一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统技术方案

本发明专利技术公开一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统，上述测试适配器包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。本发明专利技术能够实现对普通晶体振荡器较精确的测试。本发明专利技术还提供一种晶体振荡器的测试系统。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统
本专利技术涉及电性能测试
，尤其涉及一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统。
技术介绍
晶体振荡器是高精度和高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中，也会被用于通信系统中，具体用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。而晶体振荡器的传统的测试方法主要通过电源线、测试探头、测试线缆与晶体振荡器的管脚直接连接的方式实现，连接过程中会对晶体振荡器的管脚造成不必要的伤害，测试效率低，不适用于晶体振荡器可靠性筛选与测试的要求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统，避免在测试过程中对晶体振荡器的管脚造成伤害，以提高晶体振荡器测试和筛选的可靠性。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：本专利技术是一种晶体振荡器的测试适配器，包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，插座上设有与待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与所述待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与所述待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。


2.根据权利要求1所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述插座为DIP-14插座。


3.根据权利要求2所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述DIP-14插座上至少设有两个电压控制端，两个电压控制端相连。


4.根据权利要求2所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述DIP-14插座上至少设有两个电源端，两个电源端相连。


5.根据权利要求3或4所述的晶体振荡器的测试适配...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷洁，高鹏鹏，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：北京;11