灰体辐射率的测定方法技术

一种灰体辐射率的测定方法，是通过双波长探测物体的热辐射强度，来测量辐射率，即提出灰体的热辐射表达公式φ（λ，Ｔ）＝ａ↓［１］λ↑［－５］（ｅ↑［ａ↓［２］／λＴ］－１）↑［－１］，其中，φ（λ，Ｔ）是灰体的热辐射强度，λ为辐射波长，Ｔ为灰体的温度，这里ａ↓［１］，ａ↓［２］是表征辐射率的系数；在相同的温度下，用双波长分别测量灰体的辐射强度，解出系数ａ↓［１］，ａ↓［２］的值，将其代入灰体的热辐射表达公式φ（λ，Ｔ）＝ａ↓［１］λ↑［－５］（ｅ↑［ａ↓［２］／λＴ］－１）↑［－１］中，就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系；再根据灰体的物理模型φ（λ，Ｔ）＝σ（λ，Ｔ）φ（λ，Ｔ）得出实际物体在此温度下的辐射率，其中，φ（λ，Ｔ）为灰体的辐射强度；σ（λ，Ｔ）为灰体的辐射率，０＜σ（λ，Ｔ）＜１；φ（λ，Ｔ）为黑体的辐射强度。本发明专利技术通过精确测量物体（即灰体）的辐射率，用双波长对热辐射的普朗克公式的两个常数项进行标定，来达到精确测量红外辐射温度的目的。具有更广泛的应用领域，特别是高精度的测温领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种灰体的测温方法。特别是涉及一种能够精确测定灰体辐射率，提高 红外测温的精度，并可实现适时显示，存储等智能化功能的。
技术介绍
热辐射的温度测量，因其测温范围宽(_50°C——3000°C)速度快，能实时显示，可 非接触测量等优点。早已广泛应用于钢铁冶炼，陶瓷制造，轻工食品，玻璃制造，晶体 生长等领域。现有的红外测温仪都是根据热辐射的定律来设计的，先把实际物体看成黑 体，测量其温度，然后再按灰体进行辐射率的修正。理想黑体是能够完全吸收入射辐射并 且有最大的辐射率的物体，定义其辐射率为1。实际存在的被测物体称为灰体，它的吸收 率和辐射率都比理想黑体小，而且是一个'随被测物体而变的复杂函数。所以现在的红外 测温仪都要进行辐射率的修正。对被测物体辐射率的修正，是基于对一些金属和金属氧 化物高温下的辐射率研究的经验数据确定的。如铁在1500K时的辐射率为0. 11,而氧化 铁在1500K时的辐射率为0. 89。可见辐射率随温度和材料成分变化是很大的，要想把各种物体的辐射率修正准确， 是很困难的。所以目前红外测温仪的最大问题是辐射率修正不准，使测温精度不高。理 想黑体的物理模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种灰体辐射率的测定方法，其特征在于，是通过双波长探测物体的热辐射强度，来测量辐射率，包括有：　提出灰体的热辐射表达公式φ（λ，Ｔ）＝ａ↓［１］λ↑［－５］（ｅ↑［ａ↓［２］／λＴ］－１）↑［－１］，其中，φ（λ，Ｔ）是灰体的热辐射强度，λ为辐射波长，Ｔ为灰体的温度，这里ａ↓［１］，ａ↓［２］是表征辐射率的系数；　在相同的温度下，用双波长分别测量灰体的辐射强度，解出系数ａ↓［１］，ａ↓［２］的值，将其代入灰体的热辐射表达公式φ（λ，Ｔ）＝ａ↓［１］λ↑［－５］（ｅ↑［ａ↓［２］／λＴ］－１）↑［－１］中，就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系；　再根据灰体的物理模型φ（λ，Ｔ）＝σ（λ，Ｔ）...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：田乃良，
申请(专利权)人：田乃良，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]