采用维恩位移定律进行光谱测温的方法技术

光谱极值测温方法，它涉及一种测温方法。本发明专利技术解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄的问题。本发明专利技术方法的步骤如下：被测物体（１）的红外辐射射线（２）经聚光镜（３）汇进入傅立叶分析光谱仪（４），傅立叶光谱仪（４）进行光谱扫描，光谱曲线记录并存入计算机（５），计算机（５）通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体（１）的温度，最后在显示屏（６）上显示被测物体（１）的温度。本发明专利技术方法测量温度的范围为３００～３０００Ｋ。本发明专利技术具有测量精度高、测量范围宽的优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光谱极值测温方法，其特征在于测量温度的方法的步骤如下：被测物体（１）的红外辐射射线（２）经聚光镜（３）汇进入傅立叶分析光谱仪（４），傅立叶光谱仪（４）进行光谱扫描，光谱曲线记录并存入计算机（５），计算机（５）通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体（１）的温度，最后在显示屏（６）上显示被测物体（１）的温度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：戴景民，齐宏，刘晓东，谈和平，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]