一种片式电子元器件浪涌测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种片式电子元器件浪涌测试治具。该片式电子元器件浪涌测试治具包括底座；两片弹片，其相对设置，通过第一安装通孔插接固定在底座上；上盖，上盖与所述底座卡合固定；绝缘耐高温垫板，绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与底座相连接；以及两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。采用上述设计，当片式电子元器件如电解电容在测试过程中出现短路，电解电容会爆燃，产生1600摄氏度以上的瞬间高温时，由于与其接触的垫板为绝缘耐高温，同时两块耐高温保护侧板也是耐高温的，就可以避免在该高温的影响下，对治具造成烧毁的问题，降低了老化测试治具的更换成本。

【技术实现步骤摘要】
一种片式电子元器件浪涌测试治具
本技术涉及片式电子元器件测试领域，特别是涉及一种失效时产生高温、燃烧的电子元器件浪涌测试治具。
技术介绍
片式电子元器件如电解电容是电容的一种，金属箔为正极（铝或钽），与正极紧贴金属的氧化膜（氧化铝或五氧化二钽）是电介质，阴极由导电材料、电解质（电解质可以是液体或固体）和其他材料共同组成，因电解质是阴极的主要部分，电解电容因此而得名。同时电解电容正负不可接错。铝电解电容器可以分为四类：引线型铝电解电容器；牛角型铝电解电容器；螺栓式铝电解电容器；固态铝电解电容器。现在市面上的电解电容，在生产完成后，一般都需要对其进行老化测试，主要为了对电容的浪涌冲击进行测试，现在的测试治具，其底座上两个弹片之间用于支撑电容的垫板及治具的上盖整体为最高耐200摄氏度左右的PEI等塑胶材质，当电解电容的芯片出现不良时，会造成测试电路短路，电流会突然增大，造成电解电容发热爆燃直至全部烧尽，燃烧时间1-3秒，在这个瞬间产生的温度高达1600摄氏度以上，直接会将该治具烧毁。因此，市面上亟需一种能够解决上述一个或者多个问题的片式电子元器件浪涌测试治具。
技术实现思路
为解决现有技术中存在的一个或者多个问题，本技术提供了一种片式电子元器件浪涌测试治具。本技术为达到上述目的所采用的技术方案是：一种片式电子元器件浪涌测试治具，所述治具包括：底座，所述底座上至少设有两个第一安装通孔；两片弹片，所述两片弹片相对设置，通过所述第一安装通孔插接固定在所述底座上，且一端穿过所述第一安装通孔露出于所述底座下底面上；上盖，所述上盖与所述底座卡合固定，所述上盖上设有一用于供片式电子元器件安装至所述两片弹片之间的第二安装通孔；以及绝缘耐高温垫板，所述绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与所述底座相连接。在一些实施例中，所述治具还包括：两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。在一些实施例中，所述底座和所述上盖卡合固定后，所述上盖能够沿着所述上盖高度方向限制的距离内上下移动；当所述上盖移动到最下端时，通过所述耐高温保护侧板对弹片施加一向两弹片内侧夹紧的一作用力。在一些实施例中，所述底座上设有一与所述绝缘耐高温垫板相配合的第一卡接槽。在一些实施例中，所述上盖上设有一与所述耐高温保护侧板相配合的第二卡接槽。在一些实施例中，所述绝缘耐高温垫板上端面上设有至少一个沿所述绝缘耐高温垫板高度方向设置，与片式电子元器件相配合的安装槽。在一些实施例中，所述底座上设有至少一个卡钩，所述上盖上设有与所述卡钩相配合的沟槽；当所述上盖移动到最下端时，所述卡钩和所述沟槽之间形成一活动空隙。在一些实施例中，所述弹片侧壁上设有一弧形凸起，所述耐高温保护侧板上设有一与所述弧形凸起相配合的斜面；当所述上盖和所述底座卡合固定后，上盖沿着所述上盖高度方向移动时，通过斜面和弧形凸起相配合，从而实现对弹片的向内压紧或者向外回弹。在一些实施例中，所述绝缘耐高温垫板为耐高温陶瓷垫板或其它绝缘耐高温材料。在一些实施例中，所述耐高温保护侧板为耐高温陶瓷侧板或者铝合金侧板或其它耐高温材料。在一些实施例中，所述底座上的第一安装通孔两侧设有一与所述弹片相配合的一次弹片卡接槽；所述弹片上设有一与所述一次弹片卡接槽相配合的卡接凸起。本技术的有益效果是：本技术包括底座，所述底座上至少设有两个第一安装通孔；两片弹片，所述两片弹片相对设置，通过所述第一安装通孔插接固定在所述底座上，且一端穿过所述第一安装通孔露出于所述底座下底面上；上盖，所述上盖与所述底座卡合固定，所述上盖上设有一用于供电容安装至所述两片弹片之间的第二安装通孔；绝缘耐高温垫板，所述绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与所述底座相连接；以及两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。采用上述设计，当片式电子元器件如电解电容在测试过程中出现短路，电解电容会爆燃，产生1600摄氏度以上的瞬间高温时，由于与其接触的垫板为绝缘耐高温，同时两块耐高温保护侧板也是耐高温的，就可以避免在该高温的影响下，对治具造成烧毁的问题，从而大大降低了老化测试治具的更换成本。