一种电容式触摸按键控制方法、系统及电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种电容式触摸按键控制方法、系统及电子装置，本发明专利技术的电容式触摸按键控制方法包括：在第一计时程序计时的条件下，通过按键检测程序获得第一平均值数组，在第二计时程序计时的条件下，通过基准值更新程序获得更新的按键功能基准值数组，对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值，所述第二平均值为更新的按键功能基准值。本实发明专利技术通过设计了一种电容式触摸按键控制方法、系统，使电子装置上的电容式触摸按键更加灵敏，电容式触摸按键状态检测的精确度更高。

【技术实现步骤摘要】
一种电容式触摸按键控制方法、系统及电子装置
本专利技术涉及触摸按键
，特别是涉及一种电容式触摸按键控制方法、系统及电子装置。
技术介绍
近年来，随着触摸技术的广泛使用，各种类型的按键被广泛应用于各种电子产品中。其中，电容触摸按键为最常用的触摸按键，通过检测电容触摸按键上电容值的变化，判定触摸动作是否产生，并将检测到的电容值与基准值进行比较，随环境变化更新基线值。采用电容式触摸按键不仅使用寿命长，而且具有更大的灵敏度、稳定性、可靠性等优点，但是，现有的电容式触摸按键在不稳定的环境下状态检测的精确度低，按键触摸功能不灵敏。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电容式触摸按键控制方法、系统及电子装置，通过本专利技术的电容式触摸按键控制方法，可以使电容式触摸按键的功能更加灵敏，电容式触摸按键状态检测的精确度更高。为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：本专利技术提供一种电容式触摸按键控制方法，其包括：提供第一计时程序、第二计时程序、按键检测程序和基准值更新程序；在所述第一计时程序计时的条件下，通过所述按键检测程序获得第一平均值数组；在所述第二计时程序计时的条件下，通过所述基准值更新程序获得所述更新的按键功能基准值数组；对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值，所述第二平均值为更新的按键功能基准值。在本专利技术的一实施例中，所述第一计时程序还包括：提供一预设检测时间间隔；判断所述第一计时程序是否到达所述预设检测时间间隔，若是则执行所述按键检测程序，若否，则继续计时。在本专利技术的一实施例中，所述第一平均值的获取方法包括：多次执行按键检测程序获得第一按键功能检测值与第二按键功能检测值；对所述第一按键功能检测值和所述第二按键功能检测值取平均，获得所述第一平均值。在本专利技术的一实施例中，所述第一平均值数组的获取方法包括：判断所述第一平均值是否符合要求，保存符合要求所述第一平均值，重复所述按键检测程序可以得到第一平均值数组。在本专利技术的一实施例中，所述第二计时程序包括：提供一预设更新时间间隔；判断所述第一计时程序是否到达所述预设更新时间间隔，若是则执行所述按键检测程序，若否，则继续计时。在本专利技术的一实施例中，所述更新的按键功能基准值数组的获得方法包括：提供一原始按键功能基准值数组；将所述原始按键功能基准值数组中的数值依次由后至前进行数值替换；用最新获得的第一平均值替换所述原始按键功能基准值数组中最后一位数值，获得所述更新的按键功能基准值数组。在本专利技术的一实施例中，获取所述第一差值的方法包括：提取所述更新的按键功能基准值数组中的最大值与最小值；对所述最大值与所述最小值做差获得所述第一差值。在本专利技术的一实施例中，获取所述更新的按键基准值的方法还包括以下步骤：当所述第一差值小于第三预设值时，对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值，所述第二平均值为所述更新的按键功能基准值。在本专利技术的一实施例中，所述第一计时程序还包括以下步骤：在所述第一计时程序中设有一预设检测间隔时间；采用所述第一计时程序进行计时得到第一计时时间，判断所述第一计时时间是否达到所述预设检测时间间隔；当所述第一计时时间达到所述预设检测时间间隔时，执行所述按键检测程序，之后所述第一计时时间清零并重新开始计时；若所述第一计时时间没有达到所述预设检测时间间隔，继续执行所述第一计时程序。在本专利技术的一实施例中，所述第一平均值的获取方法包括以下步骤：预设一累加次数；通过所述按键检测程序启动按键检测过程，获得第一按键功能检测值；判断所述按键检测过程是否结束；若未结束，返回所述第一计时程序；若结束，则禁止所述按键检测过程，并保存所述第一按键功能检测值，同时所述累加次数加1；判断所述累加次数是否等于设定值，设定值例如是2；若所述累加次数不等于设定值，例如是2，则返回所述第一计时程序；在所述第一计时程序中，当所述第一计时程序的计时时间再次达到所述预检测时间间隔时，启动按键检测功能获得第二功能检测值；若所述累加次数等于设定值，例如是2，则对所述第一按键功能检测值和所述第二按键功能检测值取平均得到所述第一平均值。在本专利技术的一实施例中，所述第一平均值数组的获取方法还包括以下步骤：提供一原始按键基准值；判断所述第一平均值是否大于第一预设值，且所述第一平均值与所述原始按键基准值之差是否大于第二预设值，若否，所述第一平均值不保存并返回所述第一计时程序，若是，则将所述第一平均值保存，重复按所述键检测程序可以得到所述第一平均值数组。在本专利技术的一实施例中，所述第二计时程序包括以下步骤：在所述第二计时程序中设有一预设更新间隔时间；采用所述第二计时程序进行计时得到第二计时时间，判断所述第二计时时间是否达到所述预设更新时间间隔；当所述第二计时时间达到所述预设更新时间间隔时，执行所述基准值更新程序，之后所述第二计时时间清零并重新开始计时；若所述第二计时时间没有达到所述预设更新时间间隔，继续执行所述第二计时程序。在本专利技术的一实施例中，所述更新的按键功能基准值数组的获得方法包括以下步骤：提供一原始按键功能基准值数组；将所述原始按键功能基准值数组中的数值依次由后至前进行数值替换；用最新获得的第一平均值替换所述原始按键功能基准值数组中最后一位数值，当所述原始按键功能基准值数组内的数值被全部替换后，获得所述更新的按键功能基准值数组。本专利技术的一实施例中，获得所述第一差值的方法包括以下步骤：提取所述更新的按键功能基准值数组中的最大值与最小值；对所述最大值与所述最小值做差获得所述第一差值。本专利技术的一实施例中，获得更新的按键基准值的方法还包括以下步骤：当所述第一差值小于第三预设值时，对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值；所述第二平均值为所述更新的按键功能基准值。本专利技术还包括一种电容式触摸按键控制系统，所述电容式触摸按键控制系统包括：第一计时器，用于储存所述第一计时程序；按键检测模块，用于储存所述按键检测程序，在所述第一计时程序计时的条件下，通过所述按键检测程序获得所述第一平均值数组；第二计时器，用于储存所述第二计时程序；基准值更新模块，用于储存所述基准值更新程序，在所述第二计时程序计时的条件下，通过所述基准值更新程序获得所述更新的按键功能基准值数组；数据分析模块，用于对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得所述第二平均值，所述第二平均值为所述更新的按键功能基准值。本专利技术还提供一种电子装置，所述的电子装置包括：电容式触控面板，所述电容式触控面板上设有按键；存储器，所述存储器上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，其至少包括以下步骤：/n提供一第一计时程序、第二计时程序、按键检测程序和基准值更新程序；/n在所述第一计时程序计时的条件下，通过所述按键检测程序获得第一平均值数组；/n在所述第二计时程序计时的条件下，通过所述基准值更新程序获得更新的按键功能基准值数组；/n对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值，所述第二平均值为更新的按键功能基准值。/n

