一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，包括与功率单元输出端连接的连接端子J1、与控制单元连接的输出端P端，还包括降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组；所述连接端子J1、降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组、输出端P端依次连接。本实用新型专利技术能够实现对高压变频器功率单元输出波形的检测，有了检测到的波形后能够与控制算法进行做比较，从而能更好的控制功率单元波形的输出，对提高高压变频器功率单元输出质量和分析功率单元故障提供了一种有利措施。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路
本技术涉及一种检测电路，具体涉及一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路。
技术介绍
组串式高压变频器的功率单元输出波形是由单元内控制板上的控制芯片输出PWM波经过隔离驱动电路后来驱动IGBT桥从而输出PWM形式的高压脉冲波形。由于在隔离驱动电路受到来之于高压直流母线波动或是其它电磁场干扰时，可能造成输出波形紊乱，其波形不是控制芯片所输出的PWM形式波。
技术实现思路
本技术提供了一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，要解决的技术问题是如何对功率单元输出波形进行监控。本技术用来检测功率单元输出波形是否与单元内控制芯片算法输出的PWM形式波一样。本技术通过下述技术方案实现：一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，包括：与功率单元输出端连接的连接端子J1、与控制单元连接的输出端P端，还包括降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组；所述连接端子J1、降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组、输出端P端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，包括：与功率单元输出端连接的连接端子J1、与控制单元连接的输出端P端，还包括降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组；/n所述连接端子J1、降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组、输出端P端依次连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，包括：与功率单元输出端连接的连接端子J1、与控制单元连接的输出端P端，还包括降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组；
所述连接端子J1、降压电阻单元组、光耦导通单元组、斯密特触发器反相器单元组、输出端P端依次连接。


2.根据权利要求1所述的一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，所述降压电阻单元组由多个降压电阻单元组成。


3.根据权利要求2所述的一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，
所述多个降压电阻单元是4个降压电阻单元，具体包括第一降压电阻单元、第二降压电阻单元、第三降压电阻单元、第四降压电阻单元；
所述连接端子J1包括A1端和A2端；
所述输出端P端包括P_H端和P_L端；所述P_H端为与控制单元连接的一端，所述P_L端也为与控制单元连接的一端；
所述光耦导通单元组包括第一光耦导通单元和第二光耦导通单元；
所述斯密特触发器反相器单元组包括第一斯密特触发器反相器单元和第二斯密特触发器反相器单元；
所述连接端子的A1端与第一降压电阻单元连接，第一降压电阻单元与第一光耦导通单元连接，第一光耦导通单元与第一斯密特触发器反相器单元连接，第一斯密特触发器反相器单元与输出端P_H端连接，第二降压电阻单元与第一光耦导通单元连接并接地；
所述连接端子的A2端与第三降压电阻单元连接，第三降压电阻单元与第二光耦导通单元连接，第二光耦导通单元与第二斯密特触发器反相器单元连接，第二斯密特触发器反相器单元与输出端P_L端连接，第四降压电阻单元与第二光耦导通单元连接并接地。


4.根据权利要求3所述的一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，
所述第一降压电阻单元、第二降压电阻单元、第三降压电阻单元、第四降压电阻单元分别由8个两组并联和串联的电阻组成。


5.根据权利要求3所述的一种基于光耦的高压变频器功率单元输出波形检测电路，其特征在于，
所述第一光耦导通单元包括：电容C3、稳压管Z1、线性光耦U1、电容C5、电阻R17、电容C4；
所...

【专利技术属性】
技术研发人员：何鹏，张黎，唐斌，王德武，凌云，
申请(专利权)人：东方日立成都电控设备有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51