显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质，该方法包括：将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。解决了现有显示屏mura缺陷检测方法存在无法快速自动地完成显示屏的mura缺陷检测的问题。

【技术实现步骤摘要】
显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质
本专利技术实施例涉及显示屏缺陷检测领域，尤其涉及一种显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质。
技术介绍
显示屏出现mura缺陷的原因很多，比如偏光板材料的质量较差、薄膜晶体管漏电不均和背光源发光不均等，主要表现为显示屏局部亮度不均，且具有形状不固定、对比度低、边缘模糊等特点。传统的mura缺陷检测方法有两种，一种是通过人眼观察检测mura缺陷，但是人眼检测mura缺陷的过程存在很强的主观性，而且随着工作时间的延长，人眼会出现疲劳，检测效率随之降低；另一种是采用光学检测设备，但现有光学检测设备在执行完mura缺陷检测之后，还需要人工复核，而复核效率通常较慢。综上，现有显示屏mura缺陷检测方法存在无法快速自动地完成显示屏的mura缺陷检测的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质，解决了现有显示屏mura缺陷检测方法存在无法快速自动地完成显示屏的mura缺陷检测的问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种显示屏mura缺陷检测方法，包括：将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。进一步，将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块之前，所述方法还包括：根据待测显示屏的形状，确定相机的最佳拍摄角度；在所述最佳拍摄角度使用相机采集待测显示屏的图像；对采集的待测显示屏的图像进行预处理以得到待测显示屏的检测图像，所述预处理包括背景分离和图像增强。进一步，所述将待测显示屏的检测图像划分分成至少两个区块，包括：根据待测显示屏不同制程区块的分布，将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块。进一步，所述对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果，包括：获取每个区块的参数，所述参数至少包括区块的位置、形状、偏光度；根据每个区块的参数，匹配与每个区块相对应的检测算法；根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果。进一步，所述检测算法包含可设置的预设检测参数，所述预设检测参数至少包括精度参数和对比度参数；所述根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果，包括：根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测，以得到对应于当前预设检测参数的mura缺陷检测结果。进一步，所述对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机，包括：如果所述mura缺陷检测结果显示待测显示屏包含mura缺陷，则对所述mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤，以更新所述mura缺陷检测结果；如果更新后的mura缺陷检测结果显示待测显示屏包含mura缺陷，则将包含有mura缺陷标识的mura缺陷检测结果上报至上位机；如果更新后的mura缺陷检测结果显示待测显示屏未包含mura缺陷，则将包含有未通过mura缺陷检测的mura缺陷检测结果上报至上位机。进一步，在对mura缺陷检测结果进行过滤之前，还包括：接收用户在过滤界面设置的可接受mura特征。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种显示屏mura缺陷检测装置，包括：划分模块，用于将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；检测模块，用于对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；结果处理模块，用于对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种检测设备，所述检测设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如任意实施例所述的显示屏mura缺陷检测方法。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种检测设备，所述检测设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如任意实施例所述的显示屏mura缺陷检测方法。本专利技术实施例提供的显示屏mura缺陷检测方法的技术方案，包括：将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。通过自动对mura缺陷检测结果进行过滤替代人工复核，可以大大提升整个mura检测过程的效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例一提供的显示屏mura缺陷检测方法的流程图；图2A是本专利技术实施例一提供的待测显示屏的图像；图2B是本专利技术实施例一提供的又一待测显示屏的图像；图2C是本专利技术实施例一提供的待测显示屏的轮廓图像；图3是本专利技术实施例一提供的区块划分的示意图；图4是本专利技术实施例一提供的mura缺陷特征的示意图；图5是本专利技术实施例二提供的显示屏mura缺陷检测装置的结构框图；图6是本专利技术实施例二提供的又一显示屏mura缺陷检测装置的结构框图；图7是本专利技术实施例三提供的检测设备的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本专利技术实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本专利技术的技术方案，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一图1是本专利技术实施例一提供的显示屏mura缺陷检测方法的流程图。本实施例的技术方案适用于自动完成显示屏mura缺陷检测流程的情况。该方法可以由本专利技术实施例提供的显示屏mura缺陷检测装置来执行，该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现，并配置在处理器中应用。如图1所示，该方法具体包括如下步骤：S101、将待测显示屏的检测图像分成至少两个区块。在对待测显示屏进行mura缺陷检测时，先使用相机采集待测显示屏的图像。在采集待测显示屏的图像时，优选本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示屏mura缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；/n对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；/n对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示屏mura缺陷检测方法，其特征在于，包括：
将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块；
对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果；
对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷过滤以更新mura缺陷检测结果，并将更新后的mura缺陷检测结果发送至上位机。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块之前，所述方法还包括：
根据待测显示屏的形状，确定相机的最佳拍摄角度；
在所述最佳拍摄角度使用相机采集待测显示屏的图像；
对采集的待测显示屏的图像进行预处理以得到待测显示屏的检测图像，所述预处理包括背景分离和图像增强。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块，包括：
根据待测显示屏不同制程区块的分布，将待测显示屏的检测图像划分成至少两个区块。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果，包括：
获取每个区块的参数，所述参数至少包括区块的位置、形状、偏光度；
根据每个区块的参数，匹配与每个区块相对应的检测算法；
根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述检测算法包含可设置的预设检测参数，所述预设检测参数至少包括精度参数和对比度参数；
所述根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测以得到mura缺陷检测结果，包括：
根据所述检测算法对各个区块执行mura缺陷检测，以得到对应于当前预设检测参数的mura缺陷检测结果。


6.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：周逸帆，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32