发光二极管平均发光强度测试仪制造技术

发光二极管平均发光强度测试仪，其特征是它包括具有水平底板和竖向支架的基座（６），基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负９０°的水平度盘（２），竖向支架具有水平孔（６’），在水平度盘（２）上固定有测试台（１），测试台（１）与竖向支架彼此相隔，在测试台面对水平孔（６’）并与水平孔同轴线处设有插置被测件（４）的插座和调节插座３６０°旋转的垂直度盘（３），光度探测器（５）置于水平孔（６’）中，光度探测器（５）的入射孔径平面与被测件顶端的距离为１００ｍｍ，其输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪（８）相连。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及发光二极管平均发光强度测试仪。
技术介绍
在本技术前，测量发光二极管(LED)发光强度的测试仪，通常是将LED看作点光源，运用距离平方反比定律，在离被测量器件半径10-14倍距离处测量所产生的照度，再换算(定标)成发光强度的数值。这种光强测试仪只能测量光强分布近似余弦辐射体的被测LED，对于不是余弦辐射体的LED、指向性很强、光强空间分布不均匀和不对称的LED，用光度探测器测量得到的发光强度与被测面的照度之间不存在距离平方反比定律。另外，发光二极管管壳复杂图形实际上延伸了器件面积，因而在一定的距离范围内被测LED不能被看作点光源。按现有各种发光二极管光强测试仪得到的数值存在着很大的不确定性，这在全世界范围内均产生了不同程度的混乱。这些都引起了CIE(国际照明委员会)和各国工业协会的关注。近年来CIE推荐采用一个新术语“平均LED强度”，同时规定了两种LED测量的CIE标准，见表1表1
技术实现思路
本技术的目的是提供一种发光二极管平均发光强度测试仪，它符合CIE规定的“平均LED强度”测试标准。本技术的发光二极管平均发光强度测试仪，包括具有水平底板和竖向支架的基座，基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍超，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：实用新型
国别省市：