一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法技术

本发明专利技术公开了一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法，首先，获取目标物高光谱影像、标准反射板高光谱影像和暗电流数据，将标准反射板高光谱影像减去暗电流数据得到标准反射板校正数据，或者在标准反射板高光谱影像中裁剪出标准反射板覆盖部分数据，减去对应位置的暗电流数据得到标准反射板的待拟合反射板数据，利用待拟合反射板数据拟合出最佳曲面模型，估计出覆盖目标物高光谱影像幅面的标准反射板校正数据；然后目标物高光谱影像减去暗电流数据得到目标物校正数据；最后，除以标准反射板校正数据，乘以标准反射板反射率标准数值，得到目标物高光谱反射率影像。本发明专利技术考虑到了双点光源的影响，有效改进了传统的标准反射板反射率校正方法。

【技术实现步骤摘要】
一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法
本专利技术涉及遥感
，更具体的说是涉及一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法。
技术介绍
高光谱成像技术具有光谱分辨率高、“图谱合一”的独特优势，是遥感技术发展过程中重大的科技突破之一。其技术日趋成熟，尤其是地面高光谱成像仪的小型化和市场化，高光谱成像已经突破传统的遥感应用领域，在医学成像、法医刑侦、食品检测以及文化遗产保护等多个民用领域得到成功应用。而反射率是物质本质属性之一，是高光谱成像描述探测目标的基本数据。因此，将高光谱影像的原始像元亮度值(DN值)转化为反射率，是高光谱影像应用常见的处理流程，对于高光谱影像的信息提取和定量分析都至关重要。对于地面高光谱成像技术而言，标准反射板反射率校正是最为常见的一种方法。但是，现有研究和技术一般没有考虑到光源对反射率校正的影响。因为其研究对象一般观察范围较小，能够使用灯光室，构造漫反射光源，在理想的环境下采集数据。但是，在实际的文物保护修复工程中，经常面对室内的较大型不可移动文物(如寺观壁画)，需要在现场较大范围采用人工光源进行高光谱成像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法，其特征在于，包括以下具体步骤：/n步骤1：采集目标物高光谱影像、标准反射板高光谱影像和暗电流数据，判断标准反射板是否完全覆盖所述标准反射板高光谱影像，如果是，则将所述标准反射板高光谱影像减去所述暗电流数据后得到标准反射板校正数据并进入步骤3；否则进入步骤2；/n步骤2：利用所述标准反射板高光谱影像构建曲面模型，从而获取与所述标准反射板高光谱影像行列数相同的所述标准反射板校正数据；/n步骤3：将所述暗电流数据扩展为与所述目标物高光谱影像行列数相同的暗电流校正数据；/n步骤4：用所述目标物高光谱影像减去扩展后的所述暗电流校正数据，得到目标物校正数据；...

【技术特征摘要】
1.一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法，其特征在于，包括以下具体步骤：
步骤1：采集目标物高光谱影像、标准反射板高光谱影像和暗电流数据，判断标准反射板是否完全覆盖所述标准反射板高光谱影像，如果是，则将所述标准反射板高光谱影像减去所述暗电流数据后得到标准反射板校正数据并进入步骤3；否则进入步骤2；
步骤2：利用所述标准反射板高光谱影像构建曲面模型，从而获取与所述标准反射板高光谱影像行列数相同的所述标准反射板校正数据；
步骤3：将所述暗电流数据扩展为与所述目标物高光谱影像行列数相同的暗电流校正数据；
步骤4：用所述目标物高光谱影像减去扩展后的所述暗电流校正数据，得到目标物校正数据；
步骤5：将所述目标物校正数据除以求得的所述标准反射板校正数据，然后乘以所述标准反射板的反射率标准数值，得到目标物高光谱反射率影像，从而完成反射率校正。


2.根据权利要求1所述的一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法，其特征在于，所述步骤2的具体实现过程为：
步骤21：利用所述标准反射板高光谱影像和所述暗电流数据获取待拟合反射板数据；
步骤22：根据所述待拟合反射板数据利用最小二乘法拟合出所述曲面模型；
步骤23：将所述目标物高光谱影像行列数代入所述曲面模型，拟合出与所述标准反射板高光谱影像行列数相同的所述标准反射板校正数据。


3.根据权利要求2所述的一种曲面拟合的地面高光谱影像反射率校正方法，其特征在于，所述步骤21的具体实现过程为：
步骤211：在所述标准反射板高光谱影像中裁剪所述标准反射板覆盖区域的高光谱数据，从而获得新标准反射板数据；
步骤212：裁剪出所述暗电流数据中与所述新标准反射板数...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕书强，侯妙乐，李爱群，黄纯豪，高振华，
申请(专利权)人：北京建筑大学，
类型：发明
国别省市：北京;11