一种测试夹具及测试设备制造技术

技术编号:25436806 阅读:55 留言:0更新日期:2020-08-28 22:25
本发明专利技术提供了一种测试夹具及测试设备,测试夹具包括探针座、补偿结构以及电连接件,探针座上设有容纳槽以及与容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口,补偿结构用于补偿探针的长度,补偿结构的一端电性连接于电连接件上,补偿结构的远离电连接件的一端伸入容纳槽内且用于与电子元件的探针连接,电连接件用于与测试仪连接。将本发明专利技术的测试夹具应用于滤波器的插入损耗测试时,补偿结构能够补偿探针的长度,因此可以避免滤波器由于剪切插针而导致插入损耗曲线发生偏置的情况,从而可以准确测量滤波器的插入损耗,以便于将滤波器的插入损耗测试结果与初始值要求比对并判定滤波器的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具及测试设备
本专利技术属于插入损耗测试治具
,更具体地说,是涉及一种测试夹具及测试设备。
技术介绍
目前市面上生产使用的滤波器的引出端的脚位均为标准长度,滤波器在生产、使用及试验(振动、冲击、过负荷、耐湿及寿命等)的过程中均对滤波器的引出端进行了二次或三次以上加工(剪切或焊接等),使滤波器的引出端的长度发生变化,导致其分布电感下降,依据公式:如图1所示(试验产品的容量为22pF),由于电感L减小,谐振频率f增大,插入损耗曲线发生偏置,所以很多时候的测试结果与初始值相差较大,进而使滤波器的插入损耗测试结果无法与初始值要求比对,导致无法判定滤波器的稳定性。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种测试夹具及测试设备,以解决现有技术中存在的难以准确测量滤波器的插入损耗而导致无法判定滤波器的稳定性的技术问题。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:提供一种测试夹具,包括探针座、补偿结构以及用于与测试仪连接的电连接件,所述探针座上设有容纳槽以及与所述容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试夹具,其特征在于,包括探针座、补偿结构以及用于与测试仪连接的电连接件,所述探针座上设有容纳槽以及与所述容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口,所述补偿结构用于补偿所述探针的长度,所述补偿结构的一端电性连接于所述电连接件上,所述补偿结构的远离所述电连接件的一端伸入所述容纳槽内且用于与所述电子元件的探针连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具,其特征在于,包括探针座、补偿结构以及用于与测试仪连接的电连接件,所述探针座上设有容纳槽以及与所述容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口,所述补偿结构用于补偿所述探针的长度,所述补偿结构的一端电性连接于所述电连接件上,所述补偿结构的远离所述电连接件的一端伸入所述容纳槽内且用于与所述电子元件的探针连接。


2.如权利要求1所述的测试夹具,其特征在于,所述探针座包括座体和盖板,所述座体和所述盖板围合形成所述容纳槽,所述探针插口设于所述座体上。


3.如权利要求2所述的测试夹具,其特征在于,所述容纳槽具有开口,所述电连接件为线路板,所述线路板盖设于所述容纳槽的开口上。


4.如权利要求3所述的测试夹具,其特征在于,所述线路板上设有用于连接测试仪的线路,所述补偿结构的一端焊接于所述线路板上且与所述线路电性连接。


5.如权利要求4所述的测试夹具,...

【专利技术属性】
技术研发人员:李凯文肖倩李金辉蒋忠益王智会
申请(专利权)人:深圳振华富电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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