可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪、系统及测量方法技术方案

本发明专利技术公开了一种可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪、系统及方法，包括水位压力测量部分和水箱；水位压力测量部分位于水箱底部，包括光纤、准直器、分光晶体、测量反射镜、参考反射镜、参考臂调节栓、测量臂调节栓和基体件；光纤连接准直器，准直器固定在基体件上；分光晶体设置在准直器的后侧，在分光晶体的上方设置测量反射镜，在分光晶体的后方设置参考反射镜，参考反射镜水平连接参考臂调节栓；分光晶体和测量反射镜位于基体件内，参考臂调节栓穿过基体件侧壁；测量臂调节栓设置在基体件底部；水箱为密封的，并有排气口、进水管和出水管；在水箱底部设有应力膜片。

【技术实现步骤摘要】
可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪、系统及测量方法
本专利技术属于传感器
，具体涉及一种测量沉降的高精度光纤干涉沉降仪、包括该光纤干涉型沉降仪的测量系统及测量方法。
技术介绍
在现今市场，随着各种大型工程的发展，越来越多的大坝坝基、土建等不得不开挖到基岩层电而直接建于覆盖层上，坝基或土建基层沉降变形的大小对大坝的应力与变形等有很大的影响。同时，很多野外公路、铁路交通的路边都存在山地滑坡的风险。监测大坝、大型基建设施、山体的沉降常用的有液压式沉降仪及电磁式沉降仪。一般的液压式沉降仪要求测点远离监测站时，电式的液压式沉降仪无法适应，光纤光栅液压式沉降仪体积较大。市场上很多采用电磁式沉降仪，这种沉降仪的安装需要供电，无法在无人区进行安装和工作。整个沉降测量系统中，测量点与监控房的距离比较远，同时测量沉降的精度还要求比较高，因此对于这种情况的沉降测量急需解决办法。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
部分提出的技术问题，本专利技术的目的是提供一种高精度光纤干涉沉降仪、包括该光纤干涉型沉降仪的测量系统及测量方法，能够解决本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，包括水位压力测量部分和水箱；所述的水位压力测量部分位于水箱底部，包括光纤、准直器、分光晶体、测量反射镜、参考反射镜、参考臂调节栓、测量臂调节栓和基体件；所述的光纤连接准直器，准直器固定在基体件上；分光晶体设置在准直器的后侧，在分光晶体的上方设置测量反射镜，在分光晶体的后方设置参考反射镜，参考反射镜水平连接参考臂调节栓；分光晶体和测量反射镜位于基体件内，参考臂调节栓水平设置在基体件上；测量臂调节栓竖直设置在基体件上；所述水箱为密封结构，并有排气口、进水管和出水管；在水箱底部设有应力膜片。/n

【技术特征摘要】
1.一种可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，包括水位压力测量部分和水箱；所述的水位压力测量部分位于水箱底部，包括光纤、准直器、分光晶体、测量反射镜、参考反射镜、参考臂调节栓、测量臂调节栓和基体件；所述的光纤连接准直器，准直器固定在基体件上；分光晶体设置在准直器的后侧，在分光晶体的上方设置测量反射镜，在分光晶体的后方设置参考反射镜，参考反射镜水平连接参考臂调节栓；分光晶体和测量反射镜位于基体件内，参考臂调节栓水平设置在基体件上；测量臂调节栓竖直设置在基体件上；所述水箱为密封结构，并有排气口、进水管和出水管；在水箱底部设有应力膜片。


2.如权利要求1所述的可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，还包括水位计，所述水位计直接测量密闭水箱内的水压值变化值。


3.根据权利要求1所述的可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，在所述的进水管上设有进水阀。


4.根据权利要求1所述的可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，在所述的出水管上设有出水阀。


5.根据权利要求1所述的可调节压差范围的光纤干涉型沉降仪，其特征在于，还包括基体件，基体件位于基体件内。


6.一种可调节压差法的光纤干涉液压沉降仪测量系统，其特征在于，包括权利要求1-5任一所述的高精度光纤干涉液压沉降仪。


7.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔洪亮，罗政纯，于淼，杨先勇，
申请(专利权)人：珠海任驰光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44