一种插回损测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种插回损测试装置，包括料盘，所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套；以及测试机构，所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间，所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。本申请通过设置料盘，并在料盘上设置多数光纤线，通过移动机构逐渐经过第一测试组件和第二测试组件之间，从而对位于料盘上的光纤依次进行测试，极大提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种插回损测试装置
本技术涉及光线插回损测试领域，具体涉及一种插回损测试装置。
技术介绍
光插回损测试仪是一种常用的光通信测试仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损、回损测试以及稳定性测量，但是在现有技术中，对光纤进行插回损测试，通常都是对每一条光纤进行单根测试，效率极低，上述问题是本领域亟需解决的问题。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种提高光纤插回损测试效率的一种插回损测试装置。为了解决上述技术问题，本技术提供的方案是：一种插回损测试装置，包括料盘，所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套；以及测试机构，所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间，所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。进一步的是：所述第一测试组件包括可升降的插头夹爪，所述插头夹爪本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种插回损测试装置，其特征在于，包括料盘，所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套；以及/n测试机构，所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间，所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种插回损测试装置，其特征在于，包括料盘，所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套；以及
测试机构，所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间，所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。


2.如权利要求1所述的一种插回损测试装置，其中，所述第一测试组件包括可升降的插头夹爪，所述插头夹爪与夹爪驱动机构连接，所述夹爪驱动机构用于驱使所述插头夹爪靠近所述光纤法兰。


3.如权利要求1所述的一种插回损测试装置，其中，所述第二测试组件包括插芯压板、探头固定件和探头驱动机构，所述插芯压板可靠近或远离所述探头固定件，所述探头驱动机构包括探头升降机构和探头推动机构，所述探头升降机构用于驱使所述探头固定件升降，所述探头推动机构用于驱使所述探头固定件和所述插芯压板同时靠近或远离所述插芯固定套。

【专利技术属性】
技术研发人员：郭继明，庞发如，徐文金，
申请(专利权)人：洪雅创捷通信有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51