一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器制造技术

本发明专利技术公开了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，仿真器包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。仿真器通过FLASH接口处理模块产生控制信号，在FLASH擦写高压使能信号有效期间，若掉电数据随机化模块检测到接口掉电，则按照FLASH掉电数据随机化原则生成新数据，并把此新数据写入存储器模块；若掉电数据随机化模块未检测到接口掉电，则把接口原数据写入存储器模块。本发明专利技术仿真器满足FLASH正常擦写读操作要求，支持FLASH擦写期间接口掉电数据随机化的功能，方便软件程序调试和接口掉电功能测试，提高了开发和测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器
本专利技术涉及芯片仿真器
，具体涉及一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器。
技术介绍
为提高FLASH芯片的可靠性，许多厂商提出了基于FTL(FlashTranslationLayer)技术的软硬件方案，这种方案要求软件设计和测试中，必须支持FLASH芯片掉电和非掉电后的各种数据处理，完成接口掉电功能测试。客户使用的FLASH芯片，在FLASH擦写期间若出现掉电，存储单元数据一般有三种情况：新数据、原数据和随机数据。基于FLASH芯片软硬件协同开发测试需求，多数FLASH芯片需要在FLASH仿真器上进行FLASH功能和软件设计开发调试。通用的FLASH仿真器，以FPGA(FieldProgrammableGateArray)仿真FLASH芯片的功能，完成FLASH擦写读等基本命令，通过计数器模拟FLASH擦写延时，达到真实FLASH芯片擦写的延时效果。这类仿真器通常实现了在FLASH擦写期间(擦除和编程命令的高压期间)掉电写入数据两种情况的功能仿真，在FLASH擦写期间未出现掉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。/nFLASH接口处理模块，与FLASH控制器接口相连，实现FLASH控制器擦命令、写命令和读命令的接口信号处理功能；FLASH接口处理模块输出高压使能HV_EN信号，控制掉电数据随机化模块和数据通路选择模块；/n数据通路选择模块，与FLASH接口处理模块、掉电数据随机化模块和读控制模块相连，实现擦写数据和读数据的通路控制功能；/n掉电数据随机化模块，与数据通路选择模块、擦写控制模块和读控制模块相连，实现FLASH擦写期间掉电生成随机数据值功能，...

【技术特征摘要】
1.一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，包括FLASH接口处理模块、数据通路选择模块、掉电数据随机化模块、擦写控制模块、读控制模块和存储器模块。
FLASH接口处理模块，与FLASH控制器接口相连，实现FLASH控制器擦命令、写命令和读命令的接口信号处理功能；FLASH接口处理模块输出高压使能HV_EN信号，控制掉电数据随机化模块和数据通路选择模块；
数据通路选择模块，与FLASH接口处理模块、掉电数据随机化模块和读控制模块相连，实现擦写数据和读数据的通路控制功能；
掉电数据随机化模块，与数据通路选择模块、擦写控制模块和读控制模块相连，实现FLASH擦写期间掉电生成随机数据值功能，或擦写期间未掉电保持接口原擦写数据值功能；
擦写控制模块，与掉电数据随机化模块和存储器模块相连，实现FLASH擦写控制功能；
读控制模块，与存储器模块、掉电数据随机化模块和数据通路选择模块相连，读取接口读地址的存储器模块数据，或是读取当前擦写地址的存储器模块数据；
存储器模块，与擦写控制模块和读控制模块相连，实现数据的存储和读取功能。


2.根据权利要求1所述的一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器，其特征在于掉电数据随机化模块，包括：掉电检测模块、复位控制模块、擦写数据处理模块和随机数生成模块。
掉电检测模块，检测接口掉电PORn信号和高压使能HV_EN信号的状态，输出随机化使能FILL_EN信号，实现接口掉电检测和控制功能；
擦写数据处理模块，与随机数生成模块、擦写控制模块、读控制模块和数据通路选择模块相连，实现擦写数据的处理功能；
复位控制模块，在PORn信号和FILL_EN信号控制下，输出高压复位HV_RST信号，实现对擦写控制模块的复位控制功能；
随机数生成模块，与擦写数据处理模块相连，产生随机...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵满怀，刘瑾，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11