【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于非接触温度测量的装置，该装置具有一探测器，从一被测物体上一受测点辐射出的电磁辐射可以利用成象光学器件成象，并且具有用于给被测物体上受测点的位置和/或尺寸打标志的一瞄准装置，其中瞄准装置具有提供至少两个瞄准光束的一光源。
技术介绍
用于上述的该类型的非接触温度测量的装置在实际上为众所周知已经有许多年了，并被用于测量一远距离物体表面的温度。在测量时，人们利用这样的一个物理现象温度高于绝对零度的所有表面都会因为分子运动而辐射电磁波。这种从物体辐射出的热辐射主要在红外范围内因而能够通过红外传感成象光学器件而被导入一个或一个以上的红外探测器内。在那里，辐射能被转换成电信号，电信号接着就能基于该探测器上标定的刻度被转换成温度值。所测得的温度值接着就能被显示在一显示装置上，作为一模拟信号输出，或者通过数字输出在一计算机终端上表示出来。其辐射被该探测器检测出来的物体的区域，一般说来将作为该温度测量装置的一(辐射)受测点。在实际使用中，受测点的位置和尺寸对于温度测量的精度和可靠性来说是极其重要的。关于这一点，受测点的位置和尺寸取决于探测器的结构和测量光线路径...
【技术保护点】
一种用于非接触温度测量的装置，具有一探测器（２），来自一被测物体上一受测点的电磁辐射可以利用成象光学单元成象在其上，以及具有一瞄准装置，用来给被探测物体上的受测点的位置和／或尺寸打标志，其中，瞄准装置具有一光源以提供至少两个瞄准光束，其特征在于，为各瞄准光线的产生提供一独立的光源。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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