一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统技术方案

技术编号:25288012 阅读:20 留言:0更新日期:2020-08-14 23:22
本实用新型专利技术公开了一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,包括:数字处理单元,连接上位机与频综电路模块,用于解析接收的寄存器参数命令,并下发给频综电路模块;频综电路模块,根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形;频谱仪,被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形;上位机,向频综电路模块输入寄存器配置信息,并获取频谱仪输出波形的波形指标。本实用新型专利技术利用上位机接收频谱仪的信号波形信息,判断波形指标是否合格,并手动或自动下发寄存器值,重新更新PLL芯片配置,以达到PLL芯片所需指标,前期有数字处理人员编写好上位机及FPGA程序,后期测试只需射频设计人员调试即可,减少FPGA编译时间,提高了效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统
本技术涉及电子通信领域,尤其涉及一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统。
技术介绍
锁相环(PLL)在无线基站、有线传输网等通信设备,以及雷达、航天、精密测量、计算机、红外、激光、原子能、立体声、马达控制、图像等
上有着非常广泛的应用。传统的PLL芯片配置是先由射频设计人员仿真后得出自己所需的结果,将结果给予数字处理人员编程,转换为芯片能读取的寄存器值,配置好后由射频设计人员确认,如果与初始设计有差异或指标不满足时(硬件电路环境与仿真的实际差异),数字处理人员要重新根据射频设计人员的测试结果进行再次或多次的编程修改寄存器值,直到结果达到所需指标,修改量大,占用人力物力资源较多。
技术实现思路
本技术的目的在于,针对上述问题,提出一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统。一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,包括:数字处理单元,连接上位机与频综电路模块,用于解析接收的寄存器参数命令,并下发给频综电路模块;频综电路模块,根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形;频谱仪,被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形;上位机,向频综电路模块输入寄存器配置信息,并获取频谱仪输出波形的波形指标。进一步的,一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,所述的频综电路模块为PLL芯片电路。进一步的,一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,所述的数字处理单元采用FPGA可编程逻辑器件,将配置的寄存器参数按预设时序下发于频综电路模块。进一步的,一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,所述的频综电路模块与频谱仪通过GPIB线连接。进一步的,一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,所述的上位机为高性能PC。进一步的,一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,所述的上位机与频综电路模块的通信方式为SPI通信或RS232通信。本技术的有益效果:本技术利用上位机接收频谱仪的信号波形信息,判断波形指标是否合格,并手动或自动下发寄存器值,重新更新PLL芯片配置,以达到PLL芯片所需指标,前期有数字处理人员编写好上位机及FPGA程序,后期测试只需射频设计人员调试即可,减少FPGA编译时间,提高了效率。附图说明图1是本技术的结构与原理示意图。图2是本技术实现PLL芯片配置的原理流程示意图。具体实施方式为了对本技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照附图说明本技术的具体实施方式。本实施例中,如图1所示,基于上位机的PLL芯片配置测试系统包括数字处理单元、频综模块、频谱仪以及上位机。芯片配置过程中,射频设计人员先由仿真、计算得出自身需要的频率值数据,根据数据参考PLL芯片资料给出相应的寄存器值,由上位机下发给数字处理单元,进行一系列处理后按固定时序下发给PLL芯片,配置成功PLL芯片会输出相应频率在频谱仪上显示出来,射频设计人员根据最后的输出(后端的混频变频等等)判断输出频率是否达到设计要求,从而是否改变当前PLL芯片配置的寄存器值。如图2所示,本技术基于上位机的PLL芯片配置测试流程,上位机下发关键寄存器的值(缺省寄存器值可直接写入程序),数字处理单元中的FPGA负责解析命令,然后调入各寄存器中,因为寄存器已经参数化了,一接收到上位机下发的寄存器值便会更新程序里的PLL寄存器,然后下发给PLL芯片,无需编译,因FPGA器件、软件本身,编译会消耗大量时间,参数化后就消除了这一限制,PLL输出相应频率,在频谱仪上观察,测试人员可根据频谱判断是否满足设计指标,是否再继续更改寄存器,如满足要求,该寄存器值将作为最优数据固化在程序里。本技术利用上位机接收频谱仪的信号波形信息,判断波形指标是否合格,并手动或自动下发寄存器值,重新更新PLL芯片配置,以达到PLL芯片所需指标,前期有数字处理人员编写好上位机及FPGA程序,后期测试只需射频设计人员调试即可,减少FPGA编译时间,提高了效率。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理,在不脱离本技术精神和范围的前提下,本技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,其特征在于,包括:/n数字处理单元,连接上位机与频综电路模块,用于解析接收的寄存器参数命令,并下发给频综电路模块;/n频综电路模块,根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形;/n频谱仪,被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形;/n上位机,向频综电路模块输入寄存器配置信息,并获取频谱仪输出波形的波形指标。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,其特征在于,包括:
数字处理单元,连接上位机与频综电路模块,用于解析接收的寄存器参数命令,并下发给频综电路模块;
频综电路模块,根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形;
频谱仪,被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形;
上位机,向频综电路模块输入寄存器配置信息,并获取频谱仪输出波形的波形指标。


2.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统,其特征在于,所述的频综电路模块为PLL芯片电路。


3.根据权利要求1所述的一种基于上位机...

【专利技术属性】
技术研发人员:周雨石李海龙钟为金
申请(专利权)人:成都九洲迪飞科技有限责任公司
类型:新型
国别省市:四川;51

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