测试系统技术方案

本申请公开了一种测试系统，用于测试触控屏幕。该测试系统包括：信号发生器，用于提供可调节的干扰驱动信号；检测装置，用于检测并记录触控屏幕的技术参数；以及测试装置，包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部，电磁发生部与触控屏幕隔开，并与信号发生器连接以接收干扰驱动信号，电磁发生部提供围绕于触控屏幕的电磁干扰环境，其中，测试装置还包括绝缘部，触控屏幕被绝缘部支撑以与地实现电隔离。本实用新型专利技术公开的测试系统避免了其他干扰源对测试结果的影响，因此能够得到精确的测试结果；可以通过设置可调节的干扰驱动信号，在多种电磁干扰环境下得到技术参数变化情况。

【技术实现步骤摘要】
测试系统
本技术属于触控
，更具体地，涉及测试系统。
技术介绍
触控作为一种方便、自然的人机交互方式，在工业、商业、民用以及军事等领域均得到了广泛的应用，例如手机，ATM机等。触控屏幕主要包括电阻式触控屏、电容式触控屏以及红外线式触控屏等，不论是哪一种触控屏幕，其在工作时，都容易受到各种电磁干扰源的影响，例如使电容式触控屏幕的报点率(reportrate)、感应层的频率与驱动层的频率发生变化。典型的电磁干扰源来源于电源线以及其他电力设备等。然而随着触控技术的不断更新、应用的领域不断扩展，如何测量触控屏幕的抗电磁干扰能力还没有统一的测试方法与测试系统。传统的测试抗电磁干扰能力的方法是直接在触控屏幕上方添加同频干扰源，由于该干扰源与触控屏幕的工作频率相同，因此该方法的测试结果能够明显示出触控屏幕的抗电磁干扰能力。上述针对触控屏幕抗电磁干扰能力的测试方法虽然简单易行，但是仍有以下不足：由于没有对触控屏幕所在空间的电磁环境进行设置，因此该方法的测试环境可能存在其他干扰源，导致测试结果不精确；仅采用了相同频率的干扰源，而省略了在其他频率干扰下的测试，因此该传统方法的测试结果不全面，不利于对触控屏幕的性能分析以及对不同触控屏幕之间的性能比较。因此，期望进一步实现对电磁环境和干扰源的控制。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种测试系统，以实现对触控屏幕抗电磁干扰能力测试的电磁环境和干扰源的控制，从而在多种电磁干扰环境中得到精确的测试结果。本技术实施例提供了一种测试系统，包括：信号发生器，用于提供可调节的干扰驱动信号；检测装置，用于检测并记录触控屏幕的技术参数；以及测试装置，包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部，所述电磁发生部与所述触控屏幕隔开，并与所述信号发生器连接以接收所述干扰驱动信号，所述电磁发生部提供围绕于所述触控屏幕的电磁干扰环境，其中，所述测试装置还包括绝缘部，所述触控屏幕被所述绝缘部支撑以与地实现电隔离。在一些实施例中，所述电磁发生部包括导体框架，其根据所述干扰驱动信号对所述触控屏幕产生第一电磁干扰环境。在一些实施例中，所述导体框架的材料是金属、合金或者非金属的导体。在一些实施例中，所述导体框架的形状为长方体框架、正方体框架、棱柱框架、梯台形框架和不规则立体框架中的任一种。在一些实施例中，所述电磁发生部包括：导体面板，其根据所述干扰驱动信号对所述触控屏幕产生第二电磁干扰环境；以及绝缘支架，用于将所述导体面板支撑起一定的高度。在一些实施例中，所述导体面板由金属、合金或者非金属导体构成。在一些实施例中，所述导体面板的表面与所述触控屏幕相邻且平行地设置。在一些实施例中，所述检测装置包括示波器、频谱仪或者频率计。在一些实施例中，所述干扰驱动信号具有可调节的直流电压分量、可调节的交流电压分量以及可调节的频率。在一些实施例中，所述测试系统还包括：屏蔽室，其内腔用于容置所述信号发生器、所述检测装置以及所述测试装置，所述屏蔽室用于屏蔽外部电磁干扰。根据本技术实施例的测试系统，通过调节干扰驱动信号，使不同测试装置产生不同的电磁环境，从而在对触控屏幕进行抗电磁干扰能力测试时实现对触控屏幕的电磁环境和干扰源的控制，同时避免了其他干扰源对测试结果的影响，因此能够在多种电磁干扰环境下得到精确触控屏幕的技术参数变化情况。在优选的实施例中，根据干扰驱动信号直流分量和交流分量的变化方式，可以产生多种干扰驱动信号，其中包括直流分量的电压值等于正常工作电压、交流分量的频率等于正常工作频率的情况，每一种干扰驱动信号利用第一测试装置和第二测试装置分别产生稳定的电磁干扰环境和均匀的面电磁场，触控屏幕的相关技术参数在这些电磁环境下发生变化，从而在多种电磁干扰环境下实现对触控屏幕的抗电磁干扰能力的测试。附图说明通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。