【技术特征摘要】
1.一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，其至少包括以下步骤：
提供一第一计时程序、第二计时程序、按键检测程序和基准值更新程序；
在所述第一计时程序计时的条件下，通过所述按键检测程序获得第一平均值数组；
在所述第二计时程序计时的条件下，通过所述基准值更新程序获得更新的按键功能基准值数组；
对所述更新的按键功能基准值数组取平均，获得第二平均值，所述第二平均值为更新的按键功能基准值。


2.根据权利要求1所述的一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，所述第一计时程序包括：
提供一预设检测时间间隔；
判断所述第一计时程序是否到达所述预设检测时间间隔，若是则执行所述按键检测程序，若否，则继续计时。


3.根据权利要求2所述的一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，所述第一平均值的获取方法包括：
多次执行按键检测程序获得第一按键功能检测值与第二按键功能检测值；
对所述第一按键功能检测值和所述第二按键功能检测值取平均，获得所述第一平均值。


4.根据权利要求3所述的一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，所述第一平均值数组的获取方法包括：
判断所述第一平均值是否符合要求，保存符合要求所述第一平均值，重复所述按键检测程序可以得到第一平均值数组。


5.根据权利要求1所述的一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，所述第二计时程序包括：
提供一预设更新时间间隔；
判断所述第一计时程序是否到达所述预设更新时间间隔，若是则执行所述按键检测程序，若否，则继续计时。


6.根据权利要求1所述的一种电容式触摸按键控制方法，其特征在于，所述更新的按键功能基准值数组的获得方法包括：
提供一原始按键功能基准值数组；
将所述原始按键功能基准值数组中的数值依次由后至前进行数值替换；
用最新获得的第一平均值替换所述原始按键功能基准值数组中最后一位数值，获得所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈君，张国财，翟晶，吕峰，
申请(专利权)人：合肥市航嘉电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34