方向一致。暗箱8采用遮光布固定在框架上形成箱体结构。位于传送方向上、下游两侧面的遮光布，设置成门帘形式。相机1与计算机2电连接，相机1采用像素在38万以上的黑白摄像机、彩色摄像机或线阵列摄像机。光源设备5采用LED、白炽灯、钨灯管或卤素灯。传送装置6采用同步带装置。本技术具体实施过程中，暗箱8可用不锈钢管加工的长方体形状框架，外周用不透光窗帘布缝好密封，其中位于传送装置6上下游的暗箱8两侧用不透光窗帘布做成活动帘(例如门帘形式，靠近底部一侧具有开口)，便于陶瓷平板膜支撑体穿行，且不漏光。喇叭口形的聚光罩7对准陶瓷平板膜支撑体3的一侧截面尺寸与透光侧的截面尺寸一致，光源通过喇叭口进入通道4内，如果陶瓷平板膜支撑体表面有缺陷，就会出现漏光现象，如没有漏光现象，说明此块陶瓷平板膜支撑体是合格的。具体地检测流程：陶瓷平板膜支撑体3放到传送装置6(同步带装置)上，按一定速度运动，当到达暗箱8，停顿10秒，打开光源设备5，光扫到聚光罩7上，从暗箱8的透光侧入设，进入通道4内，当平板陶瓷膜支撑体3表面有大孔、裂纹、大洞等缺陷，就会有漏光现象，漏光缺陷被相机1捕捉，传输给计算机2，计算机系统经过图像处理，很快识别缺陷，计算机2屏幕上有缺陷标识，此块有缺陷的平板陶瓷膜支撑体3通过同步带输送到不合格区域(图中未示出)，没有缺陷的则进入合格区(图中未示出)。其中，计算机2可采用台式或笔记本电脑。本技术适用于单个陶瓷平板膜支撑体3的检测，即传送装置6不启动，单个陶瓷平板膜支撑体3固定在同步带上表面，在暗箱8中完成检测，也适用于多个陶瓷平板膜支撑体元件3的批量检测，如图1所示，多个陶瓷平板膜支撑体3等间距排列在传送装置6的上表面，依次进入暗箱8内，满足连续检测的需求。以上描述是对本技术的解释，不是对技术的限定，本技术所限定的范围参见权利要求，在本技术的保护范围之内，可以作任何形式的修改。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，其特征在于：包括传送装置(6)，所述传送装置(6)的上部固定设有遮光暗箱(8)，所述暗箱(8)的位于传送方向上游一侧为透光侧，所述透光侧的上游侧设有聚光罩(7)，聚光罩(7)的入射口处设有光源设备(5)；暗箱(8)的上表面开有透光口(9)，所述透光口(9)处对接有相机(1)。/n

【技术特征摘要】
1.一种高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，其特征在于：包括传送装置(6)，所述传送装置(6)的上部固定设有遮光暗箱(8)，所述暗箱(8)的位于传送方向上游一侧为透光侧，所述透光侧的上游侧设有聚光罩(7)，聚光罩(7)的入射口处设有光源设备(5)；暗箱(8)的上表面开有透光口(9)，所述透光口(9)处对接有相机(1)。


2.如权利要求1所述的高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，其特征在于：所述聚光罩(7)呈喇叭口形，且其靠近透光侧的一侧为小径端，聚光罩(7)与所述透光侧之间留有间隙。


3.如权利要求1所述的高效检测平板陶瓷膜支撑体表面缺陷装置，其特征在于：传送装置(6)的上表面沿传送方向放有待检测的平板陶瓷膜支撑体(3)，其内部设有贯通的通道(4)，通道(4)延伸方向与传送装置(6)的传送方向一致。

【专利技术属性】
技术研发人员：陈名祥，冯家迪，
申请(专利权)人：江苏省宜兴非金属化工机械厂有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32