测量光波波长装置制造方法及图纸

一种测量光波波长装置，其特征在于：盖（３）通过螺钉（５）与座（４）固定连接，并将两块平板（１）固定在一起，螺钉（２）与盖（３）螺纹连接。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种测量仪器上的部件，主要用来测量等厚干涉的光波波长。
技术介绍
目前，没有一种固定的测量等厚干涉的光波波长的装置，想测量的话，需要现组合测量部件，操作复杂，可调性差。
技术实现思路
本技术提供一种测量光波波长装置，解决了现有技术操作复杂，可调性差等问题。本技术采取的具体技术方案是盖3通过螺钉5与座4固定连接，并将两块平板1固定在一起，螺钉2与盖3螺纹连接。使用时，通过调整螺钉2压紧两块平板1，使两块平板之间的夹角达到所要求的角度范围内时就会产生一组平行的等厚涉平纹，通过显微镜测量两个条纹的距离，通过计算得到波长。本技术的优点在于结构简单，使用、操作方便，可调性好。附图说明附图为本技术的结构示意图。具体实施方式盖3通过螺钉5与座4固定连接，并将两块平板1固定在一起，螺钉2与盖3螺纹连接。权利要求1.一种测量光波波长装置，其特特在于盖(3)通过螺钉(5)与座(4)固定连接，并将两块平板(1)固定在一起，螺钉(2)与盖(3)螺纹连接。专利摘要本技术涉及一种测量光波波长装置，属于一种测量仪器上的部件，主要用来测量等厚干涉的光波波长。盖3通过螺钉5与座4固定连接，并将两块平板1固定在一起，螺钉2与盖3螺纹连接。优点在于结构简单，使用、操作方便，可调性好。文档编号G01J9/02GK2645057SQ0325194公开日2004年9月29日 申请日期2003年7月10日 优先权日2003年7月10日专利技术者于立伟 申请人:长春第一光学有限公司

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于立伟，
申请(专利权)人：长春第一光学有限公司，
类型：实用新型
国别省市：