筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供的筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘，涉及固态硬盘领域，所述方法包括当块中所有区域的RBE值均小于第一阈值时，判断块中是否至少有一个区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录块的区域信息，并根据区域信息判断块是否为弱块；区域信息表征块中所有区域的RBE值及位置。当块中所有区域的RBE值均小于最大弱块阈值时，通过块中所有区域的RBE值及位置来判断块是否为弱块，能尽可能完整、全面、准确的提前识别出存在风险的弱块，在业务上避免或限制使用该类弱块，从而保证数据存取的正确性以及延长该固态硬盘的使用寿命，提升客户体验。

【技术实现步骤摘要】
筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘
本专利技术涉及固态硬盘领域，具体而言，涉及一种筛选闪存弱块的方法、装置和固态硬盘。
技术介绍
由于生产制作工艺以及电气特性等的影响，NANDflash会出现部分块(block)存在缺陷，而大多厂家都会进行标记为原始出厂坏块。但是仍然存在一些block，其基本的读写擦功能可用，但是在使用过程中极易老化并导致数据存取异常，而这些弱块通过常规的测试并不能完全有效的筛选出来。存储到flash的数据都会出现一定程度的bit翻转，其指标可通过原始比特误码(RawBitError，RBE)数量来衡量，即从flash中获取的未纠错的数据和原始数据相比较，统计出来的发生bit翻转的个数。一般以1K为单位，如RBE＝30，即1K的数据有30个bit有跳变。现今，基本的弱块筛选方案基本上都是设定了一个比较大的RBE阈值来保证纠错算法的可靠性，而一般正常的块在擦写后读出来的数据的RBE相对较低。但是存在着一些NANDflash由于受工艺限制或生产环境影响导致该批次质量较差，短期基本功能可用但是不能长久，而该类弱块通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种筛选闪存弱块的方法，所述固态硬盘的闪存中每个块包括多个存储空间大小相等的区域，其特征在于，包括：/n当所述块中所有所述区域的RBE值均小于第一阈值时，判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录所述块的区域信息，并根据所述区域信息判断所述块是否为弱块；所述区域信息表征所述块中所有区域的RBE值及位置；所述第一阈值、所述第二阈值均根据闪存颗粒类型、温度、擦写次数以及数据模式获得。/n

【技术特征摘要】
1.一种筛选闪存弱块的方法，所述固态硬盘的闪存中每个块包括多个存储空间大小相等的区域，其特征在于，包括：
当所述块中所有所述区域的RBE值均小于第一阈值时，判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第二阈值；若是，则记录所述块的区域信息，并根据所述区域信息判断所述块是否为弱块；所述区域信息表征所述块中所有区域的RBE值及位置；所述第一阈值、所述第二阈值均根据闪存颗粒类型、温度、擦写次数以及数据模式获得。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述区域信息判断所述块是否为弱块的步骤，包括：
获取所述块中目标行的数量和目标列的数量；所述目标行包括至少一个所述RBE值大于等于第二阈值的所述区域；所述目标列包括至少一个所述RBE值大于等于第二阈值的所述区域；
根据所述目标行的数量和所述目标列的数量判断所述块是否为弱块。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述目标行的数量和所述目标列的数量判断所述块是否为弱块的步骤，包括：
判断所述目标行的数量是否大于等于第三阈值，或所述目标列的数量是否大于等于第四阈值；若是，则将所述块标记为弱块；所述第三阈值为所述区域总行数的比例取值；所述第四阈值为所述区域总列数的比例取值；
若否，则获取所述块中所有所述区域的RBE平均值，并判断所述RBE平均值是否大于第二阈值；若是，则将所述块标记为弱块；若否，则将所述块标记为正常块。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第二阈值的步骤之前，包括：
判断所述块中是否至少有一个所述区域的RBE值大于等于第一阈值；若是，则将所述块标记为弱块。


5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，将所述块标记为弱块的步骤之后及将所述块标记为正常块步骤之后，包括：
获取下一个所述块的所述区域信息，并根据所述区域信息对所述块进行弱块检测，直到检测完所述闪存中的所有所述块...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙虎威，
申请(专利权)人：江苏芯盛智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32