偏振式半导体光二极管自相关测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术是一种偏振式半导体光二极管自相关测量装置，用于测量超短脉冲激光的脉冲宽度。待测光依次经过准直透镜（１）、１／２波片（２）到达一偏振棱镜（３），经偏振棱镜（３）分成强度相同但偏振态不同且相互垂直的两束光，其中一束光经过第一１／４波片（４）后垂直入射到第一全反镜（６）上，经第一全反镜（６）反射后沿原路返回到偏振棱镜（３），另一束光经过第二１／４波片（７）后垂直入射到第二全反镜（８）上，经第二全反镜（８）反射后沿原路返回到偏振棱镜（３），两束光经过偏振棱镜（３）后经一凹面镜（９）聚焦后会聚到半导体光二极管（１０）上。采用偏振式结构，损耗小，能够在较低平均功率下进行测量，测量精度高。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
偏振式半导体光二极管自相关测量装置，主要包括有凹面镜（９）、半导体光二极管（１０）、示波器（１１），其特征在于：还包括有准直透镜（１）、偏振棱镜（３）、１／２波片（２）、第一１／４波片（４）、第二１／４波片（７），其中，待测光依次经过准直透镜（１）、１／２波片（２）到达一偏振棱镜（３），经偏振棱镜（３）分成强度相同但偏振态不同且相互垂直的两束光，其中一束光经过第一１／４波片（４）后垂直入射到由步进电机（５）驱动的第一全反镜（６）上，经第一全反镜（６）反射后沿原路经第一１／４波片（４）返回到偏振棱镜（３），另一束光经过第二１／４波片（７）后垂直入射到第二全反镜（８）上，经第二全反镜（８）反射后沿原路经第二１／４波片（７）后返回到偏振棱镜（３），两束光经过偏振棱镜（３）后经一凹面镜（９）聚焦后会聚到半导体光二极管（１０）上，经过示波器（１１），在示波器（１１）上显示出自相关曲线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李港，陈檬，朱琳，常亮，林陶君，张丙元，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]