一种半透半反射镜制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半透半反射镜，包括光学镜片基材，所述光学镜片基材用于制作光学镜片，所述光学镜片包括：有规律分布在光学镜片上的反光区域，所述反光区域上镀有金属反射膜，所述光学镜片上其余部分为透光区域，本实用新型专利技术的有益效果是，半透半反射镜分出来的两束光具有相同的相位和振幅，光线在汇聚的时候会形成干涉，该半透半反射镜上的反光区域呈3π/2的圆弧状，且有规律的排布在光学镜片上,使干涉现象更有规律，更方便进行分析，此半透半反射镜将反光区域和透光区域设置于一块镜片上，且此镜片为可以根据需求进行旋转调节，避免预先调节难以把握的麻烦，可以根据使用情况再进行调节。

【技术实现步骤摘要】
一种半透半反射镜
本技术涉及光学镜片领域，特别是一种半透半反射镜。
技术介绍
对于光学镜片，我们要先了解光干涉，光的干涉现象有二个原因，第一光像是波一样，具有波的特性，我们在丢一块小石子在池塘中，就会看到很多涟漪向外扩散传播，这就是波，而光就可以用波来描述，第二波的迭加原理，我们之所以能够看到干涉条纹的明暗变化，就是因为迭加原理所造成的，这是二个造成光干涉现象的基本条件除此之外，偏振光的特性，是否同相位的特性也是造成光干涉现象的条件。用透射式双缝干涉装置测量入射光波长是人们非常熟悉的，从理论上来说用透射式双缝干涉仪测量微小位移也是可行的，而且测量精度也非常高，实际上因为透射式双缝之间存在挡光条，要使双缝间距非常小，挡光条宽度就必须更小，用双缝干涉效应测量微小位移就是测量挡光条宽度的改变量，但是，想把本身宽度就很小的透射式双缝之间的挡光条宽度变窄或变宽都非常困难，这就是至今难见直接用透射式双缝干涉仪来测量物体微小位移的原因。在调节干涉图象时应保证两束分振幅光的光程差较小并平行重合，否则看不到干涉图象，许多初学者往往浪费很多时间在这本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半透半反射镜，包括光学镜片基材(1)，其特征在于，所述光学镜片基材(1)用于制作光学镜片(2)，所述光学镜片(2)包括：有规律分布在光学镜片(2)上的反光区域(3)，所述反光区域(3)上镀有金属反射膜，所述光学镜片(2)上其余部分为透光区域(4)。/n

【技术特征摘要】
1.一种半透半反射镜，包括光学镜片基材(1)，其特征在于，所述光学镜片基材(1)用于制作光学镜片(2)，所述光学镜片(2)包括：有规律分布在光学镜片(2)上的反光区域(3)，所述反光区域(3)上镀有金属反射膜，所述光学镜片(2)上其余部分为透光区域(4)。


2.根据权利要求1所述的一种半透半反射镜，其特征在于，所述光学镜片(2)是呈圆形的板状镜片，所述反光区域(3)可以为圆弧状，且周长呈3π/2且有规律的分布在光学镜片(2)上，所述反光区域(3)还包括有矩形的反光区域，所述透光区域(4)为光...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧仕明，陈嘉庆，石矿，欧旭良，
申请(专利权)人：宜兴市晶科光学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32