一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，包括测试装置和待测集成电路，测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，待测集成电路包括保护二极管，显示模块和模数转换器连接在微处理器的相应端口上，模拟复用器输入端与待测集成电路的PIN脚连接，模拟复用器输出端与模数转换器的输入端连接，解决了集成电路中每个管脚与VDD和GND都有保护二极管，且保护二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在集成电路上，会造成整个串列的烧坏，因此需要对集成电路进行测试的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置
本技术属于电路测试
，尤其涉及一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置。
技术介绍
IC，即集成电路，是一种微型电子器件或部件，采用半导体制作工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，并按照多层布线或隧道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。在集成电路中每个管脚与VDD和GND都有保护二极管，且保护二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在集成电路上，会造成整个串列的烧坏，因此需要对集成电路进行测试。
技术实现思路
为了克服在集成电路中每个管脚与VDD和GND都有保护二极管，且保护二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在集成电路上，会造成整个串列的烧坏，因此需要对集成电路进行测试，本技术提供了一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，采用如下技术方案：一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，包括测试装置和待测集成电路，测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，待测集成电路包括保护二极管，显示模块和模数转换器连接在微处理器的相应端口上，模拟复用器输入端与待测集成电路的PIN脚连接，模拟复用器输出端与模数转换器的输入端连接。进一步的，稳压电路与待测集成电路电性连接，稳压电路输入端通过USB接口连接有计算机。<br>进一步的，微处理器为AT89C52单片机。进一步的，显示模块为LED显示器。有益效果：本技术通过采用DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器相组合的测试装置，对待测集成电路进行电路测试，结构简单，测试效率高，同时可以通过微处理器对不同型号的集成电路参数的学习，可以实现多种型号的集成电路电路进行测试，以及本技术可以单独进行集成电路测试，也可以测试PCBA板上与集成电路相连接的接通焊接是否开、短路，有了此种测试方法，PCBA在贴片上件之后，就可以用此种方法很快捷的测试出焊接效果，而不需要组装成实机进行测试，从而提高测试效率。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术PIN到VDD测试示意图；图3为本技术VSS到PIN测试示意图。图中：1-测试装置、2-待测集成电路；101-DC输入模块、102-显示模块、103-稳压电路、104-微处理器、105-模数转换器、106-模拟复用器、107-USB接口、108-计算机、201-保护二极管。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参见图1所示一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，包括测试装置1和待测集成电路2，测试装置1包括DC输入模块101、显示模块102、稳压电路103、微处理器104、模数转换器105和模拟复用器106，待测集成电路2包括保护二极管201，显示模块102和模数转换器105连接在微处理器1的相应端口上，模拟复用器106输入端与待测集成电路2的PIN脚连接，模拟复用器106输出端与模数转换器105的输入端连接。其中，稳压电路103与待测集成电路2电性连接，稳压电路103输入端通过USB接口107连接有计算机108，微处理器104为AT89C52单片机，显示模块102为LED显示器。工作原理：由于集成电路2的PIN脚输出的是模拟信号，微处理器104不能识别模拟信号，所以通过模数转换器105，把模拟信号转换成数字信号，这样微处理器104就可以读出模拟的电压了，选用模拟复用器106来选择测量哪一路的电压，这个选择可以通过微处理器104控制，实现使用一个模数转换器105，节约资源成本，简化结构。同时，每一种集成电路2内部的压降不同，为了测试装置1能通用化，在测试前，测试装置1会对一个正常的集成电路2进行学习，学习每个引脚的参数，在显示模块102里，加上“IC开路”、“IC短路”、“相邻脚短路”和“IC正常”四种显示方式。由测试装置1发送信号给集成电路2的PIN脚，由于集成电路2的PIN脚内部有保护二极管201，保护二极管201本身是有压降的，从而可以测试出此PIN脚的正确压降，而得出此PIN脚是否开路或者短路，本技术测试效率高，可以单独进行集成电路2的测试，也可以测试PCBA板上与集成电路2相连接的接通焊接是否开、短路，有了此种测试方法，PCBA在贴片上件之后，就可以用此种方法很快捷的测试出焊接效果，而不需要组装成实机进行测试，从而提高测试效率。信号测试原理：IC开路测试：如图2所示，将集成电路2的VDD设置为0V，测试装置1的微处理器104发送高电平数据至待测集成电路1的PIN脚，微处理器104读取集成电路1的PIN脚输出信号，如果测得的电平没有发生变化则VDD与PIN脚之间的二极管开路,显示模块102上显示“IC开路”，如果测得电平等于微处理器104学习的参数则电路正常，显示模块102上显示“IC正常”。如图3所示，将集成电路2的VSS设置为高电平，测试装置1的微处理器104发送低电平数据至待测集成电路2的PIN脚，微处理器104读取集成电路1的PIN脚输出信号，如电平没有发生变化则VSS到PIN之间开路,显示模块102上显示“IC开路”，如果测得电平等于微处理器学习的参数则电路正常，显示模块上显示“IC正常”。IC短路测试：如图2所示，将集成电路2的VDD设置为0V，测试装置1的微处理器104发送高电平数据至待测集成电路2的PIN脚，微处理器104读取集成电路2的PIN脚输出信号压降，如果是此集成电路2内部保护二极管的压降则正常，显示模块102上显示“IC正常”，如低于集成电路2内部保护二极管的压降则与VDD短路，显示模块102上显示“IC短路”。如图3所示，将集成电路2的VSS设置为高电平，测试装置1的微处理器104发送低电平数据到待测集成电路2的PIN脚，微处理器104读取集成电路2的PIN脚输出信号压降，如果是此集成电路2内部二极管的压降则正常，显示模块102上显示“IC正常”，如果低于集成电路2内部二极管的压降则与VSS短路，显示模块104上显示“IC短路”。IC相邻PIN脚短路测试：将集成电路2的VDD设置为0V，测试装置1的微处理器104发送低电平数据至待测集成电路2的第一PIN脚，测试装置1的微处理器104发送高电平数据至待测集成电路2的第二PIN脚，微处理器104读取集成电路2的第二PIN脚输出信号压降，如果是低电平数据则集成电路2相邻本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，其特征在于：包括测试装置和待测集成电路，所述测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，所述待测集成电路包括保护二极管，所述显示模块和所述模数转换器连接在所述微处理器的相应端口上，所述模拟复用器输入端与所述待测集成电路的PIN脚连接，所述模拟复用器输出端与所述模数转换器的输入端连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，其特征在于：包括测试装置和待测集成电路，所述测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，所述待测集成电路包括保护二极管，所述显示模块和所述模数转换器连接在所述微处理器的相应端口上，所述模拟复用器输入端与所述待测集成电路的PIN脚连接，所述模拟复用器输出端与所述模数转换器的输入端连接。


2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐欢夏，
申请(专利权)人：江苏联康电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32