自动排号的光电耦合器测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种自动排号的光电耦合器测试系统，包括光电耦合器测试仪和图像识别模块,所述光电耦合器测试仪包括测试仪本体和控制终端，所述测试仪本体上固设有光学支架，所述光学支架上设有相机单元和光源装置，所述光源装置固设有夹具；所述图像识别模块为封装有相机控制算法和图像识别处理算法的动态库，所述控制终端用于调用所述动态库中的算法，以及控制测试仪本体进行测试。本发明专利技术中，采用动态库封装图像识别算法，图像识别算法可采用C++语言编写，从而更方便地实现从图像信息中识别出产品编号的功能；测试仪与图像识别模块相互独立，测试仪开发平台可采用不同的程序平台，且无需考虑图像识别模块的算法，编程形式更加灵活。

【技术实现步骤摘要】
自动排号的光电耦合器测试系统
本专利技术涉及光电耦合器测试领域，特别涉及一种自动排号的光电耦合器测试系统。
技术介绍
当前，光电耦合器电参数测试采用将单个光电耦合器产品放置在测试仪夹具上，点击按钮完成产品相关参数测试的方式。随着光电耦合器的广泛应用，光电耦合器产品朝着多品种、大批量的方向发展，要求光电耦合器的批量化电参数测试具有较高的准确性和测试效率。测试准确性一方面要求参数测试准确，另一方面则是要求产品的测试参数和产品的编号不交错、不漏记；测试高效率方面则是要求产品测试时每个批次能够以最少的时间完成。对于上述要求，由于现有的光电耦合器测试仪单次只能测试一只光电耦合器，现有的批量化测试技术方案综合考虑测试准确性和效率，首先采用人工筛选的方式，将同一批次的产品先依次排好序存放在编号相应位置，例如在一张纸上打印多个产品编号，将光电耦合器与产品编号对应，逐个放在纸上的对应区域，测试时再按照排好的顺序一一测试，最后将产品编号和测试数据人工整合在一起。随着单批次光电耦合器数量越来越大，上述方案在批量化测试时存在缺陷：一方面光电耦合器尺寸较本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动排号的光电耦合器测试系统，包括光电耦合器测试仪,所述光电耦合器测试仪包括测试仪本体和控制终端，其特征在于，所述测试仪本体上固设有光学支架，所述光学支架的上部设有第一固定座，所述第一固定座上水平设有第一固定杆，所述第一固定杆的一端固设有相机单元，在所述相机单元的下方设有光源装置，在所述光源装置的下方还设有固设在测试仪本体上的夹具；/n所述测试系统还包括图像识别模块，所述图像识别模块为封装有相机控制算法和图像识别处理算法的动态库，用于控制相机单元采集待测光电耦合器的图像信息，按照图像识别处理算法从图像信息中识别出待测光电耦合器的产品编号，并输出产品编号和对应的图像信息；所述控制终端用于...

【技术特征摘要】
1.一种自动排号的光电耦合器测试系统，包括光电耦合器测试仪,所述光电耦合器测试仪包括测试仪本体和控制终端，其特征在于，所述测试仪本体上固设有光学支架，所述光学支架的上部设有第一固定座，所述第一固定座上水平设有第一固定杆，所述第一固定杆的一端固设有相机单元，在所述相机单元的下方设有光源装置，在所述光源装置的下方还设有固设在测试仪本体上的夹具；
所述测试系统还包括图像识别模块，所述图像识别模块为封装有相机控制算法和图像识别处理算法的动态库，用于控制相机单元采集待测光电耦合器的图像信息，按照图像识别处理算法从图像信息中识别出待测光电耦合器的产品编号，并输出产品编号和对应的图像信息；所述控制终端用于调用所述动态库中的算法，以及控制测试仪本体对待测光电耦合器进行测试，所述控制终端还用于将待测光电耦合器的测试结果和动态库输出的产品编号及对应的图像信息打包进行存储。


2.根据权利要求1所述的自动排号的光电耦合器测试系统，其特征在于，所述图像识别模块还用于设置产品的编号规则及编号范围，以及查询和调用计算机存储的图像信息和产品编号，所述图像识别模块还封装有编号校正算法，所述编号校正算法用于判断当前识别的产品编号是否满足设置的编号规则及编号范围要求，如果识别出的产品编号不满足编号规则或超出了编号范围，则展示待测光电耦合器的图像信息，根据图像信息人工判断并录入产品编号做为待测光电耦合器的产品编号；
如果识别出的产品编号满足编号规则且在编号范围内，则查询当前识别的产品编号...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍江，丁鹏，陈春霞，李冰，赵瑞莲，李洪玉，龙平，郭志，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十四研究所，
类型：发明
国别省市：重庆;50