一种形变测试贴片制造技术

本发明专利技术提供了一种形变测试贴片，在弹性层上设置第一光反射部和第二光反射部，在第一光反射部和第二光反射部上设置二硫化钼层。使用时，弹性层固定在待测物体上，待测物体的形变改变第一光反射部和第二光反射部的反射光谱，通过该反射光谱确定待测物体的形变。一方面，反射光谱严重地依赖于第一光反射部中第一光反射单元间的距离或第二光反射部中第二光反射单元间的距离；另一方面，形变导致二硫化钼层产生压电效应，在二硫化钼层两端聚集电荷、产生电场，这些电场改变了第一光反射单元或第二光反射单元中的载流子浓度，改变了光的共振波长，更进一步地改变了反射光谱。因此，该形变测试贴片具有灵敏度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种形变测试贴片
本专利技术涉及形变测试领域，具体涉及一种形变测试贴片。
技术介绍
形变是指物体受到外力发生形状变化。物体由于外因或内在缺陷，物质颗粒的相对位置发生改变。传统的形变探测通过探测压力实现，例如通过压阻效应测量岩石的形变。传统的测试方法灵敏度低。
技术实现思路
为解决以上问题，本专利技术提供了一种形变测试贴片，该形变测试贴片包括弹性层、第一光反射部、第二光反射部、二硫化钼层。第一光反射部和第二光反射部固定在弹性层上，二硫化钼层固定在第一光反射部和第二光反射部上。第一光反射部包括周期排列的第一光反射单元，第二光反射部包括周期排列的第二光反射单元。使用时，弹性层固定在待测物体上，待测物体形变改变第一光反射部和第二光反射部的反射光谱，通过该反射光谱确定待测物体的形变。更进一步地，第一光反射单元或第二光反射单元为金属微纳颗粒、半导体材料颗粒。更进一步地，第一光反射单元或第二光反射单元的形状为方形、圆形、矩形。更进一步地，第一光反射单元与第二光反射单元的材料或形状不同。更进一步地，在第一光反本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种形变测试贴片，其特征在于，包括：弹性层、第一光反射部、第二光反射部、二硫化钼层，所述第一光反射部和所述第二光反射部固定在所述弹性层上，所述二硫化钼层固定在所述第一光反射部和所述第二光反射部上，所述第一光反射部包括周期排列的第一光反射单元，所述第二光反射部包括周期排列的第二光反射单元；使用时，所述弹性层固定在待测物体上，待测物体的形变改变所述第一光反射部和所述第二光反射部的反射光谱，通过该反射光谱确定待测物体的形变。/n

【技术特征摘要】
1.一种形变测试贴片，其特征在于，包括：弹性层、第一光反射部、第二光反射部、二硫化钼层，所述第一光反射部和所述第二光反射部固定在所述弹性层上，所述二硫化钼层固定在所述第一光反射部和所述第二光反射部上，所述第一光反射部包括周期排列的第一光反射单元，所述第二光反射部包括周期排列的第二光反射单元；使用时，所述弹性层固定在待测物体上，待测物体的形变改变所述第一光反射部和所述第二光反射部的反射光谱，通过该反射光谱确定待测物体的形变。


2.如权利要求1所述的形变测试贴片，其特征在于：所述第一光反射单元或所述第二光反射单元为金属微纳颗粒、半导体材料颗粒。


3.如权利要求2所述的形变测试贴片，其特征在于：所述第一光反射单元或所述第二光反射单元的形状为方形、圆形、矩形。
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【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：西安柯莱特信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61