一种基准测试方法、系统及终端设备技术方案

本申请适用于计算机测试领域，提供一种基准测试方法、系统及终端设备，其中方法包括：获取模型数据；对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；根据降位处理后的模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边；对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。该方案提升了图遍历速度，提升对被测终端设备中数据吞吐量的检测准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种基准测试方法、系统及终端设备
本申请属于计算机测试
，尤其涉及一种基准测试方法、系统及终端设备。
技术介绍
终端设备中所配备的硬件通常具有理想状态下的运行性能，但硬件在实际运行过程中又通常会受到各种因素影响而无法达到理想运行状态。因此，在实际应用前通常需要对终端设备进行性能测试，以提前获知终端设备的实际运行性能状况。目前，可采用Graph500这一基准测试方法来对终端设备进行性能测试。Graph500基准测试方法具体利用图论来测量终端设备(尤其是超级计算机)在实际模拟复杂问题时的数据处理能力。Graph500基准测试方法所采用的基准测试软件在具体执行过程中，需要先生成图作为性能测试过程中的数据读取对象，在生成图之后，对生成的图进行图遍历操作，并以每秒遍历图中边的数量(TEPS，traversededgespersecond)作为终端设备的数据处理能力的衡量标准，测试得到的TEPS数值越大，表明图遍历速度越快，也就表明该终端设备的数据处理能力越高。但由于基准测试的目的在于用来测量终端设备的硬件实际运行性能，因此，若基准测试执行过程中图的遍历速度低于终端设备硬件实际运行性能时，则会导致无法准确测试到被测终端设备的实际运行性能。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种基准测试方法、系统及终端设备，能够解决现有技术中基准测试执行过程中图的遍历速度较低，导致无法准确测试到被测终端设备的实际运行性能的问题。本申请实施例的第一方面提供了一种基准测试方法，应用于终端设备，包括：r>获取模型数据；对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边；对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。本申请实施例的第二方面提供了一种基准测试系统，包括：获取模块，用于获取模型数据；数据处理模块，用于对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；生成模块，用于根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边；图遍历模块，用于对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。本申请的第五方面提供了一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在终端设备上运行时，使得所述终端设备执行上述第一方面所述方法的步骤。由上可见，本申请实施例中，通过对获取的模型数据进行降位处理，根据降位处理后的模型数据生成数据存储图，并对数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数，以完成对终端设备中实际运行性能的基准测试。该过程中，通过对模型数据的降位处理，使模型数据中所包含参数的数据位数减少，进而使得所生成的数据存储图中各个结点以及边所表征数据的数据位数同样减少。因此，在进行图遍历时，提升在单位时间内的图数据读取量，能够增加每秒所遍历的边的数量，提升图遍历速度，从而提升被测终端设备的实际运行性能的检测准确度。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请实施例提供的一种基准测试方法的流程图一；图2是本申请实施例提供的数据存储图对应的二维邻接矩阵的示例图；图3是本申请实施例提供的一种基准测试方法的流程图二；图4是本申请实施例提供的一种基准测试系统的结构图；图5是本申请实施例提供的一种终端设备的结构图。具体实施方式以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。应理解，本实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。参见图1，图1是本申请实施例提供的一种基准测试方法的流程图一。如图1所示，一种基准测试方法，应用于终端设备，该终端设备可以是超级计算机、服务器集群等能够实现数据处理的设备。该方法包括以下步骤：步骤101，获取模型数据。其中，该模型数据用于生成数据存储图。更具体地，该模型数据可以基于输入的图规模参数随机生成数据存储图。这里的图规模参数例如为图的顶点数及边数。该模型数据对应于建立数据存储图所需要用到的图生成模型，即该模型数据具体为图生成模型对应的代码数据。例如，在Graph500对应的基准测试软件中，该图生成模型具体可以为多递归生成器。步骤102，对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低。该降位处理为使数据位数变短的处理操作。该对模型数据的降位处理为对数据模型中所包含的参数的降位处理。通常情况下，模型数据中包括变量参数及常量参数。可选地，在对模型数据进行降位处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基准测试方法，应用于终端设备，其特征在于，包括：/n获取模型数据；/n对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；/n根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边；/n对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。/n

【技术特征摘要】
1.一种基准测试方法，应用于终端设备，其特征在于，包括：
获取模型数据；
对所述模型数据进行降位处理，降位处理后，所述模型数据中参数的数据位数降低；
根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，所述数据存储图包括多个结点和用于表示所述多个结点之间的连接关系的多个边；
对所述数据存储图进行图遍历，获得单位时间内完成数据访问的边数。


2.根据权利要求1所述的基准测试方法，其特征在于，所述对所述模型数据进行降位处理，包括：
根据所述模型数据的数据类型，对所述模型数据进行压缩。


3.根据权利要求1所述的基准测试方法，其特征在于，所述根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图之前，所述基准测试方法还包括：
获取所述数据存储图的规模参数，所述规模参数用于指示所述多个节点和所述多个边的个数；
若所述规模参数满足预设的取值条件，则所述根据降位处理后的所述模型数据生成数据存储图，包括：
根据所述规模参数和降位处理后的所述模型数据生成所述数据存储图。


4.根据权利要求3所述的基准测试方法，其特征在于，所述根据所述规模参数和降位处理后的所述模型数据生成所述数据存储图，包括：
根据降位处理后的所述模型数据确定图生成模型；
将所述规模参数输入所述图生成模型中处理，得到与所述多个边和所述多个结点分别对应的随机数；
根据所述随机数生成所述数据存储图，所述数据存储图为克罗内克图。


5.根据权利要求3所述的基准测试方法，其特征在于，所述获取所述数据存储图的规模参数之后，所述基准测试方法还包括：
若所述规模参数不满足所述取值条件，则对所述规模参数进行更新，以使得更新...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘树珍，孟金涛，魏彦杰，冯圣中，
申请(专利权)人：中国科学院深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：广东;44