图1示出根据本技术第一实施例的第一测试装置的示意性结构图。图2示出根据本技术第一实施例的第二测试装置的示意性结构图。图3示出信号发生器、检测装置与第一测试装置的连接示意图。图4示出信号发生器、检测装置与第二测试装置的连接示意图。图5示出根据本技术第二实施例的触控屏幕抗电磁干扰测试方法的第一项测试的方法流程图。图6示出根据本技术第二实施例的触控屏幕抗电磁干扰测试方法的第二项测试的方法流程图。图7示出根据本技术第二实施例对触控屏幕进行测试时干扰驱动信号随时间变化的一种示例性的波形图。具体实施方式以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。在下文中描述了本技术的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本技术。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本技术。以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。本技术的第一实施例的测试系统包括测试装置、信号发生器50以及检测装置40。测试装置包括电磁发生部和绝缘部(如图1所示的102和2所示的203)，电磁发生部的至少部分由导体材料支撑，例如可以包括第一测试装置100和/或第二测试装置200(如图1和2所示)，绝缘部102/203用于支撑被测的触控屏幕以使触控屏幕与地实现电隔离。在一些实施例中，测试系统还可以包括屏蔽室，信号发生器50、检测装置40以及测试装置均设置在屏蔽室的内腔中，屏蔽室用于屏蔽外部电磁干扰，以保证测试系统输出的测试结果的准确性。图1和图2分别示出根据本技术第一实施例的第一测试装置100和第二测试装置200的示意性结构图，图3示出信号发生器50、检测装置40与第一测试装置100的连接示意图，图4示出信号发生器50、检测装置40与第二测试装置200的连接示意图。如图1所示，第一测试装置100包括导体框架101。绝缘部102(作为测试桩)用于托起触控屏幕10并将触控屏幕10与地隔离。触控屏幕10整体位于导体框架101内部。导体框架101由导体制成，其框架形状不固定，例如为长方体框架、正方体框架、棱柱框架、梯台形框架和不规则立体框架中的任一种。作为一种优选的实施例，导体框架101为正方体框架，其材料例如为铜。绝缘部102由绝缘材料制成，其形状例如为柱体，其高度低于导体框架101的顶部。如图3所示，信号发生器50为导体框架101提供干扰驱动信号Is。检测装置40用于检测并记录触控屏幕10的报点率、驱动层频率以及感应层频率等技术参数的变化。正常工作状态下，触控屏幕本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：/n信号发生器，用于提供可调节的干扰驱动信号；/n检测装置，用于检测并记录触控屏幕的技术参数；以及/n测试装置，包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部，所述电磁发生部与所述触控屏幕隔开，并与所述信号发生器连接以接收所述干扰驱动信号，所述电磁发生部提供围绕于所述触控屏幕的电磁干扰环境，/n其中，所述测试装置还包括绝缘部，所述触控屏幕被所述绝缘部支撑以与地实现电隔离。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：
信号发生器，用于提供可调节的干扰驱动信号；
检测装置，用于检测并记录触控屏幕的技术参数；以及
测试装置，包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部，所述电磁发生部与所述触控屏幕隔开，并与所述信号发生器连接以接收所述干扰驱动信号，所述电磁发生部提供围绕于所述触控屏幕的电磁干扰环境，
其中，所述测试装置还包括绝缘部，所述触控屏幕被所述绝缘部支撑以与地实现电隔离。


2.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述电磁发生部包括导体框架，其根据所述干扰驱动信号对所述触控屏幕产生第一电磁干扰环境。


3.根据权利要求2所述的测试系统，其中，所述导体框架的材料是金属、合金或者非金属的导体。


4.根据权利要求2所述的测试系统，其中，所述导体框架的形状为长方体框架、正方体框架、棱柱框架和梯台形框架中的任一种。


5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：张利达，
申请(专利权)人：北京集创北方科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11