一种光学测高装置制造方法及图纸

一种光学测高装置，它包括：定位在转动轴（４）上的光线发射器（２）与指针（１），由指针（１）与角刻度盘（３）构成的并且定位在支架（６）顶部平面上的量角器，还有定位在支架（６）顶部平面上的水准仪（５），其特征在于：指针（１）与光线发射器（２）的长度方向是平行的，并且，指针（１）与光线发射器（２）二者处于同轴同步的转动状态。测高时，测量者无需攀高即可在地面上完成全部的高度测量工作。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学测高装置技术。技术背景目前，测量高度通常是采用普通的尺具来实现的。当被测的高度较高吋，或 者人们无法到达待测高度顶端(例如较长细杆的顶端)时，将会给高度测量带 来麻烦。
技术实现思路
本专利技术的目的是通过提出一种专用的测高器具来解决上述的麻烦。 为了实现本专利技术的目的，拟采用以下的技术本专利技术包括定位在转动轴上的光线发射器与指针，由指针与角刻度盘构成 的并且定位在支架顶部平面上的量角器，还有定位在支架顶部平面上的水;佳仪， 其特征在于指针与光线发射器的长度方向是平行的，并且，指针与光线发射器 二者处于同轴同步的转动状态。本专利技术与现有技术比较的最大特点测量者无需攀高即可在地面上完成全部的高度测量工作。附图说明图示意了本专利技术的一种结构。 '1:指针；2:光线发射器；3:角刻度盘；4:转动轴；5:水准仪；6:支架具体实施方式本专利技术的结构特点在于它由发射红光的光线发射器2,定位光线发射器2与指针1的转动轴4，支撑转动轴4的刻度盘3，定位角刻度盘3与水准仪5的 支架6构成。通过水准仪5可以调节支架6顶部的水平，也就是通过水准仪5调整定4立在 支架6顶部角刻度盘3上刻度为零度的基准点，指针与光线发射器的长度方向是 平行的，并且，指针与光线发射器二者处于同轴同步的转动状态。当把本专利技术放 在地面某一位置测量有一定距离的某一竖直平面高度时，只要旋转并将本专利技术上 的光线发射器2对准该被测高度的顶端(此时光线发射器2所发射的红光光:束即 可在该被测平面顶端有所显示)，即可测定并推算出被测竖直平面的高度例如测某一竖直长杆的高度H时，构成本专利技术的转动轴4与长杆之间的水平距离L是可以测量的，指针1在角刻度盘3上转动的角度P也是可以读取的，最后，根据以下公式即可推算出该测试的长杆高度H:H=L,tan权利要求1.一种光学测高装置，它包括定位在转动轴(4)上的光线发射器(2)与指针(1)，由指针(1)与角刻度盘(3)构成的并且定位在支架(6)顶部平面上的量角器，还有定位在支架(6)顶部平面上的水准仪(5)，其特征在于指针(1)与光线发射器(2)的长度方向是平行的，并且，指针(1)与光线发射器(2)二者处于同轴同步的转动状态。专利摘要一种光学测高装置，它包括定位在转动轴(4)上的光线发射器(2)与指针(1)，由指针(1)与角刻度盘(3)构成的并且定位在支架(6)顶部平面上的量角器，还有定位在支架(6)顶部平面上的水准仪(5)，其特征在于指针(1)与光线发射器(2)的长度方向是平行的，并且，指针(1)与光线发射器(2)二者处于同轴同步的转动状态。测高时，测量者无需攀高即可在地面上完成全部的高度测量工作。文档编号G01C3/00GK201191183SQ20082008689公开日2009年2月4日 申请日期2008年5月26日 优先权日2008年5月26日专利技术者龚双龙 申请人:龚双龙本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测高装置，它包括：定位在转动轴（４）上的光线发射器（２）与指针（１），由指针（１）与角刻度盘（３）构成的并且定位在支架（６）顶部平面上的量角器，还有定位在支架（６）顶部平面上的水准仪（５），其特征在于：指针（１）与光线发射器（２）的长度方向是平行的，并且，指针（１）与光线发射器（２）二者处于同轴同步的转动状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：龚双龙，
申请(专利权)人：龚双龙，
类型：实用新型
国别省市：86[中国|杭州]