附图说明图1为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具的俯视图；图2为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具的爆炸图；图3为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具图1中A-A向的剖视图；图4为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中省略上盖和耐高温保护侧板的结构示意图；图5为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中底座的结构示意图；图6为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中底座的俯视图；图7为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中上盖和耐高温保护侧板的装配结构示意图；图8为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具凸7中B-B向的剖视图；图9为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中耐高温保护侧板的结构示意图；图10为本技术较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中弹片的结构示意图；图11为本技术另一较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具的结构示意图；图12为本技术另一较佳实施例一种片式电子元器件浪涌测试治具中耐高温绝缘垫板的结构示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加浅显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。如图1、图2和图3所示，本技术公开了一种片式电子元器件浪涌测试治具，所述治具包括：底座10，所述底座10上至少设有两个第一安装通孔11；两片弹片20，所述两片弹片20相对设置，通过所述第一安装通孔11插接固定在所述底座10上，且一端穿过所述第一安装通孔11露出于所述底座10下底面上；上盖30，所述上盖30与所述底座10卡合固定，所述上盖30上设有一用于供片式电子元器件安装至所述两片弹片20之间的第二安装通孔31；以及绝缘耐高温垫板40，所述绝缘耐高温垫板40设置在所述两片弹片20之间，且与所述底座10相连接。具体地，本实施例是应用于电解电容老化测试设备中，在使用该设备时，将该治具中露出于底座10上第一安装通孔11的弹片20焊接固定到PCB板上，PCB板上蚀刻有测试电路。当焊接固定完成后，将需要测试的电解电容卡接固定到两片弹片20之间，固定完成本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种片式电子元器件浪涌测试治具，其特征在于，所述治具包括：/n底座，所述底座上至少设有两个第一安装通孔；/n两片弹片，所述两片弹片相对设置，通过所述第一安装通孔插接固定在所述底座上，且一端穿过所述第一安装通孔露出于所述底座下底面上；/n上盖，所述上盖与所述底座卡合固定，所述上盖上设有一用于供片式电子元器件安装至所述两片弹片之间的第二安装通孔；以及/n绝缘耐高温垫板，所述绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与所述底座相连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种片式电子元器件浪涌测试治具，其特征在于，所述治具包括：
底座，所述底座上至少设有两个第一安装通孔；
两片弹片，所述两片弹片相对设置，通过所述第一安装通孔插接固定在所述底座上，且一端穿过所述第一安装通孔露出于所述底座下底面上；
上盖，所述上盖与所述底座卡合固定，所述上盖上设有一用于供片式电子元器件安装至所述两片弹片之间的第二安装通孔；以及
绝缘耐高温垫板，所述绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与所述底座相连接。


2.根据权利要求1所述的片式电子元器件浪涌测试治具，其特征在于，所述治具还包括：
两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。


3.根据权利要求2所述的片式电子元器件浪涌测试治具，其特征在于，所述底座和所述上盖卡合固定后，所述上盖能够沿着所述上盖高度方向限制的距离内上下移动；
当所述上盖移动到最下端时，通过所述耐高温保护侧板对弹片施加一向两弹片内侧夹紧的一作用力。


4.根据权利要求2所述的片式电子元器件浪涌测试治具，其特征在于，所述底座上设有一与所述绝缘耐高温垫板相配合的第一卡接槽；所述上盖上设有一与所述耐高温保护侧板相配合的第二卡接槽。


5.根据权利要求1所述的片式电子元器件浪涌...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐小馨，唐晓敏，
申请(专利权)人：唐晓敏，
类型：新型
国别省市：广东;44