一种表征近红外仪器差异和校正的方法技术

本发明专利技术提供了一种表征近红外仪器差异和校正的方法，通过计算和比较标准样品在主机仪器与从机仪器光谱间的欧式距离，简单直观地得到不同仪器之间的差异；通过建立主从机仪器之间的光谱差异与预测误差之间的修正模型，使得主机定量分析模型能够在从机仪器上直接使用。借助修正模型校正从机仪器光谱的预测结果，提高了定量分析模型的预测准确度，节省了时间和成本。

【技术实现步骤摘要】
一种表征近红外仪器差异和校正的方法
本专利技术涉及近红外光谱分析
，特别涉及一种表征近红外仪器差异和校正的方法。
技术介绍
近红外光谱分析仪器具有信噪比高、分辨率高、波长准确性且重复性好，稳定性好等优点，被广泛应用于药物、烟草、石油等行业。近红外光谱仪器能提供分析样品的高测量精度的光谱，并采用化学计量学方法建立光谱与样品性质的定量分析模型，实现快速检测分析。在定量分析模型的实际应用中，由于近红外光谱仪器自身的差异，造成了定量分析模型不能有效共享。因此了解不同仪器所采集光谱的差异，及采用相应的模型转移方法对后续的定量分析尤为重要。专利申请号CN201610192572.3公开了一种标识光谱差异性的方法与流程，该方法为将谱图定义多个不同尺度的移动窗口；在每个尺度下，计算窗口内互相比对的光谱的向量夹角值，通过移动窗口，得到整个光谱范围的系列夹角值；再调整窗口大小，从而得到各个尺度下的完整谱线差异；然后，考察谱线不同位置和尺度的差异分布，由差异分布判断谱线的一致性。但是该专利文献公开的方法主要是针对不同的样本在同一台仪器上的光谱差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获得标准样品；/n利用主机仪器和从机仪器分别采集所述标准样品的光谱获得第一标准光谱和第二标准光谱，其中，设置所述主机仪器和所述从机仪器的采集参数相同；/n根据所述第一标准光谱和所述第二标准光谱获得所述第一标准光谱与所述第二标准光谱的欧氏距离；/n根据所述欧氏距离获得所述主机仪器和所述从机仪器的仪器差异；/n根据主机光谱和分析检测指标参考值，建立主机模型，其中所述主机光谱包括利用所述主机仪器采集建模用样品所获得的光谱和所述第一标准光谱，所述参考值通过化学方法获得；/n用所述主机模型在所述从机仪器上计算所述标准样品的分析检测指标...

【技术特征摘要】
1.一种表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：
获得标准样品；
利用主机仪器和从机仪器分别采集所述标准样品的光谱获得第一标准光谱和第二标准光谱，其中，设置所述主机仪器和所述从机仪器的采集参数相同；
根据所述第一标准光谱和所述第二标准光谱获得所述第一标准光谱与所述第二标准光谱的欧氏距离；
根据所述欧氏距离获得所述主机仪器和所述从机仪器的仪器差异；
根据主机光谱和分析检测指标参考值，建立主机模型，其中所述主机光谱包括利用所述主机仪器采集建模用样品所获得的光谱和所述第一标准光谱，所述参考值通过化学方法获得；
用所述主机模型在所述从机仪器上计算所述标准样品的分析检测指标获得预测值，并获得所述预测值与所述参考值之间的预测误差；
将所述第二标准光谱投影至所述主机光谱空间上，获得所述主机仪器和所述从机仪器的光谱差异；
根据所述光谱差异与所述预测误差建立所述主机仪器与所述从机仪器间的修正模型。


2.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述光谱采集参数包括波长扫描范围、分辨率、扫描次数和光谱点数。


3.根据权利要求2所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述光谱点数通过所述主机仪器自带软件或插值的方法设置。


4.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述仪器差异包括通过计算和比较所述第一标准光谱和所述第二标准光谱的平均欧式距离或欧式距离分布获得。


5.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡芸，张辞海，彭黔荣，刘娜，姬厚伟，黄锡娟，
申请(专利权)人：贵州中烟工业有限责任公司，
类型：发明
国别省市：贵州;52