【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，属衡器领域。
技术介绍
由于高精度电子天平的相对精度很高，均在百万分之一以上，当受到环境温度变化，天平自身通电后发热的温度变化，元器件的老化，空气压力的变化，水平位置的变化等多种因素的影响，都会使称重结果不正确，因此，在很多高精度电子天平中都装有内部校正砝码，当当受到温度等外部环境影响时。即时用内部校正砝码对天平进行重新校正，修改校正系数，使天平恢复正确的称重结果，这对高精度电子天平的称重是非常必要的。而高精度电子天平的内校砝码的生产有较高的要求，它对砝码材料密度、磁化率、砝码表面光洁度均有很高的要求外，对砝码实际质量的准确性有较高的要求，如天平的实际分度值为0.1mg，则内部校正砝码的实际质量误差就应小于0.05mg，这样的要求给砝码生产过程中的调整带来困难，同时由于经常使用带来的磨损及氧化等造成砝码质量变化，产生校正偏差，这对内部校正砝码进行修正相当困难，目前尚没有行之有效的内部校正砝码的校正方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可降低内内校砝码质量准确性要求，并能对已磨损、氧化造成珐码质量变化的内校砝码可方便地修正的。本专利技术...
【技术保护点】
一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，其方法步骤为：（１）通过本天平的称重系统称出内校砝码的重量值Ｐ１，并存入微机；（２）在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量Ｐ２，并存入微机；（３）在微机内算出差值 Ｄ，Ｄ＝Ｐ２－Ｐ１作为内校砝码的修正量；（４）根据公式：Ｋ＝校正值／Ｐ１＋Ｄ求得校正系数Ｋ，存入微机。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：田莉君，刘健，虞慧，蒋好锋，
申请(专利权)人：上海民桥精密科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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