一种总α和总β放射性测量制样方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种总α和总β放射性测量制样方法和装置，包括：步骤S1：在U型筛中，研磨球与所述U型筛彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力，基于所述碾压力，浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样；步骤S2：所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘中搅拌形成糊状，步骤S3：转动样品盘，与所述样品盘相互平行的刮片按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述待测灰样制成厚度均匀平整的所述待测样品源。

【技术实现步骤摘要】
一种总α和总β放射性测量制样方法和装置
本专利技术涉及放射性测量
，尤其涉及一种总α和总β放射性测量制样方法和装置。
技术介绍
总α、总β放射性是指样品中α放射性核素及β放射性核素总的放射性水平。由于放射性核素含量通常很低，总α、总β放射性的测量通常须事先将水、生物、气溶胶、土壤等样品浓缩或处理成固体物质，研磨成细灰状(均匀铺样的重要前提)，再均匀铺于样品盘中制成样品源(测量源、试样源)，然后送入低本底α、β测量仪中测量记录由样品源发射出的经样品源自身、样品源至探测器之间的空气层及探测器入射窗后进入探测器内且仍具有一定能量的α粒子、β粒子触发探测器所引起的计数，最后将测量结果与在相同条件下用标准物质制成的标准源(参考源)在相同测量条件下的测量结果进行比较，得出样品的总α、总β放射性水平。总α、总β放射性测量本质上是一种相对测量，样品源与标准源各项条件近乎须完全一致。目前，浓缩或处理成的待测样品固体的研磨、待测灰样的平铺完全由实验人员手工完成，不仅耗时费力，且不能确保浓缩或处理成的待测样品固体充分研细，更不能确保所制样品源与标准源的厚度均匀本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种总α和总β放射性测量制样方法，包括：/n将浓缩或处理成的待测样品固体研磨成目数符合要求的待测灰样，/n将待测灰样制备成厚度相对均匀平整的待测样品源，/n其特征在于，/n步骤S1：在U型筛(100f)中，研磨球(100g)与所述U型筛(100f)彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力，基于所述碾压力，浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样；/n步骤S2：所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘(200a)中搅拌形成糊状，/n步骤S3：转动样品盘(200a)，与所述样品盘(200a)相互平行的刮片(200b)按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述...

【技术特征摘要】
1.一种总α和总β放射性测量制样方法，包括：
将浓缩或处理成的待测样品固体研磨成目数符合要求的待测灰样，
将待测灰样制备成厚度相对均匀平整的待测样品源，
其特征在于，
步骤S1：在U型筛(100f)中，研磨球(100g)与所述U型筛(100f)彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力，基于所述碾压力，浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样；
步骤S2：所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘(200a)中搅拌形成糊状，
步骤S3：转动样品盘(200a)，与所述样品盘(200a)相互平行的刮片(200b)按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述待测灰样制成所述待测样品源。


2.根据权利要求1所述的制样方法，其特征在于，待测灰样大量集中放置于所述样品盘(200a)的中部区域，因而在样品盘(200a)转动时，待测灰样能够由刚性刮丝(200b-1)的刮丝加厚区(200b-1d)带动旋转，以使得所述待测灰样基于离心力和所述刮丝加厚区(200b-1d)的刮档作用而被刮丝加厚区(200b-1d)带动为向刮丝侧翼区(200b-1b)两侧蠕动。


3.根据权利要求1或2所述的制样方法，其特征在于，随着样品盘(200a)转动，样品盘(200a)中部区域的待测灰样逐步地在离心力和刮丝加厚区(200b-1d)的刮档作用下蠕动至刮丝侧翼区(200b-1b)，并在刮底(200b-1a)的平整作用下逐步地摊均匀。


4.根据权利要求2所述的制样方法，其特征在于，所述刚性刮丝(200b-1)的两端分别经由至少两条斜拉丝(200b-2)连接至内螺旋杆(200c-1)，
其中，所述斜拉丝(200b-2)的抗扭刚度大于所述刚性刮丝(200b-1)的抗扭刚度，而使得所述刚性刮丝(200b-1)能够在所述样品盘(200a)转动的过程中按照可控地晃动的方式将所述待测灰样铺平。


5.根据权利要求4所述的制样方法，其特征在于，所述内螺旋杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧频，郑雪婷，李昱丞，黄丽芳，俞添虹，
申请(专利权)人：欧频，
类型：发明
国别省市：广